信号控制电路、信号控制器和芯片测试系统的制作方法

本技术涉及集成电路，尤其涉及一种信号控制电路、信号控制器和芯片测试系统。

背景技术：

1、被测芯片等领域的测试，常需要搭建被测芯片的测试环境，以完成测试过程。比如，移动产业处理器接口(mobile industry processor interface，mipi)是2003成立的一个联盟，mipi控制器是一种基于mipi协议来对被测芯片进行测试的一种控制器。

2、诸如mipi控制器等用于对芯片测试过程使用的控制器，发明人研究发现，此类信号控制器大多数采用的是fpga或者dsp等芯片作为内核，实现与被测芯片的通讯交互，然而，fpga或者dsp等芯片当烧录完成之后，其管脚的输出电压是不变的，每当需要改变管脚输出电压时需重新进行烧录，非常不便利，非常容易降低整体测试效率。

技术实现思路

1、本技术提供一种信号控制电路、信号控制器和芯片测试系统，以解决需重复烧录，降低整体测试效率低下的问题。

2、提供了一种信号控制电路，所述信号控制电路还包括处理器单元、第一双向buffer单元、第二双向buffer单元和电压转换单元；

3、所述第一双向buffer单元的第一电源端和所述第二双向buffer单元的第一电源端分别连接于外部供电端，所述第一双向buffer单元的第二电源端和所述第二双向buffer单元的第二电源端均连接于电压转换单元的电压输出端；

4、所述第一双向buffer单元的第一数据端连接于所述处理器单元的数据通讯端，所述第一双向buffer单元的第二数据端用于连接于被测芯片的数据通讯端，所述第一双向buffer单元的控制端连接于所述处理器单元的控制端；

5、所述第二双向buffer单元的第一数据端连接于所述处理器单元的时钟通讯端，所述第二双向buffer单元的第二数据端用于连接于所述被测芯片的时钟通讯端，所述第二双向buffer单元的控制端连接于所述外部供电端。

6、进一步地，所述电压转换单元包括第一ldo稳压器、第二ldo稳压器和切换开关单元；

7、所述第一ldo稳压器的电压输入端和所述第二ldo稳压器的电压输入端分别用于连接于外部供电端，所述第一ldo稳压器的使能端和所述第二ldo稳压器的使能端分别连接于所述处理器单元的使能输出端，所述第一ldo稳压器的电压输出端和所述第二ldo稳压器的电压输出端分别连接到所述切换开关单元的第一固定端和第二固定端，所述切换开关单元的输出端作为所述电压转换单元的电压输出端，所述切换开关单元的移动端用于受控连接到所述第一固定端或第二固定端。

8、进一步地，所述电压转换单元包括第三ldo稳压器和可控电阻；

9、所述第三ldo稳压器的电压输入端用于连接于外部供电端，所述第三ldo稳压器的使能端连接于所述处理器单元的使能输出端，所述第三ldo稳压器的电压输出端和所述可控电阻的第一端共接且共接端作为所述电压转换单元的电压输出端，所述可控电阻的第二端连接于地端。

10、进一步地，所述信号控制电路还包括通讯单元、烧录单元、可控开关单元和通讯接口输入端；

11、所述通讯接口输入端分别连接于所述通讯单元的信号输入端和所述烧录单元的信号输入端，所述通讯单元的信号输出端连接于所述可控开关单元的第一端，所述可控开关单元的第二端连接于所述处理器单元的第一通讯端，所述烧录单元的信号输出端连接于所述处理器单元的第二通讯端；

12、在对所述处理器单元进行烧录时，所述可控开关单元受控于关断控制信号将所述通讯单元与所述处理器单元的连接关断，在烧录结束后所述可控开关单元受控于导通控制信号将所述通讯单元与所述处理器单元的连接导通。

13、进一步地，在对所述处理器单元进行烧录时，所述通讯单元的信号输出端处于悬空状态。

14、进一步地，所述通讯接口输入端为usb接口输入端，所述通讯单元为串口通讯单元。

15、提供了一种信号控制电路，所述信号控制电路还包括处理器单元、第一双向buffer单元、第二双向buffer单元和电压转换单元；

16、所述第一双向buffer单元受控于所述处理器单元的控制信号，通过所述第一双向buffer单元的第一数据端和第二数据端，将所述处理器单元的数据信号发送给被测芯片，或者将所述被测芯片的数据信号发送给所述处理器单元；

17、所述第二双向buffer单元用于，通过所述第二双向buffer单元的第一数据端和第二数据端，将所述处理器单元的时钟信号发送给被测芯片；

18、所述电压转换单元用于将输出电压信号供给所述第一双向buffer单元和所述第二双向buffer单元，使得所述第一双向buffer单元的第一数据端或第一数据端跟随所述输出电压信号，并使所述第二双向buffer单元的第二数据端跟随所述输出电压信号。

19、提供了一种用于器件测试的信号控制器，所述信号控制器包括信号控制电路，所述信号控制电路包括处理器单元、第一双向buffer单元、第二双向buffer单元和电压转换单元；

20、所述第一双向buffer单元的第一电源端和所述第二双向buffer单元的第一电源端分别连接于所述处理器单元的电压输出端，所述第一双向buffer单元的第二电源端和所述第二双向buffer单元的第二电源端分别连接于电压转换单元的电压输出端；

21、所述第一双向buffer单元的第一数据端连接于所述处理器单元的数据通讯端，所述第一双向buffer单元的第二数据端用于连接于被测芯片的数据通讯端，所述第一双向buffer单元的控制端连接于所述处理器单元的控制端；

22、所述第二双向buffer单元的第一数据端连接于所述处理器单元的时钟通讯端，所述第二双向buffer单元的第二数据端用于连接于所述被测芯片的时钟通讯端，所述第二双向buffer单元的控制端连接于所述第一双向buffer单元的第一电源端。

23、进一步地，所述信号控制电路包括还包括通讯单元、烧录单元、可控开关单元和通讯接口输入端；

24、所述通讯接口输入端分别连接于所述通讯单元的信号输入端和所述烧录单元的信号输入端，所述通讯单元的信号输出端连接于所述处理器单元的第一通讯端，所述烧录单元的信号输出端连接于所述处理器单元的第二通讯端；所述通讯单元的电源端连接于所述可控开关单元的第一端，所述可控开关单元的第二端连接于供电端；

25、在对所述处理器单元进行烧录时，所述可控开关单元受控于关断控制信号切断所述供电端对所述通讯单元的供电，在烧录结束对被测芯片进行测试时，所述可控开关单元受控于导通控制信号保持所述供电端对所述通讯单元的供电。

26、进一步地，在对所述处理器单元进行烧录时，所述通讯单元的信号输出端处于悬空状态。

27、提供了一种芯片测试系统，所述芯片测试系统包括被测芯片和前述任一项所述的信号控制器。

28、本技术提供的技术方案中，利用两个双向buffer单元与电压转换单元的结合，可实现信号控制器中，处理器单元与被测芯片之间的通讯交互以及提供时钟信号，同时，利用两个双向buffer单元的特点结合电压转换单元，让两个双向buffer单元的输出电压可配置，无需像现有技术那样需通过重复烧录方式改变管脚输出电压的方式，更加便利，能够提高整体的测试效率。