电源控制装置与电源测试系统的制作方法

本技术涉及存储设备测试的，尤其涉及一种电源控制装置与电源测试系统。

背景技术：

1、大部分的存储设备在开发阶段都会进行掉电测试，以确保存储设备在用户端的使用过程中具备足够的稳定性。然而，实际场景中针对不同类型的存储设备的供电方式可能不同。当需要对不同类型的存储设备进行掉电测试时，需要额外采用不同规格的供电设备、连接线及接口电路，以满足不同类型的存储设备的供电需求。但是，这样的测试环境不利于针对数量较多且类型可能各不相同的存储设备进行大规模测试，其掉电测试效率较低。

技术实现思路

1、本技术提供一种电源控制装置与电源测试系统，用以解决目前存储设备掉电测试效率较低的问题。

2、第一方面，本技术的提供一种电源测试系统，所述系统包括存储器和处理器，所述处理器执行的指令存储在所述存储器中，所述处理器用于执行如下步骤：

3、获取至少一种掉电测试设备的至少一种供电路径方式；

4、根据至少一种所述供电路径方式确定至少一种供电路径接口；

5、根据至少一种所述供电路径接口确定至少一个电子开关，其中，所述电子开关用于控制电能的变化；

6、确定待测试的至少一个目标设备；

7、根据至少一个所述目标设备获取对应的至少一条掉电测试指令，其中，每条所述掉电测试指令包括供电路径建立参数和掉电执行参数；

8、根据所述供电路径建立参数，从至少一种所述供电路径接口和至少一个所述电子开关中，建立所述目标设备对应的目标供电路径；

9、在所述目标供电路径上，根据所述掉电执行参数执行掉电操作，以对所述目标设备进行掉电测试。

10、进一步地，所述根据至少一个所述目标设备获取对应的至少一条掉电测试指令，还包括所述处理器执行如下步骤：

11、获取至少一个所述目标设备的设备信息；

12、将所述设备信息和掉电测试表进行匹配，得到至少一条所述掉电测试指令，其中，所述掉电测试表中存储有所述设备信息和至少一条所述掉电测试指令之间的映射关系；

13、其中，所述掉电测试表为预先建立的，在根据至少一个所述目标设备获取对应的至少一条掉电测试指令之前，所述处理器还包括执行如下步骤：

14、确定不同的所述掉电测试设备的所述设备信息；

15、根据所述设备信息确定对应的所述掉电测试设备的所述供电路径方式和掉电触发方式；

16、根据所述供电路径方式确定供电路径生成指令集，其中，所述供电路径生成指令集与所述供电路径建立参数具有映射关系；

17、根据所述掉电触发方式确定掉电时机触发指令集，其中，所述掉电时机触发指令集与所述掉电执行参数具有映射关系；

18、根据所述设备信息、所述供电路径建立参数和所述掉电执行参数生成所述掉电测试表，以根据所述掉电测试表执行对应的所述供电路径生成指令集和所述掉电时机触发指令集。

19、本技术中，提出了一种新的基于统一体系化掉电测试的思路，测试用户仅需将待测试的目标设备接入到电源测试系统中，电源测试系统便可相应地建立出该目标设备所需的测试环境以及掉电测试操作，能够支持对多种不同目标设备的掉电测试。具体地，本技术可基于供电路径方式、掉电触发方式建立出与目标设备具有映射关系的掉电测试表，通过该掉电测试表快速、准确地生成与掉电测试相关的供电路径生成指令集和掉电时机触发指令集，并基于这些指令集实现完备的掉电测试。

20、进一步地，所述根据所述供电路径建立参数，从至少一种所述供电路径接口和至少一个所述电子开关中，建立所述目标设备对应的目标供电路径，还包括所述处理器执行如下步骤：

21、根据所述供电路径建立参数确定所述目标设备的掉电测试路径和电压控制范围；

22、根据所述掉电测试路径，从至少一种所述供电路径接口中选择满足所述掉电测试路径的所述供电路径接口作为第一路径点；

23、根据所述掉电测试路径，从至少一种所述电子开关中选择满足所述电压控制范围的所述电子开关作为第二路径点；

24、建立所述第一路径点到所述第二路径点的通路关系，得到所述目标供电路径。

25、本技术中，提供了一种目标供电路径的建立方式，通过对供电路径接口、电子开关进行拆解，可以从中灵活变换、切换至掉电测试所需的各种形态，能够快速建立目标设备的目标供电路径，显著提高对不同目标设备进行掉电测试的测试效率。

26、进一步地，所述在所述目标供电路径上，根据所述掉电执行参数执行掉电操作，还包括所述处理器执行如下步骤：

27、当所述目标设备通过所述目标供电路径进行掉电测试时，根据所述掉电执行参数生成事件观测指令，其中，所述事件观测指令应用于掉电测试的期间；

28、根据所述事件观测指令确定当前所述目标设备所属的掉电测试事件；

29、根据所述掉电测试事件获取对应的至少一个掉电特征信息；

30、采用至少一个所述掉电特征信息确定所述掉电测试的掉电触发时机，并根据所述掉电触发时机生成掉电时机触发指令，以在预设时间周期后采用所述掉电时机触发指令执行所述掉电操作。

31、本技术中，采用事件观测指令实现对电路状态的全时机掌握。电源测试系统能够在测试过程中通过事件观测确定当前目标设备所属的掉电测试事件，并通过获取至少一个掉电特征信息准确推算出掉电时机，能够让掉电测试安排在最佳的测试时机，实现目标设备的掉电测试时机可控。

32、进一步地，所述根据所述事件观测指令确定当前所述目标设备所属的掉电测试事件，还包括所述处理器执行如下步骤：

33、根据所述事件观测指令获取掉电测试计数和单次掉电测试时钟值；

34、当所述掉电测试计数为0时，则确定当前所述目标设备所属的掉电测试事件为起始掉电测试事件，并在每次确认有新的所述掉电测试事件期间，设置所述掉电测试事件的计数值加1，此处，在所述起始掉电测试事件结束后，所述掉电测试事件的计数值置为1；

35、当所述掉电测试计数不为0，且本次的所述单次掉电测试时钟值和上一次的所述单次掉电测试时钟值的差值大于预设倍数的时钟周期，则确定当前所述目标设备所属的掉电测试事件为新的所述掉电测试事件，所述掉电测试事件的计数值加1；

36、在每次进行掉电测试时，根据所述掉电测试事件的计数值，确定当前所述目标设备所属的所述掉电测试事件，以执行对应的掉电操作。

37、本技术中，通过掉电测试计数和单次掉电测试时钟值两个层面反映出目标供电路径的运作状况，可准确地获知当前目标设备所属的所述掉电测试事件，从而针对该掉电测试事件执行合适的掉电操作。

38、进一步地，所述根据所述掉电测试事件获取对应的至少一个掉电特征信息，还包括所述处理器执行如下步骤：

39、根据所述掉电测试事件查询对应的掉电测试特征表，所述掉电测试特征表存储有掉电测试事件编号和掉电特征信息编号的编号映射关系；

40、将所述掉电测试事件转换为对应的所述掉电测试事件编号，根据所述编号映射关系和所述掉电测试事件编号确定所述掉电特征信息编号；

41、根据所述掉电特征信息编号获取所述掉电测试事件对应的所述掉电特征信息。

42、本技术中，通过将掉电测试事件和掉电特征信息编号化实现两维度的精简关联，电源测试系统可以根据掉电测试事件快速获取到与之相对应的至少一个掉电特征信息，以利用该掉电特征信息提高对掉电触发时机的把控度。

43、进一步地，所述采用所述至少一个掉电特征信息确定所述掉电测试的掉电触发时机，还包括所述处理器执行如下步骤：

44、从至少一个所述掉电特征信息获取每一类型的所述掉电特征信息对应的掉电特征数值；

45、根据所述掉电特征数值确定掉电特征区间值；

46、获取所述掉电特征区间值和对应的所述掉电特征数值的差值，其中，所述差值与时钟周期具有倍数关系；

47、获取所述掉电特征区间值对应的单倍换算表，根据所述单倍换算表换算所述掉电特征数值的差值所预测花费的目标时间；

48、获取所述掉电特征区间值对应的发生时间，根据所述掉电特征区间值对应的所述发生时间和所述掉电特征数值的差值所预测花费的所述目标时间确定所述掉电测试的掉电触发时机。

49、本技术中，采用单倍换算表的方式可换算得到掉电特征数值和掉电特征区间值之间差距的时间，从而在没办法对每种掉电特征数值对应的掉电触发时机做映射关系的前提下，仍能准确地预测掉电触发时机。

50、进一步地，在所述采用至少一个所述掉电特征信息确定所述掉电测试的掉电触发时机之前，所述处理器还包括执行如下步骤：

51、建立所述掉电特征区间值和掉电特征区间的映射关系，其中，所述掉电特征区间为一个或多个，每个所述掉电特征区间对应一所述掉电特征区间值；

52、根据所述掉电特征区间值确定对应的掉电测试发生时间；

53、在每个所述掉电特征区间上，以对应的所述掉电特征区间值为参照，计算单倍时钟周期对应的换算值，并存储在所述单倍换算表中，以在确定所述掉电测试的掉电触发时机，采用所述单倍换算表进行预测。

54、本技术中，提供了一种建立单倍换算表的具体实现方式，利用数值差值换算时间的方式，能够进一步提高掉电触发时机预测的准确度。

55、进一步地，所述处理器还包括执行如下步骤：

56、获取新增添的所述掉电测试设备；

57、根据新增添的所述掉电测试设备确定是否需增加新的所述供电路径方式；

58、若需增加新的所述供电路径方式，在所述电源测试系统中添加所述供电路径方式对应的所述供电路径接口；

59、根据新增添的所述掉电测试设备确定是否需增加新的所述电子开关；

60、若需增加新的所述电子开关，在所述电源测试系统中添加所述电子开关。

61、本技术中，可支持在原构建好的掉电测试体系下支持对新的掉电测试设备的加入，具有较高的包容性及扩展性，且也便于实现。

62、第二方面，本技术的提供一种电源控制装置，包括如上述第一方面所述的电源测试系统和待测试的至少一个目标设备。

63、本技术中，提供了一种用以实现掉电测试的电源测试系统，该电源测试系统以掉电测试设备的供电路径方式为基础，将供电路径接口和电子开关集成在系统重，并通过供电路径接口和电子开关，能够根据待测试的目标设备和实际测试场景搭建对应的目标供电路径。其中，该目标路径搭建过程通过系统重专用的控制器实现逻辑上的对接及搭建。并且，控制器还可以根据掉电测试需求，在目标供电路径是上通过掉电执行参数执行用户期望的掉电操作，从而实现对目标设备快速、精准、全面、灵活的掉电测试。本技术中通过该电源测试系统，可以解决原本测试步骤繁多，测试环境搭建困难等问题，能够在一系统中实现对不同存储设备的不同掉电测试，且支持测试用户在测试过程中对不同掉电测试场景的切换，能够显著提高存储设备的掉电测试效率。