基于EMMC的性能测试方法、装置及其存储介质与流程

本发明涉及芯片测试，尤其是一种基于emmc的性能测试方法、装置及其存储介质。

背景技术：

1、嵌入式多媒体卡(embeded multi media card，emmc)，是一种嵌入式非易失性存储器系统，由闪存和闪存控制器两部组成。emmc的一个明显优势是在封装中集成了一个闪存控制器，它采用jedec标准球状引脚栅格阵列封装(ball grid array，bga)，并采用统一闪存接口管理闪存。为了保证能准确地获取emmc的性能参数，以便于优化产品，需要对emmc的读取和存储速度进行规范化测试。而现有的emmc芯片的读取存储测试方法，无法灵活、快速地设置测试参数，比如不同模式和不同的总线宽度下，emmc芯片对不同数据的读取存储性能无法得到充分的体现。

技术实现思路

1、为解决上述问题，本发明的目的在于提供一种基于emmc的性能测试方法、装置及其存储介质，通过分配所述存储芯片的单次传送文件大小以及测试次数；根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行顺序读写操作和随机读写操作，能精准地得到不同模式和不同的总线宽度下emmc芯片对不同数据的读取存储性能，提高emmc芯片的性能测试准确性。

2、本发明解决其问题所采用的技术方案是：

3、第一方面，本申请实施例提供一种基于emmc的性能测试方法，所述方法包括：读取存储芯片的总线宽度和测试文件的大小，分配所述存储芯片的单次传送文件大小以及测试次数；根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行顺序读写操作，并记录所述顺序读写操作的时长；对所述存储芯片进行多次顺序写入操作；根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行随机读写操作，并记录所述随机读写操作的时长；根据所述顺序读写操作的时长和所述随机读写操作的时长，得到所述存储芯片的性能结果。

4、第二方面，本申请实施例提供一种基于emmc的性能测试装置，包括：分配模块，用于读取存储芯片的总线宽度和测试文件的大小，分配所述存储芯片的单次传送文件大小以及测试次数；顺序模块，用于根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行顺序读写操作，并记录所述顺序读写操作的时长；写入模块，用于对所述存储芯片进行多次顺序写入操作；随机模块，用于根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行随机读写操作，并记录所述随机读写操作的时长；计算模块，用于根据所述顺序读写操作的时长和所述随机读写操作的时长，得到所述存储芯片的性能结果。

5、第三方面，本申请实施例提供一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现如上所述的基于emmc的性能测试方法。

6、第四方面，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现如上所述的基于emmc的性能测试方法。

7、本申请实施例，通过读取存储芯片的总线宽度和测试文件的大小，分配存储芯片的单次传送文件大小以及测试次数；根据单次传送文件大小和测试次数，对存储芯片进行顺序读写操作，并记录顺序读写操作的时长；对存储芯片进行多次顺序写入操作；根据单次传送文件大小和测试次数，对存储芯片进行随机读写操作，并记录随机读写操作的时长；根据顺序读写操作的时长和随机读写操作的时长，得到存储芯片的性能结果。，能精准地得到不同模式和不同的总线宽度下emmc芯片对不同数据的读取存储性能，提高emmc芯片的性能测试准确性。

8、本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

技术特征：

1.一种基于emmc的性能测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种基于emmc的性能测试方法，其特征在于，所述读取存储芯片的总线宽度和测试文件的大小，分配所述存储芯片的单次传送文件大小以及测试次数，包括：

3.根据权利要求1所述的一种基于emmc的性能测试方法，其特征在于，所述根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行顺序读写操作，并记录所述顺序读写操作的时长，包括：

4.根据权利要求3所述的一种基于emmc的性能测试方法，其特征在于，所述根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行顺序读写操作，并记录所述顺序读写操作的时长，还包括：

5.根据权利要求4所述的一种基于emmc的性能测试方法，其特征在于，所述根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行随机读写操作，并记录所述随机读写操作的时长，包括：

6.根据权利要求5所述的一种基于emmc的性能测试方法，其特征在于，所述根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行随机读写操作，并记录所述随机读写操作的时长，还包括：

7.根据权利要求6所述的一种基于emmc的性能测试方法，其特征在于，所述根据所述顺序读写操作的时长和所述随机读写操作的时长，得到所述存储芯片的性能结果，包括：

8.一种基于emmc的性能测试装置，其特征在于，包括：

9.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现如权利要求1至7任意一项所述的基于emmc的性能测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现如权利要求1至7任意一项所述的基于emmc的性能测试方法。

技术总结本发明公开了一种基于EMMC的性能测试方法、装置及其存储介质，所述方法包括以下步骤：读取存储芯片的总线宽度和测试文件的大小，分配存储芯片的单次传送文件大小以及测试次数；根据单次传送文件大小和测试次数，对存储芯片进行顺序读写操作，并记录顺序读写操作的时长；对存储芯片进行多次顺序写入操作；根据单次传送文件大小和测试次数，对存储芯片进行随机读写操作，并记录随机读写操作的时长；根据顺序读写操作的时长和随机读写操作的时长，得到存储芯片的性能结果，能精准地得到不同模式和不同的总线宽度下EMMC芯片对不同数据的读取存储性能，提高EMMC芯片的性能测试准确性。技术研发人员：杨焕,宋魏杰,赖鼐,龚晖受保护的技术使用者：珠海妙存科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/16