一种隔离器芯片高速检测系统及方法与流程

本发明涉及隔离器检测，尤其涉及一种隔离器芯片高速检测系统及方法。

背景技术：

1、根据隔离介质的不同，数字隔离器可分为光耦隔离器、磁耦隔离器和电容隔离器。其中，电容型隔离器采用电容隔离技术，与标准cmos工艺能够很好的兼容，具有传输速率高、延时低、寿命长、耐压高等优点。我国高速增长的经济为光隔离器行业提供了广阔的市场空间，在这个契机下，我国的隔离器行业也得到了快速发展。

2、在对隔离器生产时需要对隔离器芯片进行检测，但是仅依靠人工检测效率较低，且工人的肉眼具有不稳定性，无法保证检测的正确率，这种传统的方式极大地降低了生产效率且成本较高。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种隔离器芯片高速检测系统及方法，旨在解决传统的隔离器检测方式导致生产效率降低的问题。

2、为实现上述目的，第一方面，本发明提供了一种隔离器芯片高速检测系统，包括放置模块、检测模块、对比模块、生成模块和提示模块，所述放置模块、所述检测模块、所述对比模块、所述生成模块和所述提示模块依次连接；

3、所述放置模块，用于放置待检测隔离器芯片；

4、所述检测模块，用于对隔离器芯片进行检测，得到检测数据；

5、所述对比模块，基于阈值数据对所述检测数据进行对比，得到对比数据；

6、所述生成模块，基于所述对比数据生成检测报告和控制指令；

7、所述提示模块，基于所述控制指令发出异常告警。

8、其中，所述放置模块包括平台单元、驱动单元和固定单元，所述平台单元、所述驱动单元和所述固定单元依次连接；

9、所述平台单元，用于放置待检测隔离器芯片；

10、所述驱动单元，用于驱动所述固定单元工作；

11、所述固定单元，用于对所述平台单元上的待检测隔离器芯片进行限位。

12、其中，所述检测模包括功耗检测单元、温度检测单元和数据收集单元，所述功耗检测单元和所述温度检测单元分别与所述数据收集单元连接；

13、所述功耗检测单元，用于检测隔离器芯片的功耗数据；

14、所述温度检测单元，用于检测隔离器芯片的工作温度数据；

15、所述数据收集单元，用于对所述功耗数据和所述工作温度数据进行收集，得到检测数据。

16、其中，所述对比模块包括存储单元和比对单元，所述存储单元和所述比对单元连接；

17、所述存储单元，用于存储阈值数据；

18、所述比对单元，基于所述阈值数据对所述检测数据进行对比，得到对比数据。

19、其中，所述生成模块包括报告生成单元、指令生成单元和记录单元，所述报告生成单元和所述指令生成单元分别与所述记录单元连接；

20、所述报告生成单元，基于所述对比数据生成检测报告；

21、所述指令生成单元，基于所述对比数据生成控制指令；

22、所述记录单元，用于对所述检测报告和所述控制指令进行存储备份。

23、其中，所述提示模块包括执行单元和声光单元，所述执行单元和所述声光单元连接；

24、所述执行单元，基于所述控制指令对所述声光单元进行控制；

25、所述声光单元，用于发出异常告警。

26、第二方面，一种隔离器芯片高速检测方法，应用于第一方面所述的隔离器芯片高速检测系统，包括以下步骤：

27、将待检测隔离器芯片放置在放置模块上；

28、对隔离器芯片进行检测，得到检测数据；

29、基于阈值数据对所述检测数据进行对比，得到对比数据；

30、基于所述对比数据生成检测报告和控制指令，并基于所述控制指令发出异常告警。

31、本发明的一种隔离器芯片高速检测系统，包括放置模块、检测模块、对比模块、生成模块和提示模块，所述放置模块、所述检测模块、所述对比模块、所述生成模块和所述提示模块依次连接；所述放置模块，用于放置待检测隔离器芯片；所述检测模块，用于对隔离器芯片进行检测，得到检测数据；所述对比模块，基于阈值数据对所述检测数据进行对比，得到对比数据；所述生成模块，基于所述对比数据生成检测报告和控制指令；所述提示模块，基于所述控制指令发出异常告警。当需要对隔离器芯片进行检测时，将待检测隔离器芯片放置在放置模块上；对隔离器芯片进行检测，得到检测数据；基于阈值数据对所述检测数据进行对比，得到对比数据，基于所述对比数据生成检测报告和控制指令，并基于所述控制指令发出异常告警，本发明实现了芯片检测的自动化，相比传统的手工检测方法，提高检测的效率和准确性，并减少人为操作的失误，从而解决了传统的隔离器检测方式导致生产效率降低的问题。

技术特征：

1.一种隔离器芯片高速检测系统，其特征在于，

2.如权利要求1所述的隔离器芯片高速检测系统，其特征在于，

3.如权利要求2所述的隔离器芯片高速检测系统，其特征在于，

4.如权利要求3所述的隔离器芯片高速检测系统，其特征在于，

5.如权利要求4所述的隔离器芯片高速检测系统，其特征在于，

6.如权利要求5所述的隔离器芯片高速检测系统，其特征在于，

7.一种隔离器芯片高速检测方法，应用于权利要求1-6任意一项所述的隔离器芯片高速检测系统，其特征在于，包括以下步骤：

技术总结本发明涉及隔离器检测技术领域，具体涉及一种隔离器芯片高速检测系统及方法，包括放置模块、检测模块、对比模块、生成模块和提示模块，当需要对隔离器芯片进行检测时，将待检测隔离器芯片放置在放置模块上；对隔离器芯片进行检测，得到检测数据；基于阈值数据对检测数据进行对比，得到对比数据，基于对比数据生成检测报告和控制指令，并基于控制指令发出异常告警，本发明实现了芯片检测的自动化，相比传统的手工检测方法，提高检测的效率和准确性，并减少人为操作的失误，从而解决了传统的隔离器检测方式导致生产效率降低的问题。技术研发人员：潘志腾,黄勇,刘清安,高天,蒋钰琦,陈贵光,黄照辉,蔡耀标受保护的技术使用者：桂林光隆光学科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/9/29