测定装置及测定装置的制造方法与流程

本发明涉及测定装置及测定装置的制造方法。

背景技术：

1、在专利文献1中记载了通过使发光元件及受光元件和光学系统相对移动，从而使激光扫描的扫描装置。

2、专利文献1：日本特表2021－500554号公报

技术实现思路

1、在使具有发光元件及受光元件的传感器单元和光学单元能够相对移动地保持于保持架的情况下，如果将基板固定于保持架，则基板有时会振动。

2、本发明的第一目的在于，抑制固定于对相对移动的传感器单元及光学单元进行保持的保持架的基板的振动。

3、在使具有发光元件及受光元件的传感器单元和光学单元能够相对移动地保持于保持架的情况下，有时保持架会振动。

4、本发明的第二目的在于，抑制对相对移动的传感器单元及光学单元进行保持的保持架的振动。

5、另外，在将测定装置安装于车体的情况下，将对测定装置的主体部进行保持的车体安装部件安装于车体。在使测定装置的主体部的宽度方向的两侧保持于车体安装部件的情况下，如果车体安装部件以在宽度方向横跨主体部的方式一体地构成，则有时测定装置大型化。

6、本发明的第三目的在于，实现车体安装部件的小型化，并且实现测定装置的小型化。

7、用于达到上述第一目的的本发明的一个方式是一种测定装置，其具有：传感器单元，其具有射出光的发光元件和对反射光进行受光的受光元件；光学单元，其将从所述发光元件射出的光照射至对象物，并且使所述受光元件对反射光进行受光；保持架，其将所述传感器单元和所述光学单元能够相对移动地保持；基板，其固定于所述保持架；以及能够变形的支撑部件，其从所述保持架对所述基板的端部进行支撑。

8、用于达到上述第二目的的本发明的一个方式是一种测定装置，其具有：传感器单元，其具有射出光的发光元件和对反射光进行受光的受光元件；光学单元，其将从所述发光元件射出的光照射至对象物，并且使所述受光元件对反射光进行受光；弹簧部件，其具有固定部和振动部，在所述光学单元安装所述固定部，在所述振动部安装所述传感器单元，由此将所述传感器单元相对于所述光学单元能够移动地保持；以及保持架，其安装于所述弹簧部件的所述固定部，将所述传感器单元和所述光学单元能够相对移动地保持。

9、用于达到上述第三目的的本发明的一个方式是一种测定装置，其具有：主体部，其将光照射至对象物，并且对反射光进行受光；以及一对车体安装部件，它们将所述主体部的宽度方向的两侧分别独立地保持，并且将所述主体部安装于车体。

10、另外，用于达到上述第三目的的本发明的另一个方式是一种测定装置的制造方法，其具有下述工序：准备主体部和一对车体安装部件，该主体部将光照射至对象物，并且对反射光进行受光，该一对车体安装部件将所述主体部安装于车体；调整一对所述车体安装部件的位置关系；以及在调整了一对所述车体安装部件的位置关系的状态下，使所述主体部的宽度方向的两侧分别保持于一对所述车体安装部件。

11、此外，本申请所公开的课题及其解决方法通过技术实现要素：的栏及附图更加明确。

12、发明的效果

13、根据本发明，能够抑制固定于对相对移动的传感器单元及光学单元进行保持的保持架的基板的振动。

14、另外，根据本发明，能够抑制对相对移动的传感器单元及光学单元进行保持的保持架的振动。

15、并且，根据本发明，能够实现车体安装部件的小型化，并且实现测定装置的小型化。

技术特征：

1.一种测定装置，其具有：

2.根据权利要求1所述的测定装置，其中，

3.根据权利要求1或2所述的测定装置，其中，

4.根据权利要求1至3中任一项所述的测定装置，其中，

5.根据权利要求4所述的测定装置，其中，

6.根据权利要求1至5中任一项所述的测定装置，其中，

7.根据权利要求1至6中任一项所述的测定装置，其中，

8.根据权利要求7所述的测定装置，其中，

9.根据权利要求7或8所述的测定装置，其中，

10.一种测定装置，其具有：

11.根据权利要求10所述的测定装置，其中，

12.根据权利要求11所述的测定装置，其中，

13.根据权利要求11或12所述的测定装置，其中，

14.根据权利要求11至13中任一项所述的测定装置，其中，

15.根据权利要求14所述的测定装置，其中，

16.根据权利要求15所述的测定装置，其中，

17.根据权利要求10至16中任一项所述的测定装置，其中，

18.根据权利要求17所述的测定装置，其中，

19.根据权利要求17或18所述的测定装置，其中，

20.根据权利要求19所述的测定装置，其中，

21.根据权利要求10至20中任一项所述的测定装置，其中，

22.根据权利要求21所述的测定装置，其中，

23.一种测定装置，其具有：

24.根据权利要求23所述的测定装置，其中，

25.根据权利要求24所述的测定装置，其中，

26.根据权利要求25所述的测定装置，其中，

27.根据权利要求26所述的测定装置，其中，

28.一种测定装置的制造方法，其具有下述工序：

29.根据权利要求28所述的测定装置的制造方法，其中，

30.根据权利要求29所述的测定装置的制造方法，其中，

31.根据权利要求29或30所述的测定装置的制造方法，其中，

技术总结本发明所涉及的测定装置(1)具有：传感器单元(10)，其具有射出光的发光元件(11)和对反射光进行受光的受光元件(12)；光学单元(20)，其将从发光元件(11)射出的光照射至对象物，并且使受光元件(12)对反射光进行受光；保持架(40)，其将传感器单元(10)和光学单元(20)能够相对移动地保持；基板(50)，其固定于保持架(40)；以及能够变形的支撑部件(80)，其从保持架(40)对基板(50)的端部进行支撑。技术研发人员：出口博久,伊豆川洸司,小石川直生,设乐美月,山﨑敦之,大长敬直,樱井一利受保护的技术使用者：株式会社小糸制作所技术研发日：技术公布日：2024/8/27