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测试方法、装置和计算机设备与流程

  • 国知局
  • 2024-07-31 19:27:31

本技术涉及芯片测试,特别是涉及一种测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。

背景技术:

1、存储器卡是一种集成电路卡片(integrated circuit card,ic卡),主要用于存储和处理数据,其能够实现身份认证、支付、存储与传输数据以及安全控制等功能。

2、为了确保ic卡的正常工作、提高ic卡的可靠性和安全性、保障ic卡在实际应用中的稳定和可靠性,需要对ic卡进行相应测试,然而,在通常情况下,对ic卡的自动化测试只能涵盖较少部分的测试内容,因此仅能保证ic卡的正常应用功能,若要确保对ic卡进行全面测试,通常需要人工进行其余内容的测试,而这会造成芯片测试效率低下。

技术实现思路

1、基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种提高芯片测试效率的测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。

2、第一方面,本技术提供了一种测试方法,包括:

3、接收配置指令;

4、根据所述配置指令,从预存的测试案例中确定出至少一个目标测试案例;所述测试案例包括硬件测试案例和软件测试案例;

5、当所述目标测试案例包含硬件测试案例时,输出第一控制指令以将待测试存储器卡移动至所述硬件测试案例对应的目标测试位置进行测试。

6、在其中一个实施例中,所述配置指令携带有目标案例标签;

7、所述根据所述配置指令,从预存的测试案例中确定出至少一个目标测试案例,包括:

8、根据所述配置指令携带的目标案例标签,从预存的案例标签与测试案例的一一映射关系中,匹配到所述目标案例标签对应的测试案例,作为所述目标测试案例。

9、在其中一个实施例中,所述根据所述配置指令,从预存的测试案例中确定出至少一个目标测试案例之后,还包括:

10、对至少一个所述目标测试案例进行排序处理;

11、所述当所述目标测试案例包含对应的硬件测试案例时,输出第一控制指令以将待测试存储器卡移动至所述硬件测试案例对应的目标测试位置进行测试,包括:

12、按照排序处理后的目标测试案例的排列顺序,依次对各目标测试案例进行测试;

13、当所述目标测试案例包含硬件测试案例时,输出所述第一控制指令以将所述待测试存储器卡移动至所述硬件测试案例对应的目标测试位置进行测试。

14、在其中一个实施例中,所述对至少一个所述目标测试案例进行排序处理,包括:

15、当接收到排序指令时,根据所述排序指令对应的案例排列顺序,对各所述目标测试案例进行排序处理;

16、当未接收到排序指令时,根据预先配置的各硬件测试案例对应的优先值和各软件测试案例对应的优先值,确定各所述目标测试案例对应的优先值,并根据各所述目标测试案例对应的优先值,对各所述目标测试案例进行排序处理。

17、在其中一个实施例中,所述目标测试位置包括第一目标测试位置;

18、各所述硬件测试案例预先设置有对应的硬件测试设备和对应的第一测试信号;所述硬件测试设备与第一测试位置一一对应;

19、所述当所述目标测试案例包含硬件测试案例时,输出第一控制指令以将待测试存储器卡移动至所述硬件测试案例对应的目标测试位置进行测试,包括:

20、当所述目标测试案例中存在硬件测试案例时,将所述目标测试案例中的硬件测试案例对应的硬件测试设备作为目标硬件设备,并将所述目标硬件设备对应的第一测试位置作为所述第一目标测试位置;

21、输出所述第一控制指令至移动装置以控制所述移动装置执行第一预设动作;所述第一预设动作用于将所述待测试存储器卡移动至所述第一目标测试位置;

22、输出第一触发指令至所述目标硬件设备以驱动所述目标硬件设备产生所述第一测试信号;所述第一测试信号用于对所述待测试存储器卡进行硬件测试。

23、在其中一个实施例中,所述对至少一个所述目标测试案例进行排序处理之后,还包括:

24、当所述目标测试案例包含软件测试案例时,输出第二控制指令以将所述待测试存储器卡移动至所述软件测试案例对应的目标测试位置进行测试。

25、在其中一个实施例中,所述目标测试位置包括第二目标测试位置;

26、各所述软件测试案例预先设置有对应的软件测试设备和对应的第二测试信号;所述软件测试设备与第二测试位置一一对应;

27、所述当所述目标测试案例包含软件测试案例时,输出第二控制指令以将所述待测试存储器卡移动至所述软件测试案例对应的目标测试位置进行测试,包括;

28、当所述目标测试案例中存在软件测试案例时,将所述目标测试案例中的软件测试案例对应的软件测试设备作为目标软件设备,并将所述目标软件设备对应的第二测试位置作为所述第二目标测试位置;

29、输出所述第二控制指令至所述移动装置以控制所述移动装置执行第二预设动作;所述第二预设动作用于将所述待测试存储器卡移动至所述第二目标测试位置;

30、输出第二触发指令至所述目标软件设备以驱动所述目标软件设备产生所述第二测试信号;所述第二测试信号用于对所述待测试存储器卡进行软件测试。

31、在其中一个实施例中,采集测试过程中产生的测试数据,并进行展示。

32、第二方面,本技术还提供了一种测试装置,包括:

33、接收模块,用于接收配置指令;

34、确定模块,用于根据所述配置指令,从预存的测试案例中确定出至少一个目标测试案例;所述测试案例包括硬件测试案例和软件测试案例;

35、输出模块,用于当所述目标测试案例包含硬件测试案例时,输出第一控制指令以将待测试存储器卡移动至所述硬件测试案例对应的目标测试位置进行测试。

36、第三方面,本技术还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一实施例所述的测试方法。

37、第四方面,本技术还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一实施例所述的测试方法。

38、第五方面,本技术还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品,包括计算机程序,该计算机程序产品被处理器执行时实现上述任一实施例所述的测试方法。

39、上述测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品,能够针对存储器卡分别预配置对应的硬件测试案例和软件测试案例,以多维度全方位的覆盖存储器卡的相关测试内容,提供更全面的、可挑选的测试案例,在接收到配置指令时,能够按照配置指令进行动态配置,从多种硬件测试案例和多种软件测试案例中挑选出目标测试案例,从而实现对存储器卡进行测试时实际测试内容的自定义选配,并且,能够按照预配置的测试案例移动待测试存储器卡,实现了测试过程中的待测试存储器卡的自动移动和自动测试,使得测试过程高度自动化,提高了存储器卡的测试效率,减少了测试人员的工作量。

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