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用于检测及报告存储器装置的故障的存储器装置及方法与流程

  • 国知局
  • 2024-07-31 20:00:10

本发明大体来说涉及存储器装置,且更具体来说,涉及基于定制阈值而检测及报告存储器装置中的故障。

背景技术:

1、存储器装置广泛地用于存储与各种电子装置(例如计算机、无线通信装置、相机、数字显示器等等)相关的信息。存储器装置可为易失性或非易失性且可为各种类型,例如磁性硬盘、随机存取存储器(ram)、只读存储器(rom)、动态ram(dram)、同步动态ram(sdram)及其它。通过将存储器单元充电为具有不同状态而将信息存储于各种类型的ram中。改进ram存储器装置通常可包含增加存储器单元密度、增加读取/写入速度,或者以其它方式减少操作等待时间、减少处理开销、增加可靠性、增加数据保持、减少电力消耗或减少制造成本,以及其它度量。

技术实现思路

1、在一个方面中,本申请案提供一种存储器装置,其包括:存储器阵列;第一电路,其经配置以检查所述存储器阵列的至少一部分中的错误且确定所找出的错误的计数;及第二电路,其经配置以:基于默认故障阈值及由所述第一电路找出的初始错误计数而确定偏移故障阈值;将由所述第一电路找出的后续错误计数与所述偏移故障阈值进行比较;且当所述比较指示由所述第一电路找出的所述后续错误计数大于所述偏移故障阈值时,致使进行故障程序步骤。

2、在另一方面中,本申请案进一步提供一种方法,其包括:经由错误检查程序步骤确定存储器装置的初始错误计数;识别默认故障阈值;基于所述初始错误计数与所述默认故障阈值的和而计算偏移故障阈值;将所述偏移故障阈值与通过另一次实施所述错误检查程序步骤所得的另一错误计数进行比较;及当所述另一错误计数大于所述偏移故障阈值时,起始故障程序步骤。

3、在又一方面中,本申请案进一步提供一种方法,其包括:基于存储器装置的默认故障阈值及初始错误计数而确定偏移故障阈值;在所述存储器装置的存储器阵列的至少一部分中执行错误检查以确定错误计数;将所述错误计数与所述偏移故障阈值进行比较;及在所述存储器装置处响应于所述比较指示所述错误计数大于所述偏移故障阈值而起始故障程序步骤。

技术特征:

1.一种操作存储器装置的方法,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其中所述两个或更多个错误范围中的每个错误范围对应于最小错误计数和最大错误计数之间的相应描绘。

4.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一错误范围的最小错误计数和最大错误计数之间的差等于所述两个或更多个错误范围中的第二错误范围的最小错误计数和最大错误计数之间的差。

5.根据权利要求1所述的方法,其中所述默认故障阈值为用户可编程阈值。

6.根据权利要求1所述的方法,其中所述错误计数是在所述ecs程序期间获得的总错误计数。

7.根据权利要求1所述的方法,其中所述存储器装置是动态随机存取存储器(dram)装置。

8.一种存储器装置,其包括:

9.根据权利要求8所述的存储器装置,其进一步包括:

10.根据权利要求8所述的存储器装置,其中所述两个或更多个错误范围中的每个错误范围对应于最小错误计数和最大错误计数之间的相应描绘。

11.根据权利要求8所述的存储器装置,其中所述第一错误范围的最小错误计数和最大错误计数之间的差等于所述两个或更多个错误范围中的第二错误范围的最小错误计数和最大错误计数之间的差。

12.根据权利要求8所述的存储器装置,其中所述默认故障阈值为用户可编程阈值。

13.根据权利要求8所述的存储器装置,其中所述错误计数是在所述ecs程序期间获得的总错误计数。

14.根据权利要求8所述的存储器装置,其中所述存储器装置是动态随机存取存储器(dram)装置。

15.一种设备,其包括:

16.根据权利要求15所述的设备,其进一步包括:

17.根据权利要求15所述的设备,其中所述两个或更多个错误范围中的每个错误范围对应于最小错误计数和最大错误计数之间的相应描绘。

18.根据权利要求15所述的设备,其中所述第一错误范围的最小错误计数和最大错误计数之间的差等于所述两个或更多个错误范围中的第二错误范围的最小错误计数和最大错误计数之间的差。

19.根据权利要求15所述的设备,其中所述默认故障阈值为用户可编程阈值。

20.根据权利要求15所述的设备,其中所述错误计数是在所述ecs程序期间获得的总错误计数。

技术总结本发明描述用于检测及报告存储器装置的故障的存储器装置及方法。当位翻转错误的计数高于故障阈值时,存储器装置可报告故障。故障报告可指示所述存储器装置正累积错误的速率。替代例如标准化阈值或所规定阈值等默认故障阈值,可应用偏移故障阈值。所述偏移故障阈值可为所述默认故障阈值与从初始错误计数确定的偏移的和,所述初始错误计数是在所述存储器装置因使用而累积错误之前确定。技术研发人员:R·J·鲁尼,G·D·沃尔夫受保护的技术使用者:美光科技公司技术研发日:技术公布日:2024/6/5

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