一种存储器验证系统的制作方法

本申请涉及存储器验证，尤其是涉及一种存储器验证系统。

背景技术：

1、存储器，又称为半导体存储芯片，是一种用来存储程度和数据信息的记忆部件；而存储器作为一种芯片，难免会存在失效的情况，因此在使用存储器之前对存储器进行检测和功能验证是必不可少的。

2、传统的存储器验证方式是通过ate设备进行验证，这种方式成本较高，并且只能对单芯片进行验证，时间长，效率低；还可以通过编程器软件对存储器进行验证，这种方式成本虽然较低，但是同样只能对单芯片进行验证；因此，开发一种能够同时对多个存储器进行验证的方式是很有必要的。

技术实现思路

1、为了实现同时对多个存储器进行验证，本申请提供一种存储器验证系统。

2、本申请提供的一种存储器验证系统采用如下的技术方案：

3、一种存储器验证系统，包括控制模块、器件检测模块、验证模块、指示模块和电源模块；

4、所述控制模块连接存储器芯片，用于接发信号以及处理数据；

5、所述器件检测模块连接所述控制模块，用于对存储器芯片进行工位检测；

6、所述验证模块连接所述控制模块，用于对存储器芯片进行功能测试；

7、所述指示模块连接所述控制模块，用于根据所述器件检测模块和所述验证模块反馈的信号进行指示；

8、所述电源模块连接所述控制模块，用于为所述控制模块提供电能。

9、本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述控制模块的型号为stm32f407vgt6；所述存储器芯片的型号为s29gl01；所述控制模块的io管脚pd0-pd15连接所述存储器芯片的管脚dq0-dq15；所述控制模块的io管脚pb0-pb15连接所述存储器芯片的管脚a0-a15；所述控制模块的io管脚pc0-pc19连接所述存储器芯片的管脚a16-a25，用于发送地址信号；所述控制模块的管脚pc12连接所述存储器芯片的管脚we#；所述控制模块的管脚pc10连接所述存储器芯片的管脚oe#；所述控制模块的管脚pa0-pa7连接所述存储器芯片的使能端管脚；所述控制模块的管脚pe0-pe15连接所述存储器芯片的管脚ry/by#。

10、本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述器件检测模块连接至所述控制模块的pa11管脚；

11、所述器件检测模块包括检测电阻、检测电容及检测按键；所述检测电阻与所述检测电容串联于电源，且所述检测电容远离所述检测电阻的一端接地；所述检测按键并联于所述检测电容两端；

12、所述控制模块的pa11管脚连接至所述检测电阻和所述检测按键的公共端。

13、本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述验证模块包括擦除单元、烧录单元和查空单元；

14、所述擦除模块连接至所述控制模块的a29管脚；所述烧录单元连接至所述控制模块的a30管脚；所述查空单元连接至所述控制模块的a31管脚；

15、所述擦除单元包括第一电阻、第一电容和第一按键；所述第一电阻和第一电容串联于电源，且所述第一电容远离所述第一电阻的一端接地；所述第一按键并联于所述第一电容两端；所述控制模块的a29管脚连接至第一电阻和第一按键的公共端；

16、所述烧录单元包括第二电阻、第二电容和第二按键；所述第二电阻和第二电容串联于电源，且所述第二电容远离所述第二电阻的二端接地；所述第二按键并联于所述第二电容两端；所述控制模块的a30管脚连接至第二电阻和第二按键的公共端；

17、所述查空单元包括第三电阻、第三电容和第三按键；所述第三电阻和第三电容串联于电源，且所述第三电容远离所述第三电阻的三端接地；所述第三按键并联于所述第三电容两端；所述控制模块的a31管脚连接至第三电阻和第三按键的公共端。

18、本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述指示模块包括状态指示单元和结果指示单元；所述状态指示单元包括状态指示电阻和状态指示灯；所述状态指示电阻一端连接所述存储器芯片的管脚ry/by#，另一端连接状态指示灯；所述状态指示灯远离所述状态指示电阻的一端接地；所述结果指示单元包括结果指示电阻和结果指示灯；所述结果指示灯一端连接控制模块，另一端连接结果指示电阻；所述结果指示电阻远离所述结果指示灯的一端连接电源。

19、本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：还包括晶振模块；所述晶振模块连接所述控制模块，用于提供时钟信号。

20、本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：还包括复位模块；所述复位模块连接所述控制模块的nrst管脚；所述复位模块包括sw5、复位开关、复位电容和复位电阻；所述sw5一端连接所述控制模块的nrst管脚，另一端连接所述复位电阻和所述复位电容的公共端；所述复位开关并联于所述复位电容两端；所述复位电阻一端连接电源，另一端连接所述复位电容和所述复位开关的公共端；所述复位电容远离所述复位电阻的一端接地。

21、本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述控制模块内执行有下述方法：

22、获取存储器芯片的数量和优先级；

23、确定各个工位上存储器芯片的检测结果，并根据检测结果确定连接失败的存储器芯片的工位及数量；

24、根据连接失败的存储器芯片的数量确定处理时间；

25、根据处理时间和预设的验证时间阈值得到更换数量。

技术特征：

1.一种存储器验证系统，其特征在于，包括控制模块(1)、器件检测模块(2)、验证模块(3)、指示模块(4)和电源模块(5)；

2.根据权利要求1所述的存储器验证系统，其特征在于：所述控制模块(1)的型号为stm32f407vgt6；所述存储器芯片(10)的型号为s29gl01；所述控制模块(1)的io管脚pd0-pd15连接所述存储器芯片(10)的管脚dq0-dq15；所述控制模块(1)的io管脚pb0-pb15连接所述存储器芯片(10)的管脚a0-a15；所述控制模块(1)的io管脚pc0-pc19连接所述存储器芯片(10)的管脚a16-a25，用于发送地址信号；所述控制模块(1)的管脚pc12连接所述存储器芯片(10)的管脚we#；所述控制模块(1)的管脚pc10连接所述存储器芯片(10)的管脚oe#；所述控制模块(1)的管脚pa0-pa7连接所述存储器芯片(10)的使能端管脚；所述控制模块(1)的管脚pe0-pe15连接所述存储器芯片(10)的管脚ry/by#。

3.根据权利要求2所述的存储器验证系统，其特征在于：所述器件检测模块(2)连接至所述控制模块(1)的pa11管脚；

4.根据权利要求2所述的存储器验证系统，其特征在于：所述验证模块(3)包括擦除单元(31)、烧录单元(32)和查空单元(33)；

5.根据权利要求2所述的存储器验证系统，其特征在于：所述指示模块(4)包括状态指示单元(41)和结果指示单元(42)；所述状态指示单元(41)包括状态指示电阻(411)和状态指示灯(412)；所述状态指示电阻(411)一端连接所述存储器芯片(10)的管脚ry/by#，另一端连接状态指示灯(412)；所述状态指示灯(412)远离所述状态指示电阻(411)的一端接地；所述结果指示单元(42)包括结果指示电阻(421)和结果指示灯(422)；所述结果指示灯(422)一端连接控制模块(1)，另一端连接结果指示电阻(421)；所述结果指示电阻(421)远离所述结果指示灯(422)的一端连接电源。

6.根据权利要求1所述的存储器验证系统，其特征在于：还包括晶振模块(6)；所述晶振模块(6)连接所述控制模块(1)，用于提供时钟信号。

7.根据权利要求2所述的存储器验证系统，其特征在于：还包括复位模块(7)；所述复位模块(7)连接所述控制模块(1)的nrst管脚；所述复位模块(7)包括sw5、复位开关(71)、复位电容(72)和复位电阻(73)；所述sw5一端连接所述控制模块(1)的nrst管脚，另一端连接所述复位电阻(73)和所述复位电容(72)的公共端；所述复位开关(71)并联于所述复位电容(72)两端；所述复位电阻(73)一端连接电源，另一端连接所述复位电容(72)和所述复位开关(71)的公共端；所述复位电容(72)远离所述复位电阻(73)的一端接地。

8.根据权利要求2所述的存储器验证系统，其特征在于：所述控制模块(1)内执行有下述方法：

技术总结本申请涉及一种存储器验证系统，其属于存储器验证技术领域，包括控制模块连接存储器芯片，用于接发信号以及处理数据；器件检测模块连接控制模块，用于对存储器芯片进行工位检测；验证模块连接控制模块，用于对存储器芯片进行功能测试；指示模块连接控制模块，用于根据器件检测模块和验证模块反馈的信号进行指示；电源模块连接控制模块，用于为控制模块提供电能。本申请具有提高了对存储器芯片的测试效率的效果。技术研发人员：赵杰,李涛,李品,黄振东受保护的技术使用者：北京京瀚禹电子工程技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/3/4