刷新电路检测方法及设备与流程

本公开涉及半导体，尤其涉及一种刷新电路检测方法及设备。

背景技术：

1、由于存储器将数据存储在电容器中，因此其很大的一个特性就是需要不停的在限定时间内将所有数据刷新一遍，以防止数据丢失，控制这些刷新动作的电路就是刷新电路。

2、在现有技术中，控制器会根据标准规定，间歇性的发送刷新指令，由于在不同情况下，将所有数据线刷新一遍所要求的时间各不相同，因此，为了在不同情况下可以将所有数据线刷新一遍，就需要存储器能根据不同情况改变每次刷新的数据线的根数。

3、然而，如何检测刷新电路每次刷新的数据线的根数与位置是否符合预期，是目前亟需解决的技术问题。

技术实现思路

1、本公开提供了一种刷新电路检测方法及设备，可以准确检测出刷新电路每次刷新数据线的根数及相对位置是否符合预期，有助于提升刷新电路的刷新准确率。

2、第一方面，本公开实施例提供了一种刷新电路检测方法，应用于存储器，所述存储器包括多个存储块，每个所述存储块包括多个数据线分组，每个所述数据线分组中包括多根数据线，所述方法包括：

3、确定预期刷新方案，所述预期刷新方案包括每个所述存储块每次刷新的数据线的第一根数，以及每个所述存储块每次刷新时访问的数据线分组的数量；

4、接收刷新指令，监测每个所述存储块中的每个数据线分组每次刷新的数据线的第二根数，以及每个所述存储块中的每个数据线分组在最近的k次刷新中被访问的数据线的地址；其中，k为大于或等于3的整数；

5、根据所述第二根数与所述地址，确定所述刷新电路每次刷新的结果是否符合所述预期刷新方案。

6、在一些实施例中，所述确定预期刷新方案，包括：

7、根据所述存储器当前的工作温度与配置信息，确定所述预期刷新方案；其中，所述预期刷新方案包括每个所述存储块每次刷新的数据线的第一根数n，以及每个所述存储块每次刷新时访问的数据线分组的数量m；其中，所述n与所述m均为正整数，且所述n为所述m的整数倍。

8、在一些实施例中，所述根据所述第二根数与所述地址，确定所述刷新电路每次刷新的结果是否符合所述预期刷新方案，包括：

9、判断每个所述存储块中被访问的每个数据线分组最近一次刷新的数据线的第二根数n是否满足以下条件：n＝n/m；

10、当所述第二根数n满足所述条件时，判断同一个被访问所述数据线分组在最近的k次刷新中被访问的数据线的地址是否一致；

11、若每个被访问所述数据线分组在最近的k次刷新中被访问的数据线的地址不一致，则确定所述刷新电路最近一次刷新的结果符合所述预期刷新方案。

12、在一些实施例中，所述监测每个所述存储块中的每个数据线分组每次刷新的数据线的第二根数，以及每个所述存储块中的每个数据线分组在最近的k次刷新中被访问的数据线的地址，包括：

13、监测所述存储器中除目标数据线分组之外，剩余数据线分组每次刷新的数据线的第二根数，以及所述剩余数据线分组在最近的k次刷新中被访问的数据线的地址。

14、在一些实施例中，所述目标数据线分组为所述存储块中存在处于active状态的数据线的数据线分组；

15、或者，所述目标数据线分组为所述存储块中存在处于行锤击刷新(row hammerrefresh，rhr)状态的数据线的数据线分组。

16、在一些实施例中，所述目标数据线分组为所述存储块中存在掩码(mask)标记的数据线分组。

17、第二方面，本公开实施例提供了一种刷新电路检测装置，应用于存储器，所述存储器包括多个存储块，每个所述存储块包括多个数据线分组，每个所述数据线分组中包括多根数据线，所述装置包括：

18、确定模块，用于确定预期刷新方案，所述预期刷新方案包括每个所述存储块每次刷新的数据线的第一根数，以及每个所述存储块每次刷新时访问的数据线分组的数量；

19、刷新模块，用于接收刷新指令，监测每个所述存储块中的每个数据线分组每次刷新的数据线的第二根数，以及每个所述存储块中的每个数据线分组在最近的k次刷新中被访问的数据线的地址；其中，k为大于或等于3的整数；

20、判断模块，用于根据所述第二根数与所述地址，确定所述刷新电路每次刷新的结果是否符合所述预期刷新方案。

21、在一些实施例中，所述确定模块具体用于：

22、根据所述存储器当前的工作温度与配置信息，确定所述预期刷新方案；其中，所述预期刷新方案包括每个所述存储块每次刷新的数据线的第一根数n，以及每个所述存储块每次刷新时访问的数据线分组的数量m；其中，所述n与所述m均为正整数，且所述n为所述m的整数倍。

23、在一些实施例中，所述判断模块具体用于：

24、判断每个所述存储块中被访问的每个数据线分组最近一次刷新的数据线的第二根数n是否满足以下条件：n＝n/m；

25、当所述第二根数n满足所述条件时，判断同一个被访问所述数据线分组在最近的k次刷新中被访问的数据线的地址是否一致；

26、若每个被访问所述数据线分组在最近的k次刷新中被访问的数据线的地址不一致，则确定所述刷新电路最近一次刷新的结果符合所述预期刷新方案。

27、在一些实施例中，所述刷新模块用于：

28、监测所述存储器中除目标数据线分组之外，剩余数据线分组每次刷新的数据线的第二根数，以及所述剩余数据线分组在最近的k次刷新中被访问的数据线的地址。

29、在一些实施例中，所述目标数据线分组为所述存储块中存在处于active状态的数据线的数据线分组；

30、或者，所述目标数据线分组为所述存储块中存在处于rhr状态的数据线的数据线分组。

31、在一些实施例中，所述目标数据线分组为所述存储块中存在mask标记的数据线分组。

32、第三方面，本公开实施例提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器和存储器；

33、所述存储器存储计算机执行指令；

34、所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令，使得所述至少一个处理器执行如第一方面提供的刷新电路检测方法。

35、第四方面，本公开实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，当计算机执行所述计算机执行指令时，实现如第一方面提供的刷新电路检测方法。

36、第五方面，本公开实施例提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被计算机执行时，实现第一方面提供的刷新电路检测方法。

37、本公开实施例提供的刷新电路检测方法及设备，通过监测每个存储块中的每个数据线分组每次刷新的数据线的根数，以及每个存储块中的每个数据线分组在最近的k次刷新中被访问的数据线的地址，可以准确判断出刷新电路每次刷新数据线的根数及相对位置是否符合预期，从而有助于提升刷新电路的刷新准确率。

技术特征：

1.一种刷新电路检测方法，其特征在于，应用于存储器，所述存储器包括多个存储块，每个所述存储块包括多个数据线分组，每个所述数据线分组中包括多根数据线，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定预期刷新方案，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二根数与所述地址，确定所述刷新电路每次刷新的结果是否符合所述预期刷新方案，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述监测每个所述存储块中的每个数据线分组每次刷新的数据线的第二根数，以及每个所述存储块中的每个数据线分组在最近的k次刷新中被访问的数据线的地址，包括：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述目标数据线分组为所述存储块中存在处于激活状态的数据线的数据线分组；

6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述目标数据线分组为所述存储块中存在掩码标记的数据线分组。

7.一种刷新电路检测装置，其特征在于，应用于存储器，所述存储器包括多个存储块，每个所述存储块包括多个数据线分组，每个所述数据线分组中包括多根数据线，所述装置包括：

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述确定模块具体用于：

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述判断模块具体用于：

10.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述刷新模块用于：

11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述目标数据线分组为所述存储块中存在处于激活状态的数据线的数据线分组；

12.根据权利要求10或11所述的装置，其特征在于，所述目标数据线分组为所述存储块中存在掩码标记的数据线分组。

13.一种电子设备，其特征在于，包括：至少一个处理器和存储器；

14.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，当计算机执行所述计算机执行指令时，实现如权利要求1至6任一项所述的刷新电路检测方法。

15.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被计算机执行时，实现权利要求1至6任一项所述的刷新电路检测方法。

技术总结本公开提供了一种刷新电路检测方法及设备，涉及半导体技术领域，应用于存储器，该存储器包括多个存储块，各存储块包括多个数据线分组，各数据线分组中包括多根数据线，上述方法包括：确定预期刷新方案，该预期刷新方案包括各存储块每次刷新的数据线的第一根数，以及各存储块每次刷新时访问的数据线分组的数量；接收刷新指令，监测各存储块中的每个数据线分组每次刷新的数据线的第二根数，以及各存储块中的每个数据线分组在最近的K次刷新中被访问的数据线的地址；根据所述第二根数与地址，确定刷新电路每次刷新的结果是否符合预期刷新方案。本公开可以准确检测出刷新电路每次刷新数据线的根数及相对位置是否符合预期，提升刷新电路的刷新准确率。技术研发人员：史腾受保护的技术使用者：长鑫存储技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/18