用于每行错误擦除信息的设备、系统和方法与流程

本公开大体上涉及半导体装置，例如半导体存储器装置。

背景技术：

1、所述半导体存储器装置可包含用于存储信息的多个存储器单元。所存储信息可被编码为二进制数据，并且每个存储器单元可存储所述信息的单个位。信息在存储器单元中可能由于多种不同错误而衰减或改变，所述错误可能导致从存储器装置读出一或多个不正确信息位(例如，具有原先写入的位的不同状态的位)。

2、可存在确保从存储器读出的信息的高保真度是有用的许多应用。存储器装置可包含错误校正电路，所述错误校正电路可用于确定与写入到存储器单元中的数据相比从存储器单元读出的信息是否含有任何错误，且可校正发现的错误。存储器装置可周期性地使用错误校正电路以通过扫描存储器阵列的每一存储器单元来修复存储于存储器阵列内的信息中的错误。

技术实现思路

1、根据本申请的一方面，提供一种设备。所述设备包括：存储器阵列，其包括：多个行，每个行被配置成存储多个码字；和多个计数值，每个计数值与所述多个行中的一者相关联；以及错误校正和擦除ecs电路，其被配置成确定沿着所述多个行中的每一者的包含错误的所述多个码字的数目，且将所述多个计数值中的相关联一者设置为所述数目。

2、根据本申请的另一方面，提供一种方法。所述方法包括：对沿着存储器阵列的多个行中的每一者存储的所述码字执行错误校正和擦除(ecs)操作；生成多个每行ecs错误计数，其中每个每行ecs错误计数与所述多个行中的一者相关联且指示沿着所述多个行中的相关联一者存储的包含错误的所述码字的数目；以及将所述每行ecs错误计数存储在所述存储器阵列中。

3、根据本申请的又一方面，提供一种设备。所述设备包括：包括多个存储器单元的行，其中所述多个存储器单元的第一部分被配置成存储多个码字，并且其中所述多个存储器单元的第二部分被配置成存储检测为包含错误的所述多个码字的数目的计数值。

4、根据本申请的再一方面，提供一种方法。所述方法包括：对沿着行的多个码字中的每一者执行错误校正和擦除ecs操作；对包含错误的所述多个码字的数目进行计数；以及将所述数目存储在所述行的存储器单元中。

技术特征：

1.一种设备，其包括：

2.根据权利要求1所述的设备，其中所述多个计数值中的每一者存储在沿着所述多个行中的相关联一者的存储器单元中。

3.根据权利要求2所述的设备，其中所述存储器单元由列选择信号的共同值寻址。

4.根据权利要求2所述的设备，其中所述多个行中的每一者包含相应多个存储器单元，所述存储器单元的第一部分用于存储数据，所述存储器单元的第二部分用于存储与所述数据相关联的元数据，并且所述存储器单元的第三部分既不用于数据也不用于元数据，并且其中所述多个计数值中的每一者沿着所述行中的所述相关联一者存储在所述多个存储器单元的所述第三部分中。

5.根据权利要求1所述的设备，其中所述ecs电路包含多个计数寄存器，每个计数寄存器与所述存储器阵列的组相关联，所述多个计数寄存器中的每一者被配置成存储写入到所述存储器阵列以作为所述多个计数值中的一者的值。

6.根据权利要求1所述的设备，其中所述ecs电路被配置成生成列地址，对由所述列地址指定的所述多个码字中的一者执行ecs操作，在所述多个码字中的所述一者包含错误的情况下递增计数寄存器，更新所述列地址，并且在所述更新后的列地址环绕的情况下写入所述计数寄存器的值以作为所述多个计数值中的一者。

7.一种方法，其包括：

8.根据权利要求7所述的方法，其进一步包括将所述每行ecs错误计数中的每一者存储在所述多个行中的所述相关联一者的存储器单元中。

9.根据权利要求7所述的方法，其进一步包括：

10.根据权利要求9所述的方法，其进一步包括：

11.根据权利要求7所述的方法，其进一步包括生成沿着所述存储器的所述行中的所有行的包含错误的码字的所述数目的总体计数。

12.根据权利要求7所述的方法，其进一步包括：

13.一种设备，其包括：

14.根据权利要求13所述的设备，其进一步包括错误校正和擦除ecs逻辑电路，所述ecs逻辑电路被配置成对包含错误的所述多个码字的数目进行计数且将所述计数写入到所述第二部分。

15.根据权利要求14所述的设备，

16.根据权利要求13所述的设备，其进一步包括错误校正码ecc电路，所述ecc电路被配置成读取所述多个码字中的选定一者，确定所述多个码字中的所述选定一者是否包含错误，校正所述错误并且将经校正码字写入回到所述行。

17.一种方法，其包括：

18.根据权利要求17所述的方法，其进一步包括：

19.根据权利要求17所述的方法，其中所述ecs操作中的每一者包括：

20.根据权利要求17所述的方法，其进一步包括：

21.根据权利要求17所述的方法，其进一步包括：

技术总结用于每行错误校正和擦除pRECS信息的设备、系统和方法。可存在与每个行相关联的pRECS信息，且其可反映沿着所述行存储的在错误校正和擦除ECS操作期间被确定为包含错误的码字的数目。所述存储器可将所述pRECS信息存储在存储器阵列中，例如，每个行可存储与所述行相关联的所述pRECS信息。技术研发人员：S·艾亚普利迪受保护的技术使用者：美光科技公司技术研发日：技术公布日：2024/1/15