测距装置和测距方法与流程

本公开内容涉及距离测量装置和距离测量方法。

背景技术：

1、近年来，通过飞行时间(tof)方法测量距离的距离图像传感器(在下文中被称为tof传感器)备受关注。例如，存在通过使用互补金属氧化物半导体(cmos)半导体集成电路技术制造并且通过使用以平面方式布置的多个光接收元件来测量到对象的距离的tof传感器。

2、tof传感器包括直接型tof传感器和间接型tof传感器。例如，在直接型tof传感器(在下文中也被称为dtof传感器)中，从光源发射光时到其反射光(在下文中也被称为回波)入射到spad上时的时间(在下文中被称为飞行时间)作为物理量被测量多次，并且基于从测量结果生成的物理量的直方图识别到对象的距离。

3、引文列表

4、专利文献

5、专利文献1：jp 2021-128084 a

6、专利文献2：jp 2004-271291 a

7、专利文献3：jp h8-287736a

技术实现思路

1、技术问题

2、然而，在将由对象反射的光作为物理量进行测量的距离测量方法中，当视角中存在具有高反射率的对象时，无论光源存在还是不存在，都可能由于来自对象的反射光而发生光斑。在这种情况下，无法识别对象的真实边界位置，这可能降低距离测量准确度。

3、因此，本公开内容提出了能够抑制距离测量准确度的降低的距离测量装置和距离测量方法。

4、问题的解决方案

5、为了解决上述问题，根据本公开内容的一个实施方式的距离测量装置包括：距离测量部，该距离测量部针对包括至少在第一方向上布置的多个像素的带状区域中的每个带状区域，测量指示到在距离测量范围内的对象的距离的深度信息，该距离测量范围在第一方向和与第一方向垂直的第二方向上扩展；以及计算部，该计算部基于针对带状区域中的每个带状区域测量的像素中的每个像素的深度信息，生成距离测量范围的深度图像；其中，在第一方向上相邻的带状区域之间的边界的位置在第一方向上延伸并且在第二方向上布置的多个像素线之间是不同的，并且计算部在多个像素线中，基于夹着由在第一方向上相邻的两个带状区域形成的边界的两个像素中的一个像素的像素值，校正与包括所述两个带状区域的像素线不同的像素线中的像素的像素值。

技术特征：

1.一种距离测量装置，包括：

2.根据权利要求1所述的距离测量装置，

3.根据权利要求2所述的距离测量装置，

4.根据权利要求3所述的距离测量装置，

5.根据权利要求3所述的距离测量装置，

6.根据权利要求1所述的距离测量装置，

7.根据权利要求6所述的距离测量装置，

8.根据权利要求7所述的距离测量装置，

9.根据权利要求7所述的距离测量装置，

10.根据权利要求7所述的距离测量装置，

11.根据权利要求6所述的距离测量装置，

12.根据权利要求1所述的距离测量装置，

13.一种距离测量方法，包括：

技术总结本公开内容提出了能够抑制测距准确度的劣化的测距装置。根据实施方式的测距装置包括：测距单元(13，14，11)，用于针对设置有至少在第一方向上布置的多个像素的每个带状区域(142)，测量表示到存在于测距区域(AR)中的对象(90)的距离的深度信息，该测距区域(AR)在第一方向和与第一方向垂直的第二方向上延伸；以及计算单元(15)，用于基于针对每个带状区域(142)测量的每个像素的深度信息来生成测距区域(AR)的深度图像。在第一方向上彼此相邻的带状区域(142)之间的边界的位置在第一方向上延伸并在第二方向上布置的多个像素线之间不同，并且在多个像素线中，基于夹着由在第一方向上彼此相邻的两个带状区域(142)形成的边界的两个像素之中的一个像素的像素值，计算单元(15)校正另一个像素线中的像素的像素值。技术研发人员：西智裕,横川昌俊,樱井裕大受保护的技术使用者：索尼集团公司技术研发日：技术公布日：2024/9/17