测试装置和测试设备的制作方法

本申请涉及存储测试，尤其涉及一种测试装置和测试设备。

背景技术：

1、现有测试技术依赖于测试电脑自带的sata接口，现有的主板上具有6个sata接口，预留一个sata接口用于连接系统盘，则只剩下5个sata，因此一台电脑只能测试5个产品。并且在更换固态硬盘时，频繁的插接固态硬盘，会导致接口上的金手指磨损严重发生断触的问题，严重的会导致主板上的接口脱落。

技术实现思路

1、本申请的目的是提供一种测试装置和测试设备，提高测试装置的测试效率，替换第二sata母头更加简便。

2、本申请公开了一种测试装置，用于测试固态硬盘，所述测试装置包括壳体、主板、m.2母头接口、转卡结构和传输线，所述主板设置在所述壳体内，所述壳体的表面设置有通孔，所述m.2母头接口设置在所述主板上，所述转卡结构一端为m.2公头接口，另一端包括至少一个第一sata母头接口，所述m.2公头接口插接在所述m.2母头接口上，所述传输线一端为sata公头接口，另一端为第二sata母头接口；所述传输线的所述sata公头接口插接在所述转卡结构的第二sata母头接口上，所述第二sata母头接口固定在所述通孔上，所述第二sata母头接口与所述传输线可拆卸连接，所述固态硬盘插接在所述第二sata母头接口上。

3、可选的，所述第二sata母头接口包括主体部和抵接部，所述主体部设置在所述抵接部背离所述传输线的一侧，所述抵接部在所述壳体上的正投影面积覆盖所述通孔，所述抵接部抵接在所述壳体的表面。

4、可选的，所述壳体表面设置凹槽，所述通孔位于所述凹槽的槽底，所述凹槽的形状与所述抵接部对应，所述抵接部抵接在所述凹槽的槽底。

5、可选的，所述壳体表面还设置有定位槽，所述定位槽为与所述凹槽的边缘，所述抵接部边缘还设置有定位凸起，所述定位凸起位于所述定位槽内。

6、可选的，所述测试装置包括第一限位柱和第二限位柱，所述第一限位柱和第二限位柱设置在所述通孔的两侧，在所述固态硬盘插接在所述第二sata母头接口上时，所述第一限位柱和第二限位柱抵接在所述固态硬盘的两侧。

7、可选的，所述第一限位柱和所述第二限位柱相对的两侧分别设置有限位凹槽，所述固态硬盘与所述第一限位柱和所述第二限位柱抵接的位置分别设置有限位凸起，所述限位凸起与所述限位凹槽对应，在所述固态硬盘插接在所述第二sata母头接口上时，所述限位凸起位于所述凹槽内。

8、可选的，所述测试装置包括led灯和电源，所述led灯和电源设置在所述壳体表面，所述限位凹槽的槽底设置有第一电极片、所述限位凹槽的槽口设置有第二电极片，所述电源的一端与所述第一电极片连接，另一端与所述led灯连接，所述led灯的另一端与所述第二电极片连接，当所述限位凸起进入所述凹槽内时，所述第一电极片和所述第二电极片接触，所述led灯与所述电源形成回路。

9、可选的，以所述壳体的高度方向为第一方向，所述测试装置包括多个所述第二sata母头接口呈排设置，并形成第一排和第二排，所述第一排的所述第二sata母头接口的长度方向与所述第一方向平行，所述第二排的所述第二sata母头接口的长度方向与所述第一方向垂直。

10、可选的，所述第一排内相邻两个所述第二sata母头接口之间的间距为3cm-6cm，所述第二排内相邻两个所述第二sata母头接口之间的间距为5-10cm。

11、本申请还公开了一种测试设备，所述测试设备包括显示模块和测试装置，所述显示模块与所述测试装置连接。

12、相对于现有的测试装置仅通过主板上仅有的sata接口进行测试的方案来说，本申请通过增加转卡结构将一个m.2接口转换成多个sata接口，增加了单次可以进行测试的固态硬盘的数量，提高了测试装置的测试效率，由于测试需要频繁的插拔固态硬盘，容易导致第二sata母头接口内的金手指脱落，从而导致接口损坏无法测试，因此所述第二sata母头接口与所述传输线可拆卸连接，在所述第二sata母头接口出现问题时，则只需要替换相应的所述第二sata母头接口，而且不需要将外壳拆除出来，简化了替换工序。

技术特征：

1.一种测试装置，用于测试固态硬盘，其特征在于，所述测试装置包括壳体、主板、m.2母头接口、转卡结构和传输线，所述主板设置在所述壳体内，所述壳体的表面设置有通孔，所述m.2母头接口设置在所述主板上，所述转卡结构一端为m.2公头接口，另一端包括至少一个第一sata母头接口，所述m.2公头接口插接在所述m.2母头接口上，所述传输线一端为sata公头接口，另一端为第二sata母头接口；所述传输线的所述sata公头接口插接在所述转卡结构的第二sata母头接口上，所述第二sata母头接口固定在所述通孔上，所述第二sata母头接口与所述传输线可拆卸连接，所述固态硬盘插接在所述第二sata母头接口上。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第二sata母头接口包括主体部和抵接部，所述主体部设置在所述抵接部背离所述传输线的一侧，所述抵接部在所述壳体上的正投影面积覆盖所述通孔，所述抵接部抵接在所述壳体的表面。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述壳体表面设置凹槽，所述通孔位于所述凹槽的槽底，所述凹槽的形状与所述抵接部对应，所述抵接部抵接在所述凹槽的槽底。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述壳体表面还设置有定位槽，所述定位槽为与所述凹槽的边缘，所述抵接部边缘还设置有定位凸起，所述定位凸起位于所述定位槽内。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括第一限位柱和第二限位柱，所述第一限位柱和第二限位柱设置在所述通孔的两侧，在所述固态硬盘插接在所述第二sata母头接口上时，所述第一限位柱和第二限位柱抵接在所述固态硬盘的两侧。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述第一限位柱和所述第二限位柱相对的两侧分别设置有限位凹槽，所述固态硬盘与所述第一限位柱和所述第二限位柱抵接的位置分别设置有限位凸起，所述限位凸起与所述限位凹槽对应，在所述固态硬盘插接在所述第二sata母头接口上时，所述限位凸起位于所述限位凹槽内。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括led灯和电源，所述led灯和电源设置在所述壳体表面，所述限位凹槽的槽底设置有第一电极片、所述限位凹槽的槽口设置有第二电极片，所述电源的一端与所述第一电极片连接，另一端与所述led灯连接，所述led灯的另一端与所述第二电极片连接，当所述限位凸起进入所述限位凹槽内时，所述第一电极片和所述第二电极片接触，所述led灯与所述电源形成回路。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，以所述壳体的高度方向为第一方向，所述测试装置包括多个所述第二sata母头接口呈排设置，并形成第一排和第二排，所述第一排的所述第二sata母头接口的长度方向与所述第一方向平行，所述第二排的所述第二sata母头接口的长度方向与所述第一方向垂直。

9.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述第一排内相邻两个所述第二sata母头接口之间的间距为3cm-6cm，所述第二排内相邻两个所述第二sata母头接口之间的间距为5-10cm。

10.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括显示模块和如权利要求1-9中任意一项所述的测试装置，所述显示模块与所述测试装置连接。

技术总结本申请公开了一种测试装置和测试设备，用于测试固态硬盘，所述测试装置包括壳体、主板、M.2母头接口、转卡结构和传输线，所述主板设置在所述壳体内，壳体的表面设置有通孔，M.2母头接口设置在所述主板上，转卡结构一端为M.2公头接口，另一端包括至少一个第一SATA母头接口，M.2公头接口插接在所述M.2母头接口上，传输线一端为SATA公头接口，另一端为第二SATA母头接口；传输线的所述SATA公头接口插接在所述转卡结构的第二SATA母头接口上，所述第二SATA母头接口固定在所述通孔上，第二SATA母头接口与所述传输线可拆卸连接，所述固态硬盘插接在所述第二SATA母头接口上。通过上述设计，提高了测试装置的测试效率，并且在替换第二SATA母头接口时，不需要打开外壳，更加简便。技术研发人员：张建龙,何虎象,余骏东,陈超,马化沭,罗荣优受保护的技术使用者：深圳市时创意电子有限公司技术研发日：20230627技术公布日：2024/4/17