一种基于测试结果数据的测试指标优化方法与流程

本发明涉及固态硬盘测试领域，具体是一种基于测试结果数据的测试指标优化方法。

背景技术：

1、在固态硬盘的测试过程中，通常采用rdt测试，通过持续高强度的工作负载来加速固态硬盘的使用，以模拟ssd的长期使用条件，从而揭示潜在的失效模式和推断产品的长期可靠性性能。然而，传统的rdt测试方法中通常缺少对敏感参数高效识别和优化的机制。敏感参数是指那些对测试结果影响较大的参数，例如某项极端条件或任意极端条件的结合。传统的rdt测试方案对这些数据的利用往往不够有效，未能迅速定位潜在的失效问题，导致rdt测试过程的效率较低。

2、此外，常温老化测试在产品批量装配前评估和保证产品可靠性的关键步骤，但是确定最佳的老化测试时间通常依赖于经验而非精确的数据分析，这可能导致测试时间设置不准确：如果设置过短，可能无法发现早期的失效模式，危及产品质量；如果设置过长，会增加测试成本并浪费资源。

技术实现思路

1、为解决上述背景技术中存在的问题，本发明采用以下技术方案：

2、一种基于测试结果数据的测试指标优化方法，包括步骤：

3、s1、准备待测试的ssd产品，设置第一测试参数集；所述第一测试参数集包括读写负载参数组、温度参数组、湿度参数组和电压参数组；所述读写负载参数组、温度参数组、湿度参数组和电压参数组存储参数值和参数值的选择概率；

4、s2、将部分ssd产品设定为样本组，启动第一计时器同时进入步骤s3；

5、s3、根据rdt测试策略和第一测试参数集对样本组进行rdt测试；

6、具体的，所述rdt测试策略，包括步骤：

7、s31、初始化第二计时器，启动测试并在测试过程中记录rdt测试结果；所述rdt测试结果包括测试参数和smart数据；

8、s32、根据预设的参数切换周期，将测试参数切换为通过第一测试参数集的参数值的选择概率随机选取的参数值；

9、s33、第二计时器达到预设的第二时间阈值时停止rdt测试，进入步骤s4；

10、s4、识别异常smart数据，将异常smart数据对应的测试参数设定为敏感参数值；

11、s5、提高第一测试参数集中敏感参数值的选择概率，若第一计时器未达到第一时间阈值，则返回步骤s3；其中，第一时间阈值大于第二时间阈值；

12、s6、根据所述rdt测试结果拟合浴盆曲线；

13、s7、根据浴盆曲线的初始失效期设定老化测试时间，根据老化测试时间对所有ssd产品执行常温老化测试。

14、作为本申请优选方案，所述步骤s6还包括：

15、在拟合浴盆曲线之后，根据rdt测试结果计算样本组的平均故障间隔时间；

16、若平均故障间隔时间小于预设故障间隔时间标准阈值，则进入步骤s7；否则终止流程，生成测试报告并反馈至测试人员。

17、作为本申请优选方案，所述平均故障间隔时间表示为：

18、

19、其中，a为rdt测试的加速因子；t1为第一时间阈值；n为样本组的ssd总数；n为出现故障ssd的数量；α为置信度；x2表示卡方分布。

20、作为本申请优选方案，所述加速因子表示为：

21、

22、其中，p表示测试参数切换次数，t0为参数切换周期；

23、式表示温度加速因子；ea表示ssd产品材料的激活能；k为玻尔兹曼常数；temu为产品标准工作环境温度；tems为测试环境的温度参数值；

24、式表示电压加速因子；β表示可调的电压加速常数；vs表示测试环境的电压参数值；vu表示产品标准工作电压；

25、式表示湿度加速因子；γ表示可调的湿度加速常数；rs表示测试环境的湿度参数值；ru表示产品标准工作环境湿度；

26、式表示负载加速因子；r表示测试环境的读写速度值；tbwu表示产品标准读写数据总量。

27、作为本申请优选方案，所述测试参数切换次数表示为：

28、

29、其中，t2为第二时间阈值。

30、作为本申请优选方案，所述第一测试参数集还包括断电频率参数组；所述rdt测试根据断电频率参数组设置断电频率。

31、作为本申请优选方案，所述步骤s31，具体为：获取第二测试参数集，第二测试参数集包括若干参数序列，初始化第二计时器，启动测试并在测试过程中记录rdt测试结果；按照第二测试参数集的预设顺序切换参数序列，直至所有参数序列完成测试；其中，所述参数序列包括不同的参数类型各一个。

32、作为本申请优选方案，所述步骤s4，具体包括步骤：

33、收集rdt测试结果，将smart数据与标准值对照识别异常smart数据；

34、利用统计分析技术确定与异常smart数据有显著相关性的测试参数；

35、基于其对性能影响的大小、对故障率的贡献度对每个测试参数的敏感程度计算量化分数，根据预设比例将量化分数较高的测试参数设为敏感参数值。

36、作为本申请优选方案，所述步骤s6，具体包括步骤：

37、获取本次和历史的rdt测试结果，识别异常smart数据中由制造缺陷、材料瑕疵或组装问题导致的早期故障数据；

38、根据早期故障数据与时间的关系修正现有的浴盆曲线，将浴盆曲线趋于平稳且不再显著下降的时间点作为初始失效期的结束时间点。

39、与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：

40、本申请基于测试结果数据的测试指标优化方法，通过提高异常smart数据对应的敏感参数值在后续测试过程中的选择概率，以实现在多轮的rdt测试过程中不断优化第一测试参数集，从而快速识别样本异常，提高测试效率，降低测试成本。并且，通过rdt测试结果拟合浴盆曲线，可以更准确地估计ssd产品的初始失效期从而设置老化测试时间，从而避免老化测试时间设置过短无法保障产品质量，同时也避免老化时间设置过长浪费测试资源。

41、在本申请基于测试结果数据的测试指标优化方法中，使用加速因子进行rdt测试可以提高测试效率，缩短测试周期；因引入加速因子，需要通过平均故障间隔时间进行可靠性的量化计算，平均故障间隔时间的参数包括温度加速因子、电压加速因子、湿度加因子和负载加速因子，能够准确地反映本申请rdt测试环境对异常smart数据的影响，从而帮助用户对测试结果进行准确的量化评估。

技术特征：

1.一种基于测试结果数据的测试指标优化方法，其特征在于：包括步骤：

2.根据权利要求1所述的基于测试结果数据的测试指标优化方法，其特征在于：所述步骤s6还包括：

3.根据权利要求2所述的基于测试结果数据的测试指标优化方法，其特征在于：所述平均故障间隔时间表示为：

4.根据权利要求3所述的基于测试结果数据的测试指标优化方法，其特征在于：所述加速因子表示为：

5.根据权利要求4所述的基于测试结果数据的测试指标优化方法，其特征在于：所述测试参数切换次数表示为：

6.根据权利要求1所述的基于测试结果数据的测试指标优化方法，其特征在于：所述第一测试参数集还包括断电频率参数组；所述rdt测试根据断电频率参数组设置断电频率。

7.根据权利要求1所述的基于测试结果数据的测试指标优化方法，其特征在于：所述步骤s31，具体为：获取第二测试参数集，第二测试参数集包括若干参数序列，初始化第二计时器，启动测试并在测试过程中记录rdt测试结果；按照第二测试参数集的预设顺序切换参数序列，直至所有参数序列完成测试；其中，所述参数序列包括不同的参数类型各一个。

8.根据权利要求1所述的基于测试结果数据的测试指标优化方法，其特征在于：所述步骤s4，具体包括步骤：

9.根据权利要求1所述的基于测试结果数据的测试指标优化方法，其特征在于：所述步骤s6，具体包括步骤：

技术总结本发明公开了一种基于测试结果数据的测试指标优化方法，属于固态硬盘测试领域。方法包括步骤：准备待测试的SSD产品，设置第一测试参数集；将部分SSD产品设定为样本组，启动第一计时器；根据RDT测试策略和第一测试参数集对样本组进行RDT测试；识别异常SMART数据，将异常SMART数据对应的测试参数设定为敏感参数值；提高第一测试参数集中敏感参数值的选择概率；根据所述RDT测试结果拟合浴盆曲线；根据浴盆曲线的初始失效期设定老化测试时间，根据老化测试时间对所有SSD产品执行常温老化测试。本申请通过提高敏感参数值的选择概率，以实现快速识别样本异常，提高测试效率。技术研发人员：周福池,谢兴,叶元彬,彭伟华,周旺英,张学义受保护的技术使用者：韶关朗科半导体有限公司技术研发日：技术公布日：2024/3/4