闪存硬盘的生产质检方法、设备及存储介质与流程

本发明涉及生产质检领域，尤其涉及一种闪存硬盘的生产质检方法、设备及存储介质。

背景技术：

1、工业和车规存储产品的质量要求高，一致性要求高，需要我们对闪存硬盘做更加全面的分析和严格的筛选。产品线遇到过的闪存硬盘质量问题如下：

2、1、某些固态存储盘在低温-55度的客户平台上，小概率出现无法上盘问题。

3、问题原因：固态存储盘的主控在低温条件下读取efuse值会随机出错，按错误的efuse值校准，会影响内部ldo电压输出的准确度，时钟频率的准确度，从而导致无法上盘。

4、2、某些固态存储盘在客户平台上，小概率出现数据出错问题，表格数据出错问题。

5、问题原因：固态存储盘的主控内核供电电压偏低时，部分ram容易出现bit翻转问题，从而导致盘内的关键数据出错。

6、因此，针对当前闪存硬盘和存储主控出现的质量问题，需要一种新的、全面的生产测试技术来解决。

技术实现思路

1、本发明的主要目的在于解决存储主控由于efuse值检测不准确导致产品质量不高的技术问题。

2、本发明第一方面提供了一种闪存硬盘的生产质检方法，所述闪存硬盘的生产质检方法包括：

3、将需质检的闪存硬盘放置于测试环境中，并对所述闪存硬盘通上所述测试环境对应的供电电压；

4、基于预置加载固件，读取所述闪存硬盘对应efuse值；

5、读取所述闪存硬盘对应的输入输出电压值、时钟频率数据、ram扫描数据、指定功能测试数据；

6、对所述电压电流值、所述时钟频率数据、所述ram扫描数据、所述efuse值、所述指定功能测试数据进行范围校验处理，得到校验结果；

7、当所述校验结果为合格时，则将所述闪存硬盘确定为质检合格产品。

8、可选的，在本发明第一方面的第一种实现方式中，所述基于预置加载固件，读取所述闪存硬盘对应efuse值包括：

9、基于预置加载固件，连续读取所述闪存硬盘对应n个efuse值，其中，n为正整数；

10、判断n个efuse值是否均一致；

11、若均一致，则将n个efuse值中的任一个efuse值确定为所述闪存硬盘对应efuse值。

12、可选的，在本发明第一方面的第二种实现方式中，所述对所述电压电流值、所述时钟频率数据、所述ram扫描数据、所述efuse值、所述指定功能测试数据进行范围校验处理，得到校验结果包括：

13、校验所述电压电流值、所述时钟频率数据、所述ram扫描数据、所述指定功能测试数据是否均处于预置阈值范围内；

14、当均处于预置阈值范围内，则将所述校验结果确定为合格；

15、当未均处于预置阈值范围内，则将所述校验结果确定为不合格。

16、可选的，在本发明第一方面的第三种实现方式中，所述阈值范围包括：基于大数据统计生成的阈值范围。

17、可选的，在本发明第一方面的第四种实现方式中，所述指定功能测试数据包括：ldpc功能测试数据。

18、可选的，在本发明第一方面的第五种实现方式中，所述时钟频率数据包括：flash时钟频率数据、mcu时钟频率数据。

19、可选的，在本发明第一方面的第六种实现方式中，所述供电电压包括：负偏电压、正常电压、正偏电压。

20、可选的，在本发明第一方面的第七种实现方式中，所述测试环境包括：预置温度和预置湿度的测试环境。

21、本发明第二方面提供了一种闪存硬盘的生产质检设备，包括：存储器和至少一个处理器，所述存储器中存储有指令，所述存储器和所述至少一个处理器通过线路互连；所述至少一个处理器调用所述存储器中的所述指令，以使得所述闪存硬盘的生产质检设备执行上述的闪存硬盘的生产质检方法。

22、本发明的第三方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述的闪存硬盘的生产质检方法。

23、在本发明实施例中，通过将闪存硬盘放置在检测环境下，并对所述闪存硬盘通上所述测试环境对应的供电电压，读取闪存硬盘的efuse值、对电压电流值、时钟频率数据、ram扫描数据、指定功能测试数据，通过分析相关数据闪存硬盘的数据进行检测分析，实现了对闪存硬盘的efuse精确测量，解决了存储主控由于efuse值检测不准确导致产品质量不高的技术问题。

技术特征：

1.一种闪存硬盘的生产质检方法，其特征在于，包括步骤：

2.根据权利要求1所述的闪存硬盘的生产质检方法，其特征在于，所述基于预置加载固件，读取所述闪存硬盘对应efuse值包括：

3.根据权利要求1所述的闪存硬盘的生产质检方法，其特征在于，所述对所述电压电流值、所述时钟频率数据、所述ram扫描数据、所述efuse值、所述指定功能测试数据进行范围校验处理，得到校验结果包括：

4.根据权利要求3所述的闪存硬盘的生产质检方法，其特征在于，所述阈值范围包括：基于大数据统计生成的阈值范围。

5.根据权利要求1所述的闪存硬盘的生产质检方法，其特征在于，所述指定功能测试数据包括：ldpc功能测试数据。

6.根据权利要求1所述的闪存硬盘的生产质检方法，其特征在于，所述时钟频率数据包括：flash时钟频率数据、mcu时钟频率数据。

7.根据权利要求1所述的闪存硬盘的生产质检方法，其特征在于，所述供电电压包括：负偏电压、正常电压、正偏电压。

8.根据权利要求1所述的闪存硬盘的生产质检方法，其特征在于，所述测试环境包括：预置温度和预置湿度的测试环境。

9.一种闪存硬盘的生产质检设备，其特征在于，所述闪存硬盘的生产质检设备包括：存储器和至少一个处理器，所述存储器中存储有指令，所述存储器和所述至少一个处理器通过线路互连；

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-8中任一项所述的闪存硬盘的生产质检方法。

技术总结本发明涉及生产质检领域，公开了一种闪存硬盘的生产质检方法、设备及存储介质。该方法包括：将需质检的闪存硬盘放置于测试环境中，并对所述闪存硬盘通上所述测试环境对应的供电电压；基于预置加载固件，读取所述闪存硬盘对应efuse值；读取所述闪存硬盘对应的输入输出电压值、时钟频率数据、RAM扫描数据、指定功能测试数据；对所述电压电流值、所述时钟频率数据、所述RAM扫描数据、所述efuse值、所述指定功能测试数据进行范围校验处理，得到校验结果；当所述校验结果为合格时，则将所述闪存硬盘确定为质检合格产品。在本发明实施例中，解决了当前存储主控由于efuse值检测不准确导致产品质量不高的技术问题。技术研发人员：杨尧堂,吴大畏,李晓强受保护的技术使用者：深圳市硅格半导体有限公司技术研发日：技术公布日：2024/3/17