一种存储芯片状态数据的分析装置、方法及介质与流程

本发明涉及芯片，特别是涉及一种存储芯片状态数据的分析装置、方法及介质。

背景技术：

1、随着存储芯片的广泛应用，对存储芯片的性能与可靠性要求也越来越高。因此，需及时获知并管控存储芯片的运行状态信息，并根据运行状态更新存储芯片的控制策略。然而，现有技术中，用户无法及时获知存储芯片的使用寿命、擦写次数以及bad-block（坏块）数量等运行状态信息。

技术实现思路

1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种存储芯片状态数据的分析装置、方法及介质，用于解决现有技术中用户无法及时获知存储芯片的运行状态信息的问题。

2、为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种存储芯片状态数据的分析装置，包括：

3、测试板，通信连接待测试的存储芯片，用以运行测试脚本，对所述存储芯片进行读写压力测试；以及

4、协议分析板，通信连接于所述测试板，用以记录所述测试板向所述存储芯片发送的上层指令，以及记录所述存储芯片向所述测试板反馈的状态表信息，并对所述上层指令和所述状态表信息进行解析，生成所述存储芯片的状态数据。

5、在本发明的一实施例中，还包括主机，所述主机通信连接于所述协议分析板，用以根据所述状态数据，获取所述存储芯片的运行状态信息。

6、在本发明的一实施例中，所述测试板包括：

7、处理模块；

8、闪存模块，通信连接所述处理模块；

9、芯片接口，通信连接所述处理模块，所述芯片接口用以安装所述存储芯片；以及

10、测试调试接口，通信连接所述芯片接口。

11、在本发明的一实施例中，所述测试板还包括测试电源模块，所述测试电源模块用以向所述处理模块、所述闪存模块以及所述芯片接口供电。

12、在本发明的一实施例中，所述协议分析板包括：

13、微控制模块；

14、数据接口，与所述微控制模块通信连接，所述主机通信连接于所述数据接口；以及

15、分析调试接口，与所述微控制模块通信连接，所述分析调试接口通信连接于所述测试调试接口。

16、在本发明的一实施例中，所述协议分析板还包括分析电源模块，所述分析电源模块用以向所述微控制模块供电。

17、本发明还提供一种存储芯片状态数据的分析方法，包括：

18、通过测试板运行测试脚本，对存储芯片进行读写压力测试；

19、通过协议分析板记录所述测试板向所述存储芯片发送的上层指令，以及记录所述存储芯片向所述测试板反馈的状态表信息；以及

20、通过所述协议分析板对所述上层指令和所述状态表信息进行解析，生成所述存储芯片的状态数据。

21、在本发明的一实施例中，在通过所述协议分析板对所述上层指令和所述状态表信息进行解析，生成所述存储芯片的状态数据的步骤之后，包括：

22、通过所述协议分析板将所述状态数据传输至主机；以及

23、通过所述主机根据所述状态数据，获取并显示所述存储芯片的运行状态信息。

24、在本发明的一实施例中，所述通过所述协议分析板对所述上层指令和所述状态表信息进行解析，生成所述存储芯片的状态数据的步骤，包括：

25、通过所述协议分析板对所述上层指令和所述状态表信息进行解析，生成所述存储芯片的协议数据；以及

26、通过所述主机根据所述协议数据，向所述协议分析板发送信息获取指令，以获取所述存储芯片的实时状态信息。

27、本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被计算机的处理器执行时，使计算机执行上述任一项所述的存储芯片状态数据的分析方法。

28、如上所述，本发明的一种存储芯片状态数据的分析装置、方法及介质，具有以下有益效果：本发明可快速准确获取存储芯片的状态数据，适用于各类型的存储芯片使用场景。

29、当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

技术特征：

1.一种存储芯片状态数据的分析装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储芯片状态数据的分析装置，其特征在于，还包括主机，所述主机通信连接于所述协议分析板，用以根据所述状态数据，获取所述存储芯片的运行状态信息。

3.根据权利要求2所述的存储芯片状态数据的分析装置，其特征在于，所述测试板包括：

4.根据权利要求3所述的存储芯片状态数据的分析装置，其特征在于，所述测试板还包括测试电源模块，所述测试电源模块用以向所述处理模块、所述闪存模块以及所述芯片接口供电。

5.根据权利要求3所述的存储芯片状态数据的分析装置，其特征在于，所述协议分析板包括：

6.根据权利要求5所述的存储芯片状态数据的分析装置，其特征在于，所述协议分析板还包括分析电源模块，所述分析电源模块用以向所述微控制模块供电。

7.一种存储芯片状态数据的分析方法，其特征在于，包括：

8.根据权利要求7所述的存储芯片状态数据的分析方法，其特征在于，在通过所述协议分析板对所述上层指令和所述状态表信息进行解析，生成所述存储芯片的状态数据的步骤之后，包括：

9.根据权利要求7所述的存储芯片状态数据的分析方法，其特征在于，所述通过所述协议分析板对所述上层指令和所述状态表信息进行解析，生成所述存储芯片的状态数据的步骤，包括：

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，该计算机程序被计算机的处理器执行时，使计算机执行权利要求7-9任一项所述的存储芯片状态数据的分析方法。

技术总结本发明提供一种存储芯片状态数据的分析装置、方法及介质，涉及芯片技术领域，所述分析装置包括：测试板，通信连接待测试的存储芯片，用以运行测试脚本，对所述存储芯片进行读写压力测试；以及协议分析板，通信连接于所述测试板，用以记录所述测试板向所述存储芯片发送的上层指令，以及记录所述存储芯片向所述测试板反馈的状态表信息，并对所述上层指令和所述状态表信息进行解析，生成所述存储芯片的状态数据。本发明可快速准确获取存储芯片的状态数据，且适用多种存储芯片使用场景。技术研发人员：余玉,许展榕受保护的技术使用者：合肥康芯威存储技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/16