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前导码检测电路、其操作方法和存储器装置与流程

  • 国知局
  • 2024-07-31 19:45:10

发明构思涉及电子装置,并且更具体地,涉及前导码检测电路、其操作方法和存储器装置。

背景技术:

1、半导体存储器被广泛用于在各种电子装置(诸如,计算机、无线通信装置、相机、数字显示器等)中存储数据。数据通过对半导体存储器的各种状态进行编程而被存储。为了访问存储的数据,半导体存储器的至少一个存储状态可被读取或感测。为了存储数据,装置的组件可写入或编程半导体存储器的状态。

2、存在各种类型的半导体存储器。易失性存储器(诸如,动态随机存取存储器(dram))在与外部电源断开连接时可能丢失其存储状态。另外,随着时间的推移,半导体存储器的状态恶化,导致不可恢复的存储器错误或其他问题。

技术实现思路

1、如一个或多个实施例中所示出的,发明构思提供了一种前导码检测电路、其操作方法和存储器装置,所述前导码检测电路被配置为防止接口的重置和初始化的错误操作,以减少命令和数据选通信号的延迟的变化,并提高装置的信号完整性(si)和功率完整性(pi)。

2、根据发明构思的一个方面,提供了一种前导检测电路,包括:比较电路,被配置为将数据选通信号的电平与参考电压的电平进行比较并且输出比较信号;以及重置信号生成电路,被配置为至少部分地基于比较信号输出具有与数据选通信号的前导码时段对应的脉冲宽度的重置信号。

3、根据发明构思的另一方面,提供了一种前导码检测电路的操作方法,所述方法包括:生成指示数据选通信号的电平与参考电压的电平之间的比较结果的比较信号;以及至少部分地基于比较信号生成具有与数据选通信号的前导码时段对应的脉冲宽度的重置信号。

4、根据发明构思的另一方面,提供了一种存储器装置,包括:数据选通缓冲器,被配置为对从外部提供的数据选通信号进行缓冲;以及前导码检测电路,被配置为至少部分地基于数据选通信号和参考电压输出具有与数据选通信号的前导码时段对应的脉冲宽度的重置信号。

技术特征:

1.一种前导码检测电路,包括:

2.根据权利要求1所述的前导码检测电路,其中,比较电路包括:

3.根据权利要求2所述的前导码检测电路,其中,当数据选通信号的电平低于参考电压的电平时,第一比较信号具有第一逻辑电平,并且当数据选通信号的电平高于参考电压的电平时,第一比较信号具有比第一逻辑电平低的第二逻辑电平,

4.根据权利要求2所述的前导码检测电路,其中,比较电路还包括:

5.根据权利要求2所述的前导码检测电路,其中,第一比较器和第二比较器中的每个包括至少一个缓冲器。

6.根据权利要求1所述的前导码检测电路,其中,重置信号生成电路包括:采样器,配置为响应于提供给采样器的时钟信号对比较信号的逻辑电平进行采样,并且输出采样结果作为重置信号。

7.根据权利要求6所述的前导码检测电路,其中,当数据选通信号的电平低于参考电压的电平时,比较信号具有第一逻辑电平,并且当数据选通信号的电平高于参考电压的电平时,比较信号具有比第一逻辑电平低的第二逻辑电平,

8.根据权利要求1所述的前导码检测电路,其中,当数据选通信号的电平低于参考电压的电平时,重置信号上升,并且当数据选通信号的电平高于参考电压的电平时,重置信号下降。

9.根据权利要求1所述的前导码检测电路,其中,重置信号作为输入被提供给分频器和均衡器中的至少一个,分频器和均衡器中的每一个在前导码时段中被初始化。

10.一种前导码检测电路的操作方法,所述方法包括如下步骤:

11.根据权利要求10所述的操作方法,其中,生成比较信号的步骤包括如下步骤:

12.根据权利要求11所述的操作方法,其中,生成比较信号的步骤还包括:

13.根据权利要求10所述的操作方法,其中,生成重置信号的步骤包括:

14.根据权利要求10所述的操作方法,其中,当数据选通信号的电平低于参考电压的电平时,重置信号上升,并且当数据选通信号的电平高于参考电压的电平时,重置信号下降。

15.根据权利要求10所述的操作方法,还包括如下步骤:

16.一种存储器装置,包括:

17.根据权利要求16所述的存储器装置,其中,前导码检测电路包括:

18.根据权利要求16所述的存储器装置,其中,当数据选通信号的电平低于参考电压的电平时,重置信号上升,并且当数据选通信号的电平高于参考电压的电平时,重置信号下降。

19.根据权利要求16所述的存储器装置,还包括:

20.根据权利要求16所述的存储器装置,还包括:

技术总结提供了一种前导码检测电路、其操作方法和存储器装置。所述前导码检测电路包括:比较电路,被配置为将数据选通信号的电平与参考电压的电平进行比较并且输出比较信号;以及重置信号生成电路,被配置为基于比较信号输出具有与数据选通信号的前导码时段对应的脉冲宽度的重置信号。技术研发人员:金旺洙,金旼庆,林原默受保护的技术使用者:三星电子株式会社技术研发日:技术公布日:2024/3/21

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