一种校准控制电路、电子设备和校准控制方法与流程

本公开涉及半导体存储器，尤其涉及一种校准控制电路、电子设备和校准控制方法。

背景技术：

1、在动态随机存取存储器(dynamic random access memory，dram)中，存在输出驱动模块和终结电阻模块，用于实现信号的传输过程。在dram的工作过程中，需要对输出驱动模块和终结电阻模块的相关阻值进行校准，以匹配实际工作条件(例如电压、温度)，以上称为zq校准。然而，zq校准会占用一定的功耗和系统时间，降低了存储器的性能。

技术实现思路

1、本公开提供了一种校准控制电路、电子设备和校准控制方法，能够降低zq校准处理的功耗，节省存储器的资源。

2、本公开的技术方案是这样实现的：

3、第一方面，本公开实施例提供了一种校准控制电路，应用于存储器，包括：

4、工艺模块，配置为在第一测试模式下时，对存储器进行工艺角测试，得到测试结果信号，且测试结果信号用于确定工艺角参数；片外校准模块，配置为接收并存储用户发送的第一校准码；其中，第一校准码是用户根据存储器的当前环境参数和工艺角参数确定的；模式切换模块，配置为接收校准模式信号和第一校准码；在校准模式信号指示片外校准模式的情况下，将第一校准码确定为zq校准码。

5、在一些实施例中，工艺模块包括监测模块和读写寄存器组；其中，读写寄存器组，配置为在第一测试模式下，接收包含开启时间和关闭时间的写指令，并存储开启时间和关闭时间；监测模块，配置为在第一测试模式下，基于开启时间和关闭时间对存储器进行工艺角测试，得到测试结果信号；读写寄存器组，还配置为采集并存储测试结果信号；以及在接收到第一读指令的情况下，输出测试结果信号。

6、在一些实施例中，工艺角参数用于在多个预设系数值中确定目标系数值；其中，预设系数值用于指示第一校准码与环境参数之间的关系，且不同的预设系数值与不同的工艺角参数具有对应关系；在存储器的工作过程中，用户基于目标系数值、当前环境参数和校准码基础值计算得到第一校准码，校准码基础值是指第一校准码在标准环境参数下的取值。

7、在一些实施例中，工艺角参数用于在多个预设参数表中选择目标参数表；其中，预设参数表用于指示不同的环境参数与第一校准码的不同取值之间的映射关系，且不同的预设参数表与不同的工艺角参数具有对应关系；在存储器的工作过程中，用户利用目标参数表确定当前环境参数对应的第一校准码。

8、在一些实施例中，校准控制电路还包括片内校准模块；其中，片内校准模块，配置为接收使能信号；在使能信号处于有效状态的情况下，对存储器进行zq自校准处理，得到适应于当前环境参数的第二校准码；模式切换模块，还配置为接收第二校准码；在校准模式信号指示片内校准模式的情况下，将第二校准码确定为zq校准码。

9、在一些实施例中，模式切换模块包括第一选择模块和第二选择模块；其中，第一选择模块，配置为接收校准模式信号；在校准模式信号指示片外校准模式的情况下，输出处于第一状态的选择信号和处于无效状态的使能信号；或者，在校准模式信号指示片内校准模式的情况下，输出处于第二状态的选择信号和处于有效状态的使能信号；第二选择模块，配置为接收选择信号；在选择信号处于第一状态的情况下，将第一校准码输出为zq校准码；或者，在选择信号处于第二状态的情况下，将第二校准码输出为zq校准码。

10、在一些实施例中，第一选择模块包括第一只写寄存器，第二选择模块包括多路选择器，片外校准模块包括第二只写寄存器组；其中，第一只写寄存器的输入端用于接收校准模式信号，第二只写寄存器组的输入端用于接收第一校准码；片内校准模块的使能端，与第一只写寄存器的第一输出端连接，用于接收使能信号；多路选择器的控制端，与第一只写寄存器的第二输出端连接，用于接收选择信号；多路选择器的第一输入端，与片内校准模块的输出端连接，用于接收第二校准码；多路选择器的第二输入端，与第二只写寄存器组的输出端连接，用于接收第一校准码；多路选择器的输出端用于输出zq校准码。

11、在一些实施例中，校准控制电路还包括采集模块，采集模块的输入端与模式切换模块的输出端连接；片内校准模块，还配置为在第二测试模式下，针对标准环境参数对存储器进行zq自校准处理，得到校准码基础值；模式切换模块，还配置为在第二测试模式下，接收指示片内校准模式的校准模式信号，以输出校准码基础值；采集模块，配置为采集校准码基础值，且校准码基础值用于确定第一校准码。

12、在一些实施例中，采集模块包括只读寄存器组，只读寄存器组的输入端与多路选择器的输出端连接；其中，只读寄存器组，配置为采集多路选择器的输出信号；只读寄存器组，还配置为在第二测试模式下，接收第二读指令；并根据第二读指令，输出校准码基础值。

13、在一些实施例中，存储器还包括输出驱动模块和终结电阻模块；其中，存储器，还配置为将zq校准码写入输出驱动模块和终结电阻模块，以实现输出驱动模块和终结电阻模块的阻值校准处理。

14、第二方面，本公开实施例提供了一种电子设备，该电子设备包括存储器，且该存储器包括如第一方面所述的校准控制电路。

15、第三方面，本公开实施例提供了一种校准控制方法，应用于包括存储器的电子设备，该方法包括：

16、在第一测试模式下，对存储器进行工艺角测试，得到测试结果信号，且测试结果信号用于确定工艺角参数；在将工艺角参数提供给用户后，接收用户发送的第一校准码；其中，第一校准码是用户根据存储器的当前环境参数和工艺角参数确定的；接收校准模式信号，在校准模式信号指示片外校准模式的情况下，将第一校准码确定为zq校准码。

17、在一些实施例中，所述方法还包括：在校准模式信号指示片内校准模式时，控制存储器进行zq自校准处理，得到第二校准码，并将第二校准码确定为zq校准码。

18、在一些实施例中，所述方法还包括：检测存储器的当前环境参数；向用户提供工艺角参数、当前环境参数和校准码基础值；接收第一校准码，且第一校准码是通过目标系数值、校准码基础值和当前环境参数计算得到的；其中，目标系数值是基于工艺角参数在多个预设系数值中选择得到的，预设系数值用于指示第一校准码与环境参数之间的关系，且不同的预设系数值与不同的工艺角参数具有对应关系；校准码基础值是指第一校准码在标准环境参数下的取值。

19、在一些实施例中，所述方法还包括：在第二测试模式下，控制校准模式信号指示片内校准模式；基于标准环境参数控制存储器进行zq自校准处理，得到校准码基础值。

20、在一些实施例中，多个预设系数值是电子设备提供给用户的；或者，所述方法还包括：在第二测试模式下，控制校准模式信号指示片内校准模式；基于多个环境参数控制存储器分别进行多次zq自校准处理，得到多个候选校准码；对多个环境参数和多个候选校准码进行拟合处理，确定工艺角参数对应的预设系数值。

21、在一些实施例中，目标系数值包括电压系数和温度系数，标准环境参数包括标准电压参数和标准温度参数，当前环境参数包括当前电压参数和当前温度参数；将当前电压参数和标准电压参数之间的差值记为电压变化值，将当前温度参数和标准温度参数之间的差值记为温度变化值；第一校准码是通过对校准码基础值、电压变化值和电压系数的乘积以及温度变化值和温度系数的乘积进行求和处理得到的。

22、在一些实施例中，所述方法还包括：检测存储器的当前环境参数；向用户提供当前环境参数和工艺角参数；接收第一校准码，且第一校准码是通过目标参数表和当前环境参数确定的；其中，目标参数表是基于工艺角参数在多个预设参数表中选择的，预设参数表用于指示不同的环境参数与第一校准码的不同取值之间的映射关系，且不同的预设参数表与不同的工艺角参数具有对应关系。

23、在一些实施例中，多个预设参数表是电子设备提供给用户的；或者，所述方法还包括：在第二测试模式下，控制校准模式信号指示片内校准模式；基于多个环境参数控制存储器分别进行多次zq自校准处理，得到多个候选校准码；基于多个环境参数和多个候选校准码，确定工艺角参数对应的预设参数表。

24、本公开实施例提供了一种校准控制电路、电子设备和校准控制方法，借助于工艺角参数，用户可以快速且合理的确定第一校准码，进而在片外校准模式下直接设定zq校准码，不仅降低功耗而且节约系统时间。