一种MCU工作模式下进入测试模式的方法与流程

本发明涉及芯片测试，尤其涉及一种mcu工作模式下进入测试模式的方法。

背景技术：

1、现有mcu可以在芯片进入工作模式之前进入测试模式来进行烧录和调试，但是在芯片进入工作模式之后，进入测试模式的入口会被关闭，无法进入测试模式；

2、当使用mcu的产品完成后，因为进入工作模式后无法进入测试模式，如果需要更新芯片中的程序需要将芯片从电路板上拆除然后再通过上位机进行烧录从而去修改程序，会导致更新程序十分的繁琐且无法很方便的更新使用者手中已经在使用的产品，因此具有待改进的空间。

技术实现思路

1、本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种mcu工作模式下进入测试模式的方法。其优点在于省去拆除芯片重新烧录的麻烦，而且旧产品可以通过在线的方式更新程序，已经拥有产品的用户也可以便捷的更新自己手中的成品。

2、为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

3、一种mcu工作模式下进入测试模式的方法，包括以下步骤：

4、步骤一：当mcu在工作模式或sleep模式下，升高vdd令vcc_in发送一个高电平，mcu检测到高电平进入vcc电平变化中断，间隔时间后vcc发送一个低电平，高低电平组成进入带电模式命令的start位；

5、步骤二：通过vcc高低变化发送进入带电测试模式命令，vcc电平状态保持500ns到1us后改变，则会将改变前的vcc电平状态锁存到带电测试模式命令寄存器中，若vcc状态保持过长或过短将退出带电模式命令状态；

6、步骤三：利用移位寄存器，锁存32’h5a5a55aa后，debug_req置起，进入测试模式，可以进行烧录或测试模式操作；若连续锁存三个vcc_in低电平或三个高电平，或命令输入错误，则会退出带电测试模式命令输入，需要重新发送start信号；

7、步骤四：当测试模式下，与测试模式相关的io将自动切换为数字输入/输出模式，为实现通过外部灌入指令的方法操作cpu指令和对存储器的读写；发送退出测试模式命令后，可以退出测试模式，退出后整个系统进行复位，重新加载otpion后重新进入工作模式。

8、本发明进一步设置为，所述mcu由数字电路和模拟电路组成，所述模拟电路包括adc模块、dac模块、osc模块、ldo模块、vbg模块、rst模块和io模块，用以实现各种不同的模拟信号产生或处理的功能。

9、本发明进一步设置为，所述数字电路和模拟电路中加入检测充电电压和电池电压vmax模块，电池电压vmax模块将两电压的比较结果通过vcc_in信号输出给mcu的数字部分。

10、本发明进一步设置为，所述mcu中包含若干io port模块，若干io port模块会连接向芯片内部所需要的位置，也会通过封装引线连接到芯片外部的引脚至上。

11、本发明进一步设置为，所述mcu支持电池供电(vcc)模式和电源供电(vdd)模式。

12、本发明进一步设置为，所述电池电压vmax模块用于比较电池供电和电源供电两者的电压大小，当vdd>vcc，vcc_in会输出高电平；当vdd<vcc时，vcc_in会输出低电平。

13、本发明进一步设置为，所述电源供电(vdd)用于通过vcc_in向mcu发送数字序列，当mcu接收到特定的序列，则进入测试模式。

14、本发明进一步设置为，所述电池供电(vcc)和电源供电(vdd)在不同的模式会给mcu发送代表不同供电模式的控制信号vcc_in；当vcc_in高电平代表处于电源供电，vcc_in低电平代表处于电池供电。

15、本发明的有益效果为：

16、1.该mcu工作模式下进入测试模式的方法，采用了这种方式的mcu，可以直接通过芯片的充电数据线通过更新固件的方式直接重新烧录程序，省去拆除芯片重新烧录的麻烦，而且旧产品可以通过在线的方式更新程序，已经拥有产品的用户也可以便捷的更新自己手中的成品；

17、2.该mcu工作模式下进入测试模式的方法，在mcu工作模式下，vcc_in序列输入后，对应测试的io可以进入输入测试命令的状态，可以借助此io进行程序的烧录；而vcc_in的序列要求也决定了误操作从功能模式进入测试模式的概率很低，可以保证功能模式的正常工作。

技术特征：

1.一种mcu工作模式下进入测试模式的方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种mcu工作模式下进入测试模式的方法，其特征在于，所述mcu由数字电路和模拟电路组成，所述模拟电路包括adc模块、dac模块、osc模块、ldo模块、vbg模块、rst模块和io模块，用以实现各种不同的模拟信号产生或处理的功能。

3.根据权利要求2所述的一种mcu工作模式下进入测试模式的方法，其特征在于，所述数字电路和模拟电路中加入检测充电电压和电池电压vmax模块，电池电压vmax模块将两电压的比较结果通过vcc_in信号输出给mcu的数字部分。

4.根据权利要求3所述的一种mcu工作模式下进入测试模式的方法，其特征在于，所述mcu中包含若干io port模块，若干io port模块会连接向芯片内部所需要的位置，也会通过封装引线连接到芯片外部的引脚至上。

5.根据权利要求1所述的一种mcu工作模式下进入测试模式的方法，其特征在于，所述mcu支持电池供电(vcc)模式和电源供电(vdd)模式。

6.根据权利要求3所述的一种mcu工作模式下进入测试模式的方法，其特征在于，所述电池电压vmax模块用于比较电池供电和电源供电两者的电压大小，当vdd>vcc，vcc_in会输出高电平；当vdd<vcc时，vcc_in会输出低电平。

7.根据权利要求6所述的一种mcu工作模式下进入测试模式的方法，其特征在于，所述电源供电(vdd)用于通过vcc_in向mcu发送数字序列，当mcu接收到特定的序列，则进入测试模式。

8.根据权利要求7所述的一种mcu工作模式下进入测试模式的方法，其特征在于，所述电池供电(vcc)和电源供电(vdd)在不同的模式会给mcu发送代表不同供电模式的控制信号vcc_in；当vcc_in高电平代表处于电源供电，vcc_in低电平代表处于电池供电。

技术总结本发明公开了一种MCU工作模式下进入测试模式的方法，涉及芯片测试技术领域，包括以下步骤：当MCU在工作模式或sleep模式下，升高VDD令VCC_IN发送一个高电平，MCU检测到高电平进入VCC电平变化中断，间隔时间后VCC发送一个低电平，高低电平组成进入带电模式命令的START位；通过VCC高低变化发送进入带电测试模式命令，VCC电平状态保持500ns到1us后改变，则会将改变前的VCC电平状态锁存到带电测试模式命令寄存器中。本发明可以直接通过芯片的充电数据线通过更新固件的方式直接重新烧录程序，省去拆除芯片重新烧录的麻烦，而且旧产品可以通过在线的方式更新程序，已经拥有产品的用户也可以便捷的更新自己手中的成品。技术研发人员：张兵,马洋,白宇松受保护的技术使用者：上海芯圣电子股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/9/2