器件状态监测方法、装置、存储介质及电子设备与流程
- 国知局
- 2024-07-31 23:11:32
本公开涉及嵌入式,尤其涉及一种器件状态监测方法、装置、存储介质及电子设备。
背景技术:
1、随着嵌入式技术的快速发展,嵌入式设备的规模也在不断扩展,相应的,嵌入式设备的拓展连接和控制器件的数量也在不断增加。然而,随着嵌入式设备中同类器件数量的增加,当嵌入式设备中某一器件发生访问故障时,对故障器件的定位也变得越来越困难,从而导致对访问器件的效率比较低的问题。
2、现有技术中,在嵌入式设备中的器件发生错误或者异常情况时,服务器只会接收到器件返回的错误码或者错误描述等信息,这类信息是根据器件类型确定的,也就是说,同一类型的器件发生错误时,只会返回一个错误码。但是在嵌入式设备中存在多个同类型器件时,根据错误码无法确定具体发生错误的器件信息,只能依靠于人工排查和试错同类型的所有器件,而人工排查又存在一定的局限性,会出现对器件故障判断失误的情况,从而导致对器件排查的效率和准确性都比较低的问题。
3、针对上述排查器件故障原因的效率比较低的问题,目前尚未存在良好的解决方案。
技术实现思路
1、有鉴于此,本公开提供一种器件状态监测方法、装置、存储介质及电子设备,可以有效提高监测电子元器件的效率。
2、根据本公开实施例的第一方面,提供了一种器件状态监测方法,所述方法包括:
3、获取访问信息,其中,所述访问信息中包括至少一个电子元器件访问节点的错误信息,所述访问节点为访问协议中的节点;
4、依据所述访问信息,监测所述电子元器件的状态。
5、可选的,所述获取访问信息,包括:
6、响应于确定所述电子元器件产生访问错误,则依据产生访问错误的访问节点,获取所述访问信息。
7、可选的,所述依据所述访问信息,监测所述电子元器件的状态,包括:
8、响应于确定所述访问信息中错误信息的总数量达到第一阈值,则拒绝对所述电子元器件进行访问,并依据所述访问信息,确定所述电子元器件的状态。
9、可选的,所述依据所述访问信息,监测所述电子元器件的状态,包括:
10、响应于确定所述访问信息中错误信息的总数量未达到第一阈值,则依据所述访问协议对所述电子元器件进行访问;
11、响应于确定对所述电子元器件访问成功,则清空所述访问信息中的错误信息的总数量。
12、可选的,在依据所述访问协议对所述电子元器件进行访问之后,所述方法还包括:
13、响应于确定对所述电子元器件访问失败且所述访问信息中初始化访问协议的次数未达到第二阈值,则初始化所述访问协议;
14、依据初始化后的访问协议,对所述电子元器件进行访问。
15、可选的,在依据所述访问协议对所述电子元器件进行访问之后,所述方法还包括:
16、响应于确定对所述电子元器件访问失败且所述访问信息中初始化访问协议的次数达到第二阈值,则结束对所述电子元器件的访问。
17、根据本公开实施例的第二方面,提供了一种器件状态监测装置,所述装置包括:
18、获取单元,用于获取访问信息,其中,所述访问信息中包括至少一个电子元器件访问节点的错误信息,所述访问节点为访问协议中的节点;
19、监测单元,用于依据所述访问信息,监测所述电子元器件的状态。
20、可选的,获取单元,具体用于:
21、响应于确定所述电子元器件产生访问错误,则依据产生访问错误的访问节点,获取所述访问信息。
22、可选的,监测单元,具体用于:
23、响应于确定所述访问信息中错误信息的总数量达到第一阈值,则拒绝对所述电子元器件进行访问,并依据所述访问信息,确定所述电子元器件的状态。
24、可选的,监测单元,具体用于:
25、响应于确定所述访问信息中错误信息的总数量未达到第一阈值,则依据所述访问协议对所述电子元器件进行访问;
26、响应于确定对所述电子元器件访问成功,则清空所述访问信息中的错误信息的总数量。
27、可选的,所述装置还包括:
28、初始化单元,用于响应于确定对所述电子元器件访问失败且所述访问信息中初始化访问协议的次数未达到第二阈值,则初始化所述访问协议;
29、依据初始化后的访问协议,对所述电子元器件进行访问。
30、可选的,所述装置还包括:
31、结束单元,用于响应于确定对所述电子元器件访问失败且所述访问信息中初始化访问协议的次数达到第二阈值,则结束对所述电子元器件的访问。
32、根据本公开实施例的第三方面,提供了一种非临时性计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现上述第一方面任一所述方法的步骤。
33、根据本公开实施例的第四方面,提供了一种电子设备,包括:
34、处理器;
35、用于存储处理器可执行指令的存储器;
36、其中,所述处理器通过运行实现上述第一方面任一所述方法的步骤。
37、根据本公开实施例的第五方面,提供了一种计算机程序产品,该计算机程序产品被执行时实现上述第一方面任一所述方法的步骤。
38、本公开实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果:
39、通过获取每个电子元器件中每个访问节点的错误信息,可以在电子元器件访问发生错误时,快速准确的确定产生访问错误的电子元器件及对应的错误信息,不再需要人工对同类型电子元器件进行逐一排查,提高了对电子元器件的状态监测效率。
40、应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本公开。
技术特征:1.一种器件状态监测方法,其特征在于,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取访问信息,包括:
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述依据所述访问信息,监测所述电子元器件的状态,包括:
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述依据所述访问信息,监测所述电子元器件的状态,包括:
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在依据所述访问协议对所述电子元器件进行访问之后,所述方法还包括:
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在依据所述访问协议对所述电子元器件进行访问之后,所述方法还包括:
7.一种器件状态监测装置,其特征在于,所述装置包括:
8.一种非临时性计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现权利要求1~6任一所述的方法。
9.一种电子设备,其特征在于,包括:
10.一种计算机程序产品,其特征在于,该计算机程序产品被执行时实现权利要求1~6任一所述的方法。
技术总结本公开提供一种器件状态监测方法、装置、存储介质及电子设备,其中,所述方法包括:获取访问信息,其中,所述访问信息中包括至少一个电子元器件访问节点的错误信息,所述访问节点为访问协议中的节点;依据所述访问信息,监测所述电子元器件的状态。通过获取每个电子元器件中每个访问节点的错误信息,可以在电子元器件访问发生错误时,快速准确的确定产生访问错误的电子元器件及对应的错误信息,不再需要人工对同类型电子元器件进行逐一排查,提高了对电子元器件的状态监测效率。技术研发人员:祁国受保护的技术使用者:杭州迪普科技股份有限公司技术研发日:技术公布日:2024/7/29本文地址:https://www.jishuxx.com/zhuanli/20240730/196318.html
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