激光扫描幅面校准方法、装置及相关设备与流程
- 国知局
- 2024-06-21 09:48:20
本申请涉及激光控制,具体涉及一种激光扫描幅面校准方法、装置及相关设备。
背景技术:
1、在通过激光器对工件表面进行清洗等处理时,需要对激光在工件表面的扫描幅面大小进行控制,以保证激光器的正常工作。但由于激光清洗系统中振镜电机的一致性不同以及振镜电机长时间工作出现的损耗,会使激光清洗应用中振镜电机扫描幅面与实际设置扫描幅面出现误差,影响激光器的正常工作。
技术实现思路
1、本申请提供一种激光扫描幅面校准方法、装置及相关设备,旨在消除幅面误差。
2、一方面,本申请提供一种激光扫描幅面校准方法,所述方法包括:
3、在激光加工设备的多个预设的扫描幅面校准类型中,获取当前选择的目标扫描幅面校准类型;
4、若所述目标扫描幅面校准类型为全幅面校准,则获取所述激光加工设备所使用透镜的透镜类型;
5、基于所述透镜类型,确定所述激光加工设备的最大扫描幅面;
6、将所述最大扫描幅面进行分段校准,得到目标占比参数与实际设置扫描幅面的二维关系数组,所述目标占比参数表征为所述激光加工设备所有预期输出的目标扫描幅面与最大扫描幅面的第一比值;
7、基于所述二维关系数组,对所述激光加工设备的扫描幅面进行校准。
8、在本申请一种可能的实现方式中,所述将所述最大扫描幅面进行分段校准,得到目标占比参数与实际设置扫描幅面的二维关系数组,包括:
9、将所述最大扫描幅面进行分段,得到多个初始分段扫描幅面以及每个所述初始分段扫描幅面与所述最大扫描幅面的第二比值;
10、基于所述第二比值,确定目标占比参数与实际设置扫描幅面的二维关系数组。
11、在本申请一种可能的实现方式中,所述基于所述第二比值,确定目标占比参数与实际设置扫描幅面的二维关系数组,包括:
12、确定每个所述第二比值对应的实际设置扫描幅面;
13、将所有所述第二比值按照预设顺序进行排序,得到第二比值集合;
14、确定所述第二比值集合中任意两个相邻的第二比值与其对应的实际设置扫描幅面之间的线性关系;
15、基于所述线性关系,确定目标占比参数与实际设置扫描幅面的二维关系数组。
16、在本申请一种可能的实现方式中,所述基于所述透镜类型,确定所述激光加工设备的最大扫描幅面的步骤包括:
17、获取预设的透镜类型和最大扫描幅面的关系映射表;
18、基于所述关系映射表和所述透镜类型,确定所述激光加工设备的最大扫描幅面。
19、在本申请一种可能的实现方式中,所述基于所述二维关系数组,对所述激光加工设备的扫描幅面进行校准,包括:
20、获取所述激光加工设备预期输出的目标扫描幅面;
21、基于所述目标扫描幅面和所述二维关系数组,对所述激光加工设备的扫描幅面进行校准。
22、在本申请一种可能的实现方式中,所述基于所述目标扫描幅面和所述二维关系数组,对所述激光加工设备的扫描幅面进行校准,包括:
23、计算所述目标扫描幅面与所述最大扫描幅面的占比参数;
24、将所述占比参数输入所述二维关系数组,生成所述占比参数对应的实际设置扫描幅面;
25、通过所述实际设置扫描幅面,对所述激光加工设备的扫描幅面进行校准。
26、另一方面,本申请提供一种激光扫描幅面校准装置,所述装置包括:
27、第一获取单元,用于在激光加工设备的多个预设的扫描幅面校准类型中,获取当前选择的目标扫描幅面校准类型;
28、第二获取单元,用于若所述目标扫描幅面校准类型为全幅面校准,则获取所述激光加工设备所使用透镜的透镜类型;
29、第一确定单元,用于基于所述透镜类型,确定所述激光加工设备的最大扫描幅面;
30、分段校准单元,用于将所述最大扫描幅面进行分段校准,得到目标占比参数与实际设置扫描幅面的二维关系数组,所述目标占比参数表征为所述激光加工设备所有预期输出的目标扫描幅面与最大扫描幅面的第一比值;
31、校准单元,用于基于所述二维关系数组,对所述激光加工设备的扫描幅面进行校准。
32、另一方面,本申请还提供一种计算机设备,所述计算机设备包括:
33、一个或多个处理器;
34、存储器;以及
35、一个或多个应用程序,其中所述一个或多个应用程序被存储于所述存储器中,并配置为由所述处理器执行以实现所述的激光扫描幅面校准方法。
36、另一方面,本申请还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器进行加载,以执行所述的激光扫描幅面校准方法中的步骤。
37、另一方面,本申请实施例还提供一种计算机程序产品,包括计算机程序或指令,计算机程序或指令被处理器执行时所述激光扫描幅面校准方法中的步骤。
38、本申请实施例,通过在激光加工设备的多个预设的扫描幅面校准类型中,获取当前选择的目标扫描幅面校准类型;若所述目标扫描幅面校准类型为全幅面校准,则获取所述激光加工设备所使用透镜的透镜类型;基于所述透镜类型,确定所述激光加工设备的最大扫描幅面;将所述最大扫描幅面进行分段校准,得到目标占比参数与实际设置扫描幅面的二维关系数组,所述目标占比参数表征为所述激光加工设备所有预期输出的目标扫描幅面与最大扫描幅面的第一比值;基于所述二维关系数组,对所述激光加工设备的扫描幅面进行校准,其通过采用全幅面校准方式可以针对多个预期输出的目标扫描幅面进行校准,提高了校准精度和校准效率。
技术特征:1.一种激光扫描幅面校准方法,其特征在于,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的激光扫描幅面校准方法,其特征在于,所述将所述最大扫描幅面进行分段校准,得到目标占比参数与实际设置扫描幅面的二维关系数组,包括:
3.根据权利要求2所述的激光扫描幅面校准方法,其特征在于,所述基于所述第二比值,确定目标占比参数与实际设置扫描幅面的二维关系数组,包括:
4.根据权利要求1所述的激光扫描幅面校准方法,其特征在于,所述基于所述透镜类型,确定所述激光加工设备的最大扫描幅面的步骤包括:
5.根据权利要求1所述的激光扫描幅面校准方法,其特征在于,所述基于所述二维关系数组,对所述激光加工设备的扫描幅面进行校准,包括:
6.根据权利要求5所述的激光扫描幅面校准方法,其特征在于,所述基于所述目标扫描幅面和所述二维关系数组,对所述激光加工设备的扫描幅面进行校准,包括:
7.一种激光扫描幅面校准装置,其特征在于,所述装置包括:
8.一种计算机设备,其特征在于,所述计算机设备包括:
9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器进行加载,以执行权利要求1至6任一项所述的激光扫描幅面校准方法中的步骤。
10.一种计算机程序产品,包括计算机程序/指令,其特征在于,所述计算机程序/指令被处理器执行时实现权利要求1至6任一项所述的激光扫描幅面校准方法的步骤。
技术总结本申请提供一种激光扫描幅面校准方法、装置及相关设备。该激光扫描幅面校准方法包括在激光加工设备的多个预设的扫描幅面校准类型中,获取当前选择的目标扫描幅面校准类型;若所述目标扫描幅面校准类型为全幅面校准,则获取所述激光加工设备所使用透镜的透镜类型;基于所述透镜类型,确定所述激光加工设备的最大扫描幅面;将所述最大扫描幅面进行分段校准,得到目标占比参数与实际设置扫描幅面的二维关系数组,所述目标占比参数表征为所述激光加工设备所有预期输出的目标扫描幅面与最大扫描幅面的第一比值;基于所述二维关系数组,对所述激光加工设备的扫描幅面进行校准。技术研发人员:聂宵,闫大鹏受保护的技术使用者:武汉锐科光纤激光技术股份有限公司技术研发日:技术公布日:2024/6/13本文地址:https://www.jishuxx.com/zhuanli/20240618/16428.html
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