闪存芯片老化测试方法、装置、设备及介质与流程

本发明涉及测试，尤其涉及一种闪存芯片老化测试方法、装置、设备及介质。

背景技术：

1、闪存芯片是一种非易失性存储器件，具有快速读取速度和长期数据保存的特点，可应用于安卓移动终端。现有技术中，通常使用adb工具测试闪存芯片的可靠性和耐久性。然而使用adb工具需要安卓移动终端开放root权限，而手机厂商为了保障自身权益一般不会开放root权限。且使用adb工具测试闪存芯片时，需要使用电脑连接安卓移动终端，在电脑端输入命令运行工具后才能进行测试，操作比较繁琐。

2、因此，现有的闪存芯片测试方法存在测试效率低的问题。

技术实现思路

1、本发明实施例提供了一种闪存芯片老化测试方法、装置、设备及介质，旨在解决现有的闪存芯片测试方法存在测试效率低的问题。

2、第一方面，本发明实施例提供了一种闪存芯片老化测试方法，该方法应用于移动端的控制器中，所述移动端还包括闪存芯片，所述控制器与所述闪存芯片进行通信连接，所述方法包括：

3、接收用户操作指令，根据所述用户操作指令从预设的测试模式库中获取目标测试模式；

4、从预设的常驻内存中获取与所述目标测试模式对应的内存块；

5、根据所述目标测试模式及所述用户操作指令中的单个写入文件参数在所述闪存芯片中创建第一目标文件；

6、将所述内存块中存储的数据信息按预设的单位数据量依次写入所述第一目标文件，得到第二目标文件；

7、对所述第二目标文件进行校验得到校验结果；

8、若校验结果为校验成功，则释放所述常驻内存并获取下一目标测试模式以持续对所述闪存芯片进行老化测试。

9、第二方面，本发明实施例还提供了一种闪存芯片老化测试装置，该装置配置于移动端的控制器中，所述移动端还包括闪存芯片，所述控制器与所述闪存芯片进行通信连接，所述装置包括：

10、第一获取单元，用于接收用户操作指令，根据所述用户操作指令从预设的测试模式库中获取目标测试模式；

11、第二获取单元，用于从预设的常驻内存中获取与所述目标测试模式对应的内存块；

12、创建单元，用于根据所述目标测试模式及所述用户操作指令中的单个写入文件参数在所述闪存芯片中创建第一目标文件；

13、写入单元，用于将所述内存块中存储的数据信息按预设的单位数据量依次写入所述第一目标文件，得到第二目标文件；

14、校验单元，用于对所述第二目标文件进行校验得到校验结果；

15、第三获取单元，用于若校验结果为校验成功，则释放所述常驻内存并获取下一目标测试模式以持续对所述闪存芯片进行老化测试。

16、第三方面，本发明实施例还提供了一种电子设备，其包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述第一方面所述方法。

17、第四方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现上述第一方面所述方法。

18、本发明实施例提供了一种闪存芯片老化测试方法、装置、设备及介质，该方法应用于移动端的控制器中，所述移动端还包括闪存芯片，所述控制器与所述闪存芯片进行通信连接，所述方法包括：接收用户操作指令，根据所述用户操作指令从预设的测试模式库中获取目标测试模式；从预设的常驻内存中获取与所述目标测试模式对应的内存块；根据所述目标测试模式及所述用户操作指令中的单个写入文件参数在所述闪存芯片中创建第一目标文件；将所述内存块中存储的数据信息按预设的单位数据量依次写入所述第一目标文件，得到第二目标文件；对所述第二目标文件进行校验得到校验结果；若校验结果为校验成功，则释放所述常驻内存并获取下一目标测试模式以持续对所述闪存芯片进行老化测试。本发明实施例可基于目标测试模式对闪存芯片进行测试，能最大限度模拟用户的读写操作，提高测试效率和测试结果的可靠性。

技术特征：

1.一种闪存芯片老化测试方法，其特征在于，该方法应用于移动端的控制器中，所述移动端还包括闪存芯片，所述控制器与所述闪存芯片进行通信连接，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的闪存芯片老化测试方法，其特征在于，所述对所述第二目标文件进行校验得到校验结果之后，还包括：

3.根据权利要求1所述的闪存芯片老化测试方法，其特征在于，所述根据所述用户操作指令从预设的测试模式库中获取目标测试模式，包括：

4.根据权利要求3所述的闪存芯片老化测试方法，其特征在于，所述从预设的常驻内存中获取与所述目标测试模式对应的内存块之前，还包括：

5.根据权利要求1所述的闪存芯片老化测试方法，其特征在于，所述若校验结果为校验成功之后，还包括：

6.根据权利要求3所述的闪存芯片老化测试方法，其特征在于，所述目标测试模式为覆盖测试模式或随机测试模式，所述根据所述目标测试模式及所述用户操作指令中的单个写入文件参数在所述闪存芯片中创建第一目标文件，包括：

7.根据权利要求6所述的闪存芯片老化测试方法，其特征在于，所述将所述内存块中存储的数据信息按预设的单位数据量依次写入所述第一目标文件，得到第二目标文件，包括：

8.一种闪存芯片老化测试装置，其特征在于，该装置配置于移动端的控制器中，所述移动端还包括闪存芯片，所述控制器与所述闪存芯片进行通信连接，所述装置包括：

9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7中任一项所述的闪存芯片老化测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时使所述处理器执行如权利要求1-7任一项所述的闪存芯片老化测试方法。

技术总结本发明实施例提供了一种闪存芯片老化测试方法、装置、设备及介质，该方法包括：接收用户操作指令，根据用户操作指令从预设的测试模式库中获取目标测试模式；从预设的常驻内存中获取与目标测试模式对应的内存块；根据目标测试模式及用户操作指令中的单个写入文件参数在闪存芯片中创建第一目标文件；将内存块中存储的数据信息按预设的单位数据量依次写入第一目标文件，得到第二目标文件；对第二目标文件进行校验得到校验结果；若校验结果为校验成功，则释放常驻内存并获取下一目标测试模式以持续对闪存芯片进行老化测试。本发明实施例可基于目标测试模式对闪存芯片进行测试，能最大限度模拟用户的读写操作，提高测试效率和测试结果的可靠性。技术研发人员：张松源,魏桂芳,张业受保护的技术使用者：东莞忆联信息系统有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/15