存储器测试系统、方法、装置、芯片及计算机存储介质与流程

本公开涉及存储器，尤其涉及一种存储器测试系统、方法、装置、芯片及计算机存储介质。

背景技术：

1、芯片中设计有大量的存储器，为了确保各个存储器具备设计时的期望功能，需要对存储器进行测试仿真。在对存储器的测试仿真过程中，测试算法的选择至关重要，测试算法用于生产能够检测存储器故障的测试向量。

2、但传统的存储器内建自测试（memory built-in self test，mbist）对存储器的测试仿真，通常采用一种固定的测试算法，生成相对应的测试电路进行仿真测试，但仅采用一种测试算法可能存在对存储器的测试不全面，导致存储器可能存在的故障未被检测出。

技术实现思路

1、本公开提供了一种存储器测试系统、方法、装置、芯片及计算机存储介质；能够在不修改硬件电路的情况下，实现多种算法灵活切换的存储器测试系统。

2、本公开的技术方案是这样实现的：

3、第一方面，本公开提供了一种存储器测试系统，该存储器测试系统包括：控制器，测试访问端口和存储器；该测试访问端口，被配置为接收外部测试设备发送的算法选择指令，并传输至控制器，算法选择指令中包括目标算法标识；该控制器，被配置为根据目标算法标识，确定目标算法标识对应的至少一个待测指令，其中，控制器中预先存储了多个目标算法标识和待测指令集的对应关系；以及，执行至少一个待测指令，以对存储器进行测试。如此，在进行存储器内建自测时，若需要对算法进行切换，控制器能够识别算法选择指令以及确定出切换到的算法对应的至少一个待测指令，因此不需要重新生成硬件电路，使得在对存储器进行测试时能够实现算法的灵活切换，对存储器的测试更全面、测试效率更高。

4、本公开一些实施例中，至少一个待测指令为多个待测指令；控制器，具体被配置为：根据目标算法标识，确定目标算法标识对应的待测指令序列。对于多个待测指令，确定出待测指令的执行顺序，以确保通过待测指令能够准确地检测出存储器的故障，避免多个待测指令执行顺序出错导致的测试报错或者误检测。

5、本公开一些实施例中，控制器，具体被配置为：根据目标算法标识，通过算法状态机，确定目标算法标识对应的待测指令序列。由于在硬件设计中，每一段逻辑实现都需要占用一定的物理空间，因此，通过算法状态机，对于各个算法中相同的待测指令进行复用，可以减少所需的硬件资源，从而降低整体电路的面积。

6、本公开一些实施例中，该存储器测试系统还包括：特殊指令模块，内建自测试访问接口；特殊指令模块，被配置为确定测试访问端口和内建自测试访问接口之间的通道是否接通；测试访问端口，具体被配置为在测试访问端口和内建自测试访问接口之间的通道接通的情况下，将算法选择指令传输至内建自测试访问接口；内建自测试访问接口，被配置为将算法选择指令存储至测试内建自测试访问接口包括的测试数据寄存器中；控制器，具体被配置为基于测试数据寄存器中的算法测试指令的目标算法标识，确定目标算法标识对应的至少一个待测指令。特殊指令模块能够对测试数据进行筛选，仅允许特定的测试数据到达控制器，避免了测试数据需要控制器进行筛选；而内建自测试访问接口可以将接收到的算法选择指令进行存储，当有多个算法选择指令传输至内建自测试访问接口时，测试数据寄存器可以用于管理多个算法选择指令，确保测试按照预定的顺序执行。各个模块共同作用，从而在进行算法切换时，无需重新生成硬件电路，且能够实现使用不同算法对存储器进行测试。

7、第二方面，本公开提供了一种存储器测试方法，芯片包括控制器，测试访问端口和存储器，应用于控制器，该存储器测试方法包括：从测试访问端口接收外部测试设备发送的算法选择指令，算法选择指令中包括目标算法标识；根据目标算法标识，确定目标算法标识对应的至少一个待测指令；执行至少一个待测指令，以对存储器进行测试。

8、本公开一些实施例中，至少一个待测指令为多个待测指令；根据目标算法标识，确定目标算法标识对应的至少一个待测指令，包括：根据目标算法标识，确定目标算法标识对应的待测指令序列。

9、本公开一些实施例中，根据目标算法标识，确定目标算法标识对应的待测指令序列，包括：根据目标算法标识，通过算法状态机，确定目标算法标识对应的待测指令序列。

10、第三方面，本公开提供了一种存储器测试装置，该存储器测试装置包括：接收模块，确定模块和执行模块； 接收模块，被配置为从测试访问端口接收外部测试设备发送的算法选择指令，算法选择指令中包括目标算法标识；确定模块，被配置为根据目标算法标识，确定目标算法标识对应的至少一个待测指令；执行模块，被配置为执行至少一个待测指令，以对存储器进行测试。

11、第四方面，本公开提供了一种芯片，该芯片包括第一方面所述的存储器测试系统。

12、第五方面，本公开提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储程序或指令，该程序或指令被处理器执行时实现如第二方面所述的存储器测试方法的步骤。

13、第六方面，本公开提供了一种计算机程序产品，其中，该计算机程序产品包括计算机程序或指令，当该计算机程序产品在处理器上运行时，使得处理器执行该计算机程序或指令，实现如第二方面所述的存储器测试方法的步骤。

14、本公开提供了一种存储器测试系统，该存储器测试系统包括：控制器，测试访问端口和存储器；该测试访问端口，被配置为接收外部测试设备发送的算法选择指令，并传输至控制器，算法选择指令中包括目标算法标识；该控制器，被配置为根据目标算法标识，确定目标算法标识对应的至少一个待测指令；以及，执行至少一个待测指令，以对存储器进行测试。如此，在进行存储器内建自测时，若需要对算法进行切换，控制器能够识别算法选择指令以及确定出切换到的算法对应的至少一个待测指令，因此不需要重新生成硬件电路，使得在对存储器进行测试时能够实现算法的灵活切换，对存储器的测试更全面、测试效率更高。

技术特征：

1.一种存储器测试系统，其特征在于，所述系统包括：控制器，测试访问端口和存储器；

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述至少一个待测指令为多个待测指令；

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述控制器，具体被配置为：根据所述目标算法标识，通过算法状态机，确定所述目标算法标识对应的待测指令序列。

4.根据权利要求1至3任一项所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：特殊指令模块，内建自测试访问接口；

5.一种存储器测试方法，其特征在于，芯片包括控制器，测试访问端口和存储器，所述方法应用于控制器，所述方法包括：

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述至少一个待测指令为多个待测指令；所述根据所述目标算法标识，确定所述目标算法标识对应的至少一个待测指令，包括：

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标算法标识，确定所述目标算法标识对应的待测指令序列，包括：

8.一种存储器测试装置，其特征在于，所述装置包括：接收模块，确定模块和执行模块；

9.一种芯片，其特征在于，包括如权利要求1至4任一项所述的系统。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现如权利要求5至7中任一项所述的存储器测试方法的步骤。

技术总结本公开提供了一种存储器测试系统、方法、装置、芯片及计算机存储介质，属于存储器技术领域。该系统包括：控制器，测试访问端口和存储器；该测试访问端口，被配置为接收外部测试设备发送的算法选择指令，并传输至控制器，算法选择指令中包括目标算法标识；该控制器，被配置为根据目标算法标识，确定目标算法标识对应的至少一个待测指令，其中，控制器中预先存储了多个目标算法标识和待测指令集的对应关系，以及，执行至少一个待测指令，以对存储器进行测试。能够在不修改硬件电路的情况下，实现多种算法灵活切换的存储器测试系统。技术研发人员：于福振,张飞飞,白文可,李慧馨,杨延光受保护的技术使用者：西安简矽技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/15