控制方法和测色装置与流程

本发明涉及控制方法和测色装置。

背景技术：

1、以往，使用了对测色对象物进行测色的各种测色装置。例如，在专利文献1中公开了安装有对被测定物进行测色的测色计的自动测色装置。专利文献1的自动测色装置是作为测色部的测色计以相对于作为测色对象物的被测定物不接触的状态进行测色的测色装置。

2、专利文献1：日本特开2016-212001号公报

3、在专利文献1的自动测色装置那样的测色部以相对于测色对象物不接触的状态进行测色的测色装置中，外光从测色部与测色对象物的间隙进入，测色精度有可能下降。因此，考虑使用具有在与测色对象物接触的状态下对测色对象物进行测色的测色部的测色器。但是，在这种构成的测色装置中，由于测色器的制造公差的偏差等，若测色器相对于测色对象物浮起等测色器相对于测色对象物的高度从所期望的高度偏离，则测色精度有时也会下降。另外，例如在能对形成于测色对象物的多个块进行测色的测色装置中，若为了抑制测色对象物与测色部的接触而在使测色器在多个块间移动时延长测色对象物与测色部的分开距离，则测色时间有可能增加。需要说明的是，在专利文献1中，没有与测色计的高度方向调整相关的具体结构的记载。

技术实现思路

1、用于解决上述问题的本发明的控制方法是测色装置的控制方法，所述测色装置具备：支承台，支承测色对象物；测色器，具有在与所述测色对象物接触的状态下对所述测色对象物进行测色的测色部；滑架，支承所述测色器；以及扫描机构部，在所述支承台上扫描所述滑架，所述测色装置的控制方法的特征在于，包括：测色工序，通过使所述滑架从所述测色对象物向高度方向移动，在所述高度方向上所述滑架与所述测色对象物的间隔不同的多个位置处由所述测色部进行测色；以及算出工序，基于所述测色工序中的测色结果，算出用于确定所述滑架在所述高度方向上的设定位置的调整值。

2、另外，用于解决上述问题的本发明测色装置的特征在于，具备：支承台，支承测色对象物；测色器，具有在与所述测色对象物接触的状态下对所述测色对象物进行测色的测色部；滑架，支承所述测色器；扫描机构部，在所述支承台上扫描所述滑架；以及控制部，控制所述测色器、所述滑架和所述扫描机构部，所述控制部通过使所述滑架从所述测色对象物向高度方向移动，在所述高度方向上所述滑架与所述测色对象物的间隔不同的多个位置处由所述测色部进行测色，基于所述测色部的测色结果，算出用于确定所述滑架在所述高度方向上的设定位置的调整值。

技术特征：

1.一种控制方法，其特征在于，是测色装置的控制方法，所述测色装置具备：

2.根据权利要求1所述的控制方法，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的控制方法，其特征在于，

4.根据权利要求1所述的控制方法，其特征在于，

5.根据权利要求1所述的控制方法，其特征在于，

6.根据权利要求1至5中任一项所述的控制方法，其特征在于，

7.根据权利要求6所述的控制方法，其特征在于，

8.根据权利要求1至5中任一项所述的控制方法，其特征在于，

9.根据权利要求1至5中任一项所述的控制方法，其特征在于，

10.一种测色装置，其特征在于，包括：

技术总结本发明涉及控制方法和测色装置。在测色装置(1)的控制方法中，测色装置(1)具备：支承台(41)，支承测色对象物(10)；测色器(100)，具有在与测色对象物(10)接触的状态下对测色对象物(10)进行测色的测色部(122)；滑架(30)，支承测色器(100)；以及扫描机构部(20)，在支承台(41)上扫描滑架(30)，测色装置(1)的控制方法的特征在于，包括：测色工序，通过使滑架从测色对象物向高度方向移动，使测色部从测色部与测色对象物接触的状态从测色对象物分开，在高度方向上滑架与测色对象物的间隔不同的多个位置处由测色部进行测色；以及算出工序，基于测色工序中的测色结果，算出用于确定高度方向上的滑架的设定位置的调整值。技术研发人员：宫川正好,森山雅英,林彻受保护的技术使用者：精工爱普生株式会社技术研发日：技术公布日：2024/9/12