一种存储器的测试方法、系统、设备及介质与流程

本发明涉及存储器，特别是涉及一种存储器的测试方法、系统、设备及介质。

背景技术：

1、emmc (embedded multi media card)为mmc协会所订立的、主要是针对手机或平板电脑等产品的内嵌式存储器标准规格，由一个嵌入式存储解决方案组成，带有mmc(多媒体卡)接口、快闪存储器(nand-flash)及emmc控制器。emmc的一个明显优势是在封装中集成了一个emmc控制器，它提供标准接口并管理闪存，使得手机厂商就能专注于产品开发的其它部分，并缩短向市场推出产品的时间。越来越多的移动设备采用emmc作为存储单元。

2、cache功能（高速缓存功能）的开关对emmc存储设备的性能有着重大的影响，也是性能对比时需要严格控制的一个重要因素，因此检验emmc是否存在开启内部后台性能优化的行为，对后续性能的检验和提升有着至关重要的作用。

技术实现思路

1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种存储器的测试方法、系统、设备及介质，用于准确判断存储器是否开启高速缓存功能。

2、为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种存储器的测试方法，包括：

3、对存储器依次进行掉电、上电及初始化处理，并向所述存储器发送高速缓存功能关闭指令；

4、生成多个随机数据，所述随机数据表征随机的数据量、写入地址以及数据序列；

5、将其中一个所述随机数据发送至所述存储器，并对接收完成的所述存储器依次进行掉电、上电及初始化处理；

6、根据发送的所述随机数据的写入地址和数据量，获取所述存储器中的存储数据，并将所述随机数据的数据序列与所述存储数据进行对比处理；

7、当所述随机数据的数据序列与所述存储数据相同时，判定所述存储器的高速缓存功能为关闭状态，并将下一个所述随机数据发送至所述存储器以再次进行对比处理；

8、当所述随机数据的数据序列与所述存储数据不同时，判定所述存储器的高速缓存功能为开启状态。

9、在本发明的一个实施例中，所述生成多个随机数据，所述随机数据表征随机的数据量、写入地址以及数据序列的步骤包括：

10、获取所述存储器的缓存区域的存储容量；

11、随机生成数据量、写入地址以及数据序列，其中，所述数据量小于等于所述缓存区域的存储容量，所述写入地址与所述数据量之和小于等于所述存储器的总容量，每个所述数据序列互不相同；

12、将所述数据量、所述写入地址以及所述数据序列进行组合处理，以生成一个所述随机数据。

13、在本发明的一个实施例中，所述获取所述存储器的缓存区域的存储容量的步骤之前，包括：

14、向所述存储器写入预设基准数据，所述预设基准数据与每个所述数据序列互不相同。

15、在本发明的一个实施例中，所述将其中一个所述随机数据发送至所述存储器，并对接收完成的所述存储器依次进行掉电、上电及初始化处理的步骤包括：

16、向所述存储器发送写入命令，并将一个所述随机数据传输至所述存储器；

17、向所述存储器发送状态监测命令，并在所述存储器处于低功耗状态后，对所述存储器依次进行掉电、上电及初始化处理。

18、在本发明的一个实施例中，所述根据发送的所述随机数据的写入地址，获取所述存储器中的存储数据，并将所述随机数据与所述存储数据进行对比处理的步骤包括：

19、根据发送的所述随机数据的写入地址和数据量，读取所述存储器中对应地址的存储数据；

20、将发送的所述随机数据的数据序列与所述存储数据进行对比，以判断所述数据序列与所述存储数据是否相同。

21、在本发明的一个实施例中，所述对存储器依次进行掉电、上电及初始化处理，并向存储器发送高速缓存功能关闭指令的步骤包括：

22、对所述存储器依次进行掉电、上电及初始化处理，并获取所述存储器的高速缓存功能的状态信息；

23、当所述存储器的高速缓存功能为开启状态时，下发关闭指令，以关闭所述高速缓存功能。

24、在本发明的一个实施例中，所述对所述存储器依次进行掉电、上电及初始化处理，并获取所述存储器的高速缓存功能的状态信息的步骤包括：

25、对所述存储器进行掉电再上电操作，以清除所述存储器的缓存区域上的现有数据；

26、对所述存储器进行初始化处理，以使所述存储器与主机系统之间通信连接；

27、下发读取控制命令，以读取所述存储器的高速缓存功能的状态信息。

28、本发明还提供一种存储器的测试系统，包括：

29、上下电初始化模块，用以对存储器依次进行掉电、上电及初始化处理，并向所述存储器发送高速缓存功能关闭指令；

30、数据生成模块，用以生成多个随机数据，所述随机数据表征随机的数据量、写入地址以及数据序列；

31、数据传输模块，用以将其中一个所述随机数据发送至所述存储器，并对接收完成的所述存储器依次进行掉电、上电及初始化处理；

32、数据校验模块，用以根据发送的所述随机数据的写入地址和数据量，获取所述存储器中的存储数据，并将所述随机数据的数据序列与所述存储数据进行对比处理；

33、其中，当所述随机数据的数据序列与所述存储数据相同时，所述数据校验模块用以判定所述存储器的高速缓存功能为关闭状态，并将下一个所述随机数据发送至所述存储器以再次进行对比处理；

34、当所述随机数据的数据序列与所述存储数据不同时，所述数据校验模块用以判定所述存储器的高速缓存功能为开启状态。

35、本发明还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述任一项所述存储器的测试方法的步骤。

36、本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一项所述存储器的测试方法的步骤。

37、如上所述，本发明的一种存储器的测试方法、系统、设备及介质，具有以下有益效果：本发明可用于准确判断存储器是否开启高速缓存功能，验证设备是否存在开启内部后台性能优化行为，为后续存储器性能的检验和提升提供了参考。

38、当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

技术特征：

1.一种存储器的测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述生成多个随机数据，所述随机数据表征随机的数据量、写入地址以及数据序列的步骤包括：

3.根据权利要求2所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述获取所述存储器的缓存区域的存储容量的步骤之前，包括：

4.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述将其中一个所述随机数据发送至所述存储器，并对接收完成的所述存储器依次进行掉电、上电及初始化处理的步骤包括：

5.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述根据发送的所述随机数据的写入地址，获取所述存储器中的存储数据，并将所述随机数据与所述存储数据进行对比处理的步骤包括：

6.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述对存储器依次进行掉电、上电及初始化处理，并向存储器发送高速缓存功能关闭指令的步骤包括：

7.根据权利要求6所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述对所述存储器依次进行掉电、上电及初始化处理，并获取所述存储器的高速缓存功能的状态信息的步骤包括：

8.一种存储器的测试系统，其特征在于，包括：

9.一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述存储器的测试方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述存储器的测试方法的步骤。

技术总结本发明提供一种存储器的测试方法、系统、设备及介质，测试方法包括：对存储器依次进行掉电、上电及初始化处理，并向存储器发送高速缓存功能关闭指令；生成多个随机数据；将其中一个随机数据发送至存储器，并对接收完成的存储器依次进行掉电、上电及初始化处理；根据发送的随机数据的写入地址和数据量，获取存储器中的存储数据，并将随机数据的数据序列与存储数据进行对比处理；当随机数据的数据序列与存储数据相同时，判定存储器的高速缓存功能为关闭状态，并将下一个随机数据发送至存储器以再次进行对比处理；当随机数据的数据序列与存储数据不同时，判定存储器的高速缓存功能为开启状态。本发明可准确判断存储器是否开启高速缓存功能。技术研发人员：潘慧敏,赵啟鹏受保护的技术使用者：合肥康芯威存储技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/10/10