一种解码电路的测试方法、装置及存储介质与流程

本公开涉及半导体，尤其涉及一种解码电路的测试方法、装置及存储介质。

背景技术：

1、相关技术中，动态随机存储器(dynamic random access memory，dram)中存在多种漏洞，如行锤击(row hammer)等。基于此，设计者会采取各种安全保护方案来避免攻击者利用漏洞破坏系统的使用，如：在安全保护机制下，通过对被攻击行进行解码，以对动态随机存储器的存储单元进行识别保护。但目前，针对行锤击的相关测试没有涉及验证对保护机制对应的解码电路相关的测试。

技术实现思路

1、以下是对本公开详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。

2、本公开提供一种解码电路的测试方法、装置及存储介质。

3、本公开的第一方面提供一种解码电路的测试方法，该测试方法包括：

4、对存储单元的字线按照预设规则执行刷新测试指令，所述刷新测试指令包括行刷新测试指令和行保护机制刷新测试指令；

5、获取与所述刷新测试指令相关的解码电路的解码信息；

6、根据所述解码信息，确定所述解码电路的状态。

7、根据本公开的一些示例性实施例，所述字线包括第一字线和第二字线；所述测试方法还包括：

8、在关闭所述第一字线后，按照所述预设规则执行所述刷新测试指令；

9、对所述第二字线执行激活测试指令。

10、根据本公开的一些示例性实施例，所述测试方法还包括：

11、在执行所述行保护机制刷新测试指令后，执行激活所述第二字线的测试指令。

12、根据本公开的一些示例性实施例，所述按照所述预设规则执行所述刷新测试指令，包括：

13、在执行第一预设次数的所述行刷新测试指令后，执行所述行保护机制刷新测试指令。

14、根据本公开的一些示例性实施例，获取与所述刷新测试指令相关的解码电路的解码信息；根据所述解码信息，确定所述解码电路的状态包括：

15、在所述行保护机制刷新测试指令后，获取行保护机制刷新电路对应的第一解码单元的第一解码信息；

16、在激活所述第二字线的测试指令后，获取所述第二字线对应的第二解码单元的第二解码信息；

17、根据所述第一解码信息和所述第二解码信息，确定所述第一解码单元和/或所述第二解码单元的状态。

18、根据本公开的一些示例性实施例，所述测试方法还包括：

19、在执行所述行保护机制刷新测试指令前，执行激活所述第一字线的测试指令。

20、根据本公开的一些示例性实施例，所述执行所述刷新测试指令，包括：

21、在执行所述行保护机制刷新测试指令后，执行第二预设次数的所述行刷新测试指令。

22、根据本公开的一些示例性实施例，获取所述字线对应的解码电路的解码信息；根据所述解码信息，确定所述解码电路的状态包括：

23、在激活所述第一字线的测试指令后，获取所述第一字线对应的第三解码单元的第三解码信息；

24、在所述行保护机制刷新测试指令后，获取行保护机制刷新电路对应的第一解码单元的第一解码信息；

25、根据所述第三解码信息和所述第一解码信息，确定所述第三解码单元和/或第一解码单元的状态。

26、根据本公开的一些示例性实施例，当所述刷新测试指令访问预设电路时，所述按照预设规则执行刷新测试指令，包括：

27、在所述行保护机制刷新测试指令之前，执行所述行刷新测试指令；或者

28、在所述行保护机制刷新测试指令之后，执行所述行刷新测试指令。

29、根据本公开的一些示例性实施例，所述获取与刷新测试指令相关的解码电路的解码信息；根据所述解码信息，确定所述解码电路的状态包括，包括：

30、获取所述行保护机制刷新电路对应的第一解码单元的第一解码信息；

31、获取所述行刷新电路对应的第四解码单元的第四解码信息；

32、根据所述第一解码信息和所述第四解码信息，确定所述第一解码单元和/或所述第四解码单元状态。

33、根据本公开的一些示例性实施例，所述预设电路包括感应放大电路。

34、根据本公开的一些示例性实施例，所述测试方法还包括：

35、对所述第一字线执行第三预设次数的预设测试指令，以触发所述刷新测试指令。

36、根据本公开的一些示例性实施例，所述预设测试指令包括：激活所述第一字线激活、关闭所述第一字线和行刷新测试指令。

37、根据本公开的一些示例性实施例，所述方法还包括：

38、将所述第二字线对应的第二解码单元的第二解码信息的预设位取反；

39、将其他字线对应的解码单元的解码信息的对应的预设位取反；

40、将其他字线对应的解码单元的解码信息的对应的预设位取反后的值与所述第二解码信息的预设位取反后的值不同的字线，作为所述第一字线。

41、本公开的第二方面提供一种解码电路的测试装置，所述测试装置包括：

42、执行模块，被配置为按照预设规则对存储单元字线执行刷新测试指令，所述刷新测试指令包括行刷新测试指令和行保护机制刷新测试指令；

43、获取模块，被配置为获取与所述刷新测试指令相关的解码电路的解码信息；

44、确定模块，被配置为根据所述解码信息，确定所述解码电路的状态。

45、根据本公开的一些示例性实施例，所述字线包括第一字线和第二字线；所述执行模块被配置为：

46、在关闭所述第一字线后，按照所述预设规则执行所述刷新测试指令；

47、对所述第二字线执行激活测试指令。

48、根据本公开的一些示例性实施例，所述执行模块被配置为：

49、在执行所述行保护机制刷新测试指令后，执行激活所述第二字线的测试指令。

50、根据本公开的一些示例性实施例，所述执行模块被配置为：

51、在执行第一预设次数的所述行刷新测试指令后，执行所述行保护机制刷新测试指令。

52、根据本公开的一些示例性实施例，所述获取模块和所述确定模块被配置为：

53、在所述行保护机制刷新测试指令后，获取行保护机制刷新电路对应的第一解码单元的第一解码信息；

54、在激活所述第二字线的测试指令后，获取所述第二字线对应的第二解码单元的第二解码信息；

55、根据所述第一解码信息和所述第二解码信息，确定所述第一解码单元和/或所述第二解码单元的状态。

56、根据本公开的一些示例性实施例，所述执行模块被配置为：

57、在执行所述行保护机制刷新测试指令前，执行激活所述第一字线的测试指令。

58、根据本公开的一些示例性实施例，所述执行模块被配置为：

59、在执行所述行保护机制刷新测试指令后，执行第二预设次数的所述行刷新测试指令。

60、根据本公开的一些示例性实施例，所述获取模块和所述确定模块被配置为：

61、在激活所述第一字线的测试指令后，获取所述第一字线对应的第三解码单元的第三解码信息；

62、在所述行保护机制刷新测试指令后，获取行保护机制刷新电路对应的第一解码单元的第一解码信息；

63、根据所述第三解码信息和所述第一解码信息，确定所述第三解码单元和/或第一解码单元的状态。

64、根据本公开的一些示例性实施例，当所述刷新测试指令访问预设电路时，所述执行模块被配置为：

65、在所述行保护机制刷新测试指令之前，执行所述行刷新测试指令；或者

66、在所述行保护机制刷新测试指令之后，执行所述行刷新测试指令。

67、根据本公开的一些示例性实施例，所述获取模块和所述确定模块被配置为：

68、获取所述行保护机制刷新电路对应的第一解码单元的第一解码信息；

69、获取所述行刷新电路对应的第四解码单元的第四解码信息；

70、根据所述第一解码信息和所述第四解码信息，确定所述第一解码单元和/或所述第四解码单元状态。

71、根据本公开的一些示例性实施例，所述预设电路包括感应放大电路。

72、根据本公开的一些示例性实施例，所述执行模块被配置为：

73、对所述第一字线执行第三预设次数的预设测试指令，以触发所述刷新测试指令。

74、根据本公开的一些示例性实施例，所述预设测试指令包括：激活所述第一字线、关闭所述第一字线和行刷新测试指令。

75、根据本公开的一些示例性实施例，所述测试装置还包括第一字线确定模块，被配置为：

76、将所述第二字线对应的第二解码单元的第二解码信息的预设位取反；

77、将其他字线对应的解码单元的解码信息的对应的预设位取反；

78、将其他字线对应的解码单元的解码信息的对应的预设位取反后的值与所述第二解码信息的预设位取反后的值不同的字线，作为所述第一字线。

79、本公开的第三方面提供一种解码电路的测试装置，所述测试装置包括：

80、处理器；

81、用于存储处理器可执行指令的存储器；

82、其中，所述处理器被配置为执行根据本公开示例性实施例所提供的测试方法。

83、本公开的第四方面提供一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由测试装置的处理器执行时，使得测试装置能够执行根据本公开示例性实施例所提供的测试方法。

84、本公开实施例所提供的解码电路的测试方法，通过确定执行包括安全保护机制的刷新测试指令后对应的解码电路的状态，进而确定解码电路存在异常的解码单元，为后续对安全保护机制的优化提供了依据，从而提高保护机制本身的可靠性，提升动态随机存储器等产品的安全性能。

85、在阅读并理解了附图和详细描述后，可以明白其他方面。