接口控制电路和测试系统的制作方法

本发明涉及半导体测试领域，尤其涉及一种接口控制电路和测试系统。

背景技术：

1、目前，自动测试机台(automatic test equipment，ate)测试资源机时紧张且成本很高，对众多企业，特别是中小企业来说，如何降低嵌入式闪存(embedded flash，eflash)测试成本成为业界难题。其中，影响测试成本的主要因素包括：ate机台一次可测试的eflash数量，以及测试eflash的总消耗时间。

2、影响ate一次可测试eflash数量的因素与ate机台资源和被测对象需要的资源数量有关。在ate机台固定的情况下，需要降低被测eflash所需的io资源。同时，需要提高elfash接口速率，以减少整体流程的测试时间。

3、为此，如何在兼顾测试速率的前提下，提高一次可测试的eflash数量，成为ate机台测试中很重要的一个课题。

技术实现思路

1、本发明解决的问题是：如何在兼顾测试速率的前提下，提高ate机台一次可测试的待测电路数量。

2、为解决上述问题，本发明提供一种接口控制电路，适于与自动测试设备连接。

3、所述接口控制电路具有一个输入输出引脚，所述接口控制电路适于通过所述输入输出引脚接收所述自动测试设备输出的读取指令，并将读取数据通过所述输入输出引脚提供至所述自动测试设备，所述读取数据与所述读取指令相对应。

4、与现有技术相比，本发明的技术方案具有以下优点：

5、在本发明中，接口控制电路通过同一个输入输出引脚传输自动测试设备输出的读取指令以及反馈的读取数据，较现有技术需要多个引脚进行读取指令的接收和读取数据的发送，节省了引脚的数量。所以，使用本发明的接口控制电路连接自动测试设备连接和待测电路，可以提高一次可测试的待测电路数量。

技术特征：

1.一种接口控制电路，适于与自动测试设备连接，其特征在于，

2.如权利要求1所述的接口控制电路，其特征在于，所述接口控制电路适于连接在自动测试设备和内建自测电路之间，所述内建自测电路适于连接在待测电路和所述接口控制电路之间；

3.如权利要求2所述的接口控制电路，其特征在于，所述读取指令包括：第一起始指令、第一操作指令和第一结束指令，所述第一起始指令表征所述读取指令的开始，所述第一结束指令表征所述读取指令的结束；所述内建自测电路基于所述第一操作指令，对所述待测电路进行读取操作而获得的数据；

4.如权利要求3所述的接口控制电路，其特征在于，所述第一操作指令包括：第一信息指令，所述第一信息指令至少携带：第一读写标志信息、第一操控对象信息及第一操控内容信息；

5.如权利要求4所述的接口控制电路，其特征在于，所述第一操作指令还包括：第一数据指令，所述第一数据指令独立于所述第一信息指令，且所述第一数据指令迟于所述第一信息指令；

6.如权利要求3所述的接口控制电路，其特征在于，所述读取指令还包括：第一采样指令，所述第一采样指令早于所述第一操作指令，所述第一采样指令用于触发所述内建自测电路开始进行所述读取操作。

7.如权利要求6所述的接口控制电路，其特征在于，所述接口控制电路还具有一个时钟引脚；

8.如权利要求2所述的接口控制电路，其特征在于，所述状态控制器，还适于通过所述输入输出引脚接收所述自动测试设备输出的写入指令，解码所述写入指令以产生解码的写入指令；

9.如权利要求8所述的接口控制电路，其特征在于，所述写入指令包括：第二起始指令、第二操作指令和第二结束指令；

10.如权利要求9所述的接口控制电路，其特征在于，所述写入指令还包括：第二采样指令，所述第二采样指令早于所述第二操作指令，所述第二采样指令用于触发所述内建自测电路开始进行所述写入操作。

11.如权利要求1所述的接口控制电路，其特征在于，所述接口控制电路还适于通过所述输入输出引脚接收所述自动测试设备输出的写入指令。

12.如权利要求1所述的接口控制电路，其特征在于，所述接口控制电路还具有一个时钟引脚，所述时钟引脚适于输入所述自动测试设备输出的时钟信号。

13.如权利要求2所述的接口控制电路，其特征在于，所述内建自测电路包括：

14.一种测试系统，其特征在于，包括自动测试设备和权利要求1至13任一权利要求所述的接口控制电路，所述接口控制电路与自动测试设备连接。

技术总结一种接口控制电路和测试系统。所述接口控制电路适于与自动测试设备连接。所述接口控制电路具有一个输入输出引脚，所述接口控制电路适于通过所述输入输出引脚接收所述自动测试设备输出的读取指令，并将读取数据通过所述输入输出引脚提供至所述自动测试设备，所述读取数据与所述读取指令相对应。技术研发人员：庞厚民受保护的技术使用者：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司技术研发日：技术公布日：2024/3/11