一种磁簧开关缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质与流程

本发明涉及磁簧开关测试，尤其涉及一种磁簧开关缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、现有技术中已经公开的一些磁簧开关产品，其结构一般包括底座、动触片、静触片、定触片以及动触片簧片。其中底座与定触片固定相连，动触片的一端与动触片簧片的一端固定后组成动触件设置于所述底座和定触片之间；动触片簧片的另一端设置在所述静触片与底座之间，静触片固定在所述定触片上。上述专利中，所述定触片和静触片均固定在底座上。实际应用中，静触片需要与外部导线连接，需要设计一个插件，插设在静触片上，进而连接外部的导线。

2、当磁簧开关应用有电磁干扰的环境时，其工作状态会因为电磁干扰的影响而受到影响，进而影响正常的开关工作。上述两篇专利公开的磁簧开关，均采用塑料材料制作的插件。该材料属于高分子材料，其热膨胀系数（dte）处于10-5/k 的范围内，同时，磁簧开关内部各零部件一般采用的金属及其合金材料制备，其热膨胀系数为（dte）10-6/k。磁簧开关工作时的工作温度为20-30℃，在低温下，磁簧开关内部件的热膨胀程度远低于20℃下，高低温瞬间转换后，热胀冷缩造成静触片与动触片簧片变形，动触片簧片向静止的位置挤压静触片，产生瞬间变形，如果多次开关，则静触片在多次变形的作用下，发生疲劳，产品容易出现失效。

3、所述的疲劳，具体为静触片往复变形导致静触片与动触片簧片发生磨损失效。导致产品失效问题，其在出厂时无法体现出来，但是在高温的封闭环境中，如烤箱中在特定的高温环境中突然工作后则会导致问题凸显。如汽车电机环境、烤箱、钣金腔等高温环境，在高温高振动环境下工作，容易产生疲劳或失效。

4、现有技术中，还没有一种有效的筛选出不合格磁簧开关产品的技术手段，大多数是将产品进行长期工作，判断磁簧开关是否失效后再进行筛选，延长了产品的投入使用时间，对下游客户造成了不良影响，造成磁簧开关产品检测效率低下。

技术实现思路

1、本发明提供了一种磁簧开关缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，以提高磁簧开关产品检测效率。

2、第一方面，为了解决上述技术问题，本发明提供了一种磁簧开关缺陷检测方法，包括：

3、获取磁簧开关的膨胀系数；其中，所述磁簧开关包括动触片簧片、动触片、静触片、定触片和底座；

4、利用气压测试装置获取密封磁簧开关充气后的第一气压下降值与未密封磁簧开关充气后的第二气压下降值；

5、根据所述第一气压下降值与所述第二气压下降值，得到动触片簧片末端与静触片间的第一缝隙宽度与第二缝隙宽度；

6、根据所述第一缝隙宽度与所述第二缝隙宽度，通过预设触片距离公式，得到所述动触片簧片的末端在预设高温测试温度下变形后的动触片到静触片的第一形变距离；

7、根据所述膨胀系数、所述第一缝隙宽度与所述第二缝隙宽度，通过动触片的数量关系模型，得到定触片到所述底座之间的第二形变距离；

8、将所述第一形变距离、所述第二形变距离分别与预设的距离参考值进行对比，当所述第一形变距离与所述第二形变距离均大于所述距离参考值时，判定磁簧开关合格。

9、优选地，所述底座与所述定触片固定相连；所述动触片的一端与所述动触片簧片的一端固定后组成动触件，所述动触件设置于所述底座和所述定触片之间；所述动触片簧片的另一端设置在所述静触片与所述底座之间；所述静触片固定在所述定触片上。

10、在一种可选的实施方式中，所述利用气压测试装置获取密封磁簧开关充气后的第一气压下降值与未密封磁簧开关充气后的第二气压下降值，包括：

11、获取所述未密封磁簧开关的内压；

12、对所述未密封磁簧开关充入预设压力的气体，得到第二气压下降值；

13、对所述密封磁簧开关充入预设压力的气体，得到第一气压下降值。

14、在一种可选的实施方式中，所述根据所述第一气压下降值与所述第二气压下降值，得到动触片簧片末端与静触片间的第一缝隙宽度与第二缝隙宽度，包括：

15、将所述未密封磁簧开关温度升至预设高温，将第一气压下降值作为动触片簧片末端与静触片间的第一缝隙宽度；

16、将所述密封磁簧开关温度升至预设高温，将第二气压下降值作为动触片簧片末端与静触片间的第二缝隙宽度。

17、在一种可选的实施方式中，所述根据所述第一缝隙宽度与所述第二缝隙宽度，通过预设触片距离公式，得到动触片簧片末端在预设高温测试温度下变形后的动触片到静触片的第一形变距离，包括：

18、通过以下公式计算高温测试温度下变形后的动触片到静触片的第一形变距离：

19、

20、其中为第一形变距离，为第一缝隙宽度，为第二缝隙宽度，为预设室温下所述动触片簧片变形后到静触片的初始距离，为预设高温下动触片簧片末端变形后到静触片的距离。

21、在一种可选的实施方式中，所述根据所述膨胀系数、所述第一缝隙宽度与所述第二缝隙宽度，通过动触片簧片的数量关系模型，得到定触片到所述底座之间的第二形变距离，包括：

22、获取底座与定触片之间的距离；

23、获取动触片与静触片之间的初始距离

24、根据所述动触片簧片的数量关系模型：

25、

26、

27、

28、得到；

29、其中动触片簧片的膨胀系数为ε；静触片的膨胀系数为；底座的膨胀系数为；动触片的膨胀系数为；为第二形变距离。

30、在一种可选的实施方式中，所述所述将所述动触片到静触片的距离、定触片到所述底座之间的距离分别与预设参考值进行对比，当所述第一形变距离与所述第二形变距离均大于所述距离参考值时，判定合格之后，还包括：

31、当所述第一形变距离或所述第二形变距离其一小于所述距离参考值时，判定不合格，其中所述距离参考值为预设高温下定触片与底座之间的距离；

32、利用机器视觉，对磁簧开关的表面进行扫描并进行图像分析，检测到有气泡或结构缺陷，确定所述磁簧开关不合格。

33、第二方面，本发明提供了一种磁簧开关缺陷检测装置，包括：

34、膨胀系数模块，用于获取磁簧开关的膨胀系数；其中，所述磁簧开关包括动触片簧片、动触片、静触片、定触片和底座；

35、气压测试模块，用于利用气压测试装置获取密封磁簧开关充气后的第一气压下降值与未密封磁簧开关充气后的第二气压下降值；

36、缝隙宽度模块，用于根据所述第一气压下降值与所述第二气压下降值，得到动触片簧片末端与静触片间的第一缝隙宽度与第二缝隙宽度;

37、第一距离模块，用于根据所述第一缝隙宽度与所述第二缝隙宽度，通过预设触片距离公式，得到动触片簧片末端在预设高温测试温度下变形后的动触片到静触片的第一形变距离；

38、第二距离模块，用于根据所述膨胀系数、所述第一缝隙宽度与所述第二缝隙宽度，通过动触片簧片的数量关系模型，得到定触片到所述底座之间的第二形变距离；

39、合格判断模块，用于将所述第一形变距离、所述第二形变距离分别与预设的距离参考值进行对比，当所述第一形变距离与所述第二形变距离均大于所述距离参考值时，判定磁簧开关合格。

40、第三方面，本发明还提供了一种电子设备，包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中且被配置为由所述处理器执行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述中任意一项所述的磁簧开关缺陷检测方法。

41、第四方面，本发明还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括存储的计算机程序，其中，在所述计算机程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行上述中任意一项所述的磁簧开关缺陷检测方法。

42、相比于现有技术，本发明具有如下有益效果：

43、本发明公开了一种磁簧开关缺陷检测方法，所述方法包括获取磁簧开关的膨胀系数；其中，所述磁簧开关包括动触片簧片、动触片、静触片、定触片和底座；利用气压测试装置获取密封磁簧开关充气后的第一气压下降值与未密封磁簧开关充气后的第二气压下降值；根据所述第一气压下降值与所述第二气压下降值，得到动触片簧片末端与静触片间的第一缝隙宽度与第二缝隙宽度；根据所述第一缝隙宽度与所述第二缝隙宽度，通过预设触片距离公式，得到所述动触片簧片的末端在预设高温测试温度下变形后的动触片到静触片的第一形变距离；根据所述膨胀系数、所述第一缝隙宽度与所述第二缝隙宽度，通过动触片的数量关系模型，得到定触片到所述底座之间的第二形变距离；将所述第一形变距离、所述第二形变距离分别与预设的距离参考值进行对比，当所述第一形变距离与所述第二形变距离均大于所述距离参考值时，判定合格。该方法利用磁簧开关在预设温度与高温测试温度下动触片簧片末端的弯曲情况，结合缝隙宽度变化来计算高温测试温度下的距离。通过检测磁簧开关在高温条件下的性能表现，确保其在高温高振动环境下的稳定性，从而提高了产品的可靠性和安全性，延长了使用寿命。这样的检测过程相对简单，易于操作，提高了磁簧开关产品检测效率。