存储器测试系统及存储器测试方法与流程

本揭示内容关于一种存储器测试系统及方法，特别关于一种使用电源供应器提供参考电压的存储器测试系统及方法。

背景技术：

1、存储器测试通常使用额外的电力来抬升或降低存储器装置接收的电压，并执行不同的测试程序来测试存储器是否能在系统平台上正常运作。上述事项无法由测试系统来自动执行，而需要人员在现场频繁地调整电压或执行不同程序。因此，存储器测试耗费大量人力。

技术实现思路

1、本揭示内容的一实施例提供一种存储器测试系统，包括至少一存储器装置、电源供应器以及处理器。电源供应器用以根据控制信号提供第一参考电压至至少一存储器装置。处理器用以提供控制信号以控制电源供应器在多个电压位准之间改变第一参考电压，并在电压位准之下测试至少一存储器装置以产生多个第一测试结果，第一测试结果对应电压位准。

2、在一些实施例中，处理器进一步用以控制电源供应器步升或步降第一参考电压。

3、在一些实施例中，电压位准中的两个邻近电压位准间的差距等于电压位准中的另外两个邻近电压位准间的差距。

4、在一些实施例中，处理器进一步用以：执行第一测试程序，并控制电源供应器将第一参考电压从电压位准中的第一电压位准改变至电压位准中的第二电压位准，以产生对应第一测试程序的第一测试结果；以及执行第二测试程序，并控制电源供应器将第一参考电压从第一电压位准改变至第二电压位准，以产生对应第二测试程序的多个第二测试结果，其中第二测试程序不同于第一测试程序。第一电压位准为电压位准中的最低者及最高者中的一者。第二电压位准为电压位准中的最低者及最高者中的另一者。

5、在一些实施例中，处理器进一步用以：产生第一测试结果中的第一测试结果、第二测试结果以及第三测试结果。第一测试结果中的第一测试结果、第二测试结果以及第三测试结果分别对应第一电压位准、第三电压位准以及第二电压位准。第三电压位准介于第一电压位准及第二电压位准之间。

6、在一些实施例中，处理器进一步用以：产生第二测试结果中的第四测试结果、第五测试结果以及第六测试结果。第四测试结果、第五测试结果以及第六测试结果分别对应第一电压位准、第三电压位准以及第二电压位准。

7、在一些实施例中，第一参考电压在第一期间具有电压位准中的第一电压位准，在第二期间具有电压位准中的第二电压位准，且在第三期间具有电压位准中的第三电压位准。第一期间、第二期间即第三期间依序排列。第二电压位准介于第一电压位准及第三电压位准之间。第一测试结果中的三者分别对应第一电压位准、第二电压位准及第三电压位准。

8、在一些实施例中，至少一存储器装置包含第一存储器装置及第二存储器，第一存储器装置及第二存储器彼此不同。电源供应器进一步用以提供第一参考电压至第一存储器装置，并提供第二参考电压至第二存储器装置。处理器进一步用以控制电源供应器在电压位准之间改变第二参考电压。

9、在一些实施例中，处理器进一步用以：执行测试程序来测试第一存储器装置以产生第一测试结果中的第一测试结果，其中第一测试结果中的第一测试结果对应第一参考电压；以及执行测试程序来测试第二存储器装置以产生第一测试结果中的第二测试结果，其中第一测试结果中的第二测试结果对应第二参考电压。

10、在一些实施例中，第一参考电压在第一期间具有电压位准中的第一电压位准，在第二期间具有电压位准中的第二电压位准，且在第三期间具有电压位准中的第三电压位准。第二参考电压在第一期间具有电压位准中的第三电压位准，在第二期间具有电压位准中的第二电压位准，且在第一期间具有电压位准中的第三电压位准。

11、在一些实施例中，第一参考电压实质上等于第二参考电压。

12、本揭示内容的另一实施例提供一种存储器测试方法，包括：提供第一参考电压至第一存储器装置；在多个时间期间中将第一参考电压从第一电压位准调整至第二电压位准；以及响应于第一电压位准及第二电压位准中的每一者在时间期间中测试第一存储器装置。

13、在一些实施例中，存储器测试方法进一步包含提供第二参考电压至第二存储器装置，第二存储器装置不同于第一存储器装置；在时间期间中将第二参考电压从第一电压位准及第二电压位准中的一者调整至第一电压位准及第二电压位准中的另一者；以及响应于第二参考电压在时间期间中施以测试信号以测试第二存储器装置。测试第一存储器装置包含对第一存储器装置施以测试信号。

14、在一些实施例中，第一参考电压及第二参考电压实质上相同。

15、在一些实施例中，调整第一参考电压包含在时间期间的第一期间时将第一参考电压调整至第一电压位准，以及在时间期间的第二期间时将第一参考电压调整至第二电压位准。调整第二参考电压包含在第二期间时将第二参考电压调整至第一电压位准，以及在第一期间时将第二参考电压调整至第二电压位准。

16、在一些实施例中，存储器测试方法进一步包含步升第一参考电压及第二参考电压中的一者；以及步降第一参考电压及第二参考电压中的另一者。

17、在一些实施例中，存储器测试方法进一步包含响应于测试信号在时间期间中产生多个第一测试结果；以及响应于测试信号在时间期间中产生多个第二测试结果。第一测试结果的数目、第二测试结果的数目及时间期间的数目相同。

18、在一些实施例中，调整第一参考电压包含将第一参考电压调整至第三电压位准以通过第三电压位准测试第一存储器装置。第三电压位准介于第一电压位准及第二电压位准之间。

19、在一些实施例中，调整第一参考电压进一步包含在多个电压位准之中调整第一参考电压以通过电压位准中的每一者测试第一存储器装置，其中电压位准包含第一电压位准、第二电压位准及第三电压位准。电压位准中相邻的二者的差异与电压位准中相邻的另二者的差异相同。

20、在一些实施例中，存储器测试方法进一步包含执行第一测试程序并控制第一参考电压从第一电压位准改变为第二电压位准，以产生第一存储器装置的多个第一测试结果，第一测试结果对应第一测试程序；以及执行不同于第一测试程序的第二测试程序并控制第一参考电压从第一电压位准改变为第二电压位准，以产生第一存储器装置的多个第二测试结果，第二测试结果对应第二测试程序。

技术特征：

1.一种存储器测试系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中该处理器进一步用以控制该电源供应器步升或步降该第一参考电压。

3.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中所述多个电压位准中的两个邻近电压位准间的差距等于所述多个电压位准中的另外两个邻近电压位准间的差距。

4.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中该处理器进一步用以：

5.根据权利要求4所述的存储器测试系统，其中该处理器进一步用以：

6.根据权利要求5所述的存储器测试系统，其中该处理器进一步用以：

7.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中该第一参考电压在第一期间具有所述多个电压位准中的第一电压位准，在第二期间具有所述多个电压位准中的第二电压位准，且在第三期间具有所述多个电压位准中的第三电压位准；

8.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中

9.根据权利要求8所述的存储器测试系统，其中该处理器进一步用以：

10.根据权利要求8所述的存储器测试系统，其中该第一参考电压在第一期间具有所述多个电压位准中的第一电压位准，在第二期间具有所述多个电压位准中的第二电压位准，且在第三期间具有所述多个电压位准中的第三电压位准；

11.根据权利要求8所述的存储器测试系统，其中该第一参考电压实质上等于该第二参考电压。

12.一种存储器测试方法，其特征在于，包括：

13.根据权利要求12所述的存储器测试方法，其中进一步包含：

14.根据权利要求13所述的存储器测试方法，其中该第一参考电压及该第二参考电压实质上相同。

15.根据权利要求13所述的存储器测试方法，其中

16.根据权利要求13所述的存储器测试方法，其中进一步包含：

17.根据权利要求13所述的存储器测试方法，其中进一步包含：

18.根据权利要求12所述的存储器测试方法，其中调整该第一参考电压包含：

19.根据权利要求18所述的存储器测试方法，其中调整该第一参考电压进一步包含：

20.根据权利要求12所述的存储器测试方法，其中进一步包含：

技术总结本揭示内容提供一种存储器测试系统及存储器测试方法。存储器测试系统包括至少一存储器装置、电源供应器以及处理器。电源供应器用以根据控制信号提供第一参考电压至至少一存储器装置。处理器用以提供控制信号以控制电源供应器在多个电压位准之间改变第一参考电压，并在电压位准之下测试至少一存储器装置以产生多个第一测试结果，第一测试结果对应电压位准。通过本揭示内容提供的存储器测试系统，能够自动地调整待测存储器装置所接收的参考电压，提升测试存储器装置的效率。技术研发人员：陈建宇受保护的技术使用者：南亚科技股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/5/19