测试装置和其测试方法与流程

本发明大体上涉及一种测试装置和其测试方法，且更确切地说，涉及用于链接错误校正码(error correction code；ecc)功能测试的测试方法。

背景技术：

1、由于在第5代无线系统(5th generation wireless systems；5g)和人工智能(artificial intelligence；ai)时代产生越来越多的具有关键响应时间和低功耗要求的新品牌应用，因此低功率高速装置对于如低功率双倍数据速率5(low power double datarate 5；lpddr5)存储器装置的这些应用的系统是必不可少的。所述装置提供最大6400mbps的数据速率。然而，各种噪声干扰将对控制器与lpddr5存储器装置之间的传输和接收链接造成危害。因此，lpddr5存储器装置定义用于控制器与存储器装置之间的数据交换的链接错误检查及校正(error checking and correction；ecc)功能，以提供稳固通信。

技术实现思路

1、本发明提供一种测试装置和其测试方法，且测试方法应用于低功率双数据速率5(lpddr5)的存储器或其它存储器装置的链接错误检查和校正(ecc)功能测试。

2、测试方法包含：根据基础数据产生错误校正码；将基础数据划分为多个基础数据区段；根据基础数据产生多个候选测试数据，其中候选测试数据中的每一个具有多个测试数据区段，且测试数据区段中的每一个对应于基础数据区段中的每一个；以及执行多种测试方案。测试方案中的每一个包含：根据多个候选测试数据产生多个写入测试数据，且将多个写入测试数据以及错误校正码连续地写入到受测装置中；从受测装置读取受测装置的多个模式寄存器值和多个读出数据；以及根据多个模式寄存器值和读出数据产生测试结果。

3、测试装置被调试用于测试链接错误校正码(ecc)功能。测试装置包含控制器。控制器耦接到受测装置且配置成：根据基础数据产生错误校正码；将基础数据划分为多个基础数据区段；根据基础数据产生多个候选测试数据，其中候选测试数据中的每一个具有多个测试数据区段，且测试数据区段中的每一个对应于基础数据区段中的每一个；以及执行多种测试方案。控制器通过以下执行多种测试方案中的每一个：根据多个候选测试数据产生多个写入测试数据，且将多个写入测试数据以及错误校正码连续地写入到受测装置中；从受测装置读取受测装置的多个模式寄存器值和多个读出数据；以及根据多个模式寄存器值和读出数据产生测试结果。

4、综上所述，测试装置产生具有多个测试数据区段的多个候选测试数据。测试装置还基于对应基础数据区段将测试数据区段中的每一个设定为具有0、一个或两个错误位。在多种测试方案中的每一个期间，可产生多个写入测试数据，且通过测试装置将写入测试数据以及错误校正码写入到受测装置中，且可通过从受测装置读取多个模式寄存器值和多个读出数据而获得关于链接ecc功能的测试结果。

5、为了使前述内容更易理解，如下详细地描述附图的数个实施例。

技术特征：

1.一种测试方法，包括：

2.根据权利要求1所述的测试方法，其中所述测试数据区段中的每一个基于所述错误校正码而为有效数据区段、单位错误数据区段或双位错误数据区段。

3.根据权利要求1所述的测试方法，其中所述多个基础数据区段包括第一基础数据信息、第二基础数据信息、第一基础数据掩码反转信息以及第二基础数据掩码反转信息。

4.根据权利要求3所述的测试方法，其中所述多个测试数据区段包括第一测试数据信息、第二测试数据信息、第一测试数据掩码反转信息以及第二测试数据掩码反转信息。

5.根据权利要求1所述的测试方法，其中所述测试方案中的每一个中的所述写入测试数据的数目为2到9。

6.根据权利要求1所述的测试方法，其中所述多个模式寄存器值中的第一寄存器值指示双位错误标志、单位错误规则以及单位错误的次数；所述多个模式寄存器值中的第二寄存器值指示错误校正码操作的校验子值；以及所述多个模式寄存器值中的第三寄存器值指示测试数据信息的校验子值、错误字节通道以及所述错误校正码操作的数据掩码反转信息的校验子值。

7.根据权利要求1所述的测试方法，进一步包括：

8.一种测试装置，调适成用于测试链接错误校正码功能，所述测试装置包括：

9.根据权利要求8所述的测试装置，进一步包括：

10.根据权利要求8所述的测试装置，其中所述测试数据区段中的每一个基于所述错误校正码而为有效数据区段、单位错误数据区段或双位错误数据区段。

11.根据权利要求8所述的测试装置，其中所述多个基础数据区段包括第一基础数据信息、第二基础数据信息、第一基础数据掩码反转信息以及第二基础数据掩码反转信息。

12.根据权利要求11所述的测试装置，其中所述多个测试数据区段包括第一测试数据信息、第二测试数据信息、第一测试数据掩码反转信息以及第二测试数据掩码反转信息。

13.根据权利要求8所述的测试装置，其中所述测试方案中的每一个中的所述写入测试数据的数目为2到9。

14.根据权利要求8所述的测试装置，其中所述多个模式寄存器值中的第一寄存器值指示双位错误标志、单位错误规则以及单位错误的次数；所述多个模式寄存器值中的第二寄存器值指示错误校正码操作的校验子值；以及所述多个模式寄存器值中的第三d寄存器值指示错误字节通道及所述错误校正码操作的数据掩码反转信息的校验子值。

15.根据权利要求14所述的测试装置，其中所述多个模式寄存器值分别记录于所述受测装置中的多个寄存器中。

16.根据权利要求15所述的测试装置，其中在已读出所述多个模式寄存器值之后，受测装置清除所述多个模式寄存器值。

技术总结本发明提供一种测试装置和其测试方法，所述测试方法包含：根据基础数据产生错误校正码；将基础数据划分为多个基础数据区段；根据基础数据产生多个候选测试数据，其中候选测试数据中的每一个具有多个测试数据区段，且测试数据区段中的每一个对应于基础数据区段中的每一个；以及执行多种测试方案。测试方案中的每一个包含：根据多个候选测试数据产生多个写入测试数据，且将多个写入测试数据以及错误校正码连续地写入到受测装置中；从受测装置读取受测装置的多个模式寄存器值和多个读出数据；以及根据多个模式寄存器值和读出数据产生测试结果。技术研发人员：温智渊受保护的技术使用者：南亚科技股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/3/4