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耦合到同一串的多个擦除块之间的干扰跟踪的制作方法

  • 国知局
  • 2024-07-31 19:55:11

本公开的实施例大体上涉及存储器系统,且更具体来说,涉及用于耦合到同一串的多个擦除块之间的干扰跟踪的设备及方法。

背景技术:

1、存储器系统可包含存储器子系统,其可为存储装置、存储器模块或存储装置与存储器模块的混合体。存储装置的实例包含固态驱动器(ssd)、通用快闪存储(ufs)驱动器、安全数字(sd)卡、嵌入式多媒体卡(emmc)及硬盘驱动器(hdd)。存储器模块的实例包含双列直插式存储器模块(dimm)及各种类型的非易失性双列直插式存储器模块(nvdimm)。存储器系统包含存储数据的一或多个存储器组件(例如,存储器装置)。存储器组件可为例如非易失性存储器组件(例如,nand快闪存储器装置)及易失性存储器组件(例如,dram装置)。一般来说,主机系统可利用存储器系统来将数据存储在存储器组件处及从存储器组件检索数据。

技术实现思路

1、根据本公开的一个方面,提供一种用于干扰跟踪的设备。所述设备包括:存储器阵列,其包括存储器单元的多个串,其中所述多个串中的每一串包括:第一存储器单元群组,其耦合到第一存取线群组且对应于第一擦除块;及第二存储器单元群组,其耦合到第二存取线群组且对应于第二擦除块;以及控制器,其耦合到所述存储器阵列且经配置以:对所述第一擦除块的所述第一存储器单元群组执行编程操作;监测在所述第一存储器单元群组的所述编程之后对所述第二存储器单元群组执行的编程及/或擦除操作的数量;及响应于对所述第二存储器单元群组执行的编程及/或擦除操作的所述数量满足某一准则而对所述第一擦除块执行某一动作。

2、根据本公开的另一方面,提供一种用于干扰跟踪的方法。所述方法包括:对包括多个串的存储器阵列的存储器单元的第一串的第一存储器单元群组进行编程,其中所述第一串包括:所述第一存储器单元群组,其耦合到第一存取线群组且对应于第一擦除块;及第二存储器单元群组,其耦合到第二存取线群组且对应于第二擦除块;监测自所述第一存储器单元群组的所述编程以来对所述第二擦除块执行的编程/擦除(p/e)循环的数量;以及响应于p/e循环的所述数量满足某一准则,对所述第一擦除块执行某一动作以考虑到由于对所述第二擦除块执行的所述p/e循环而由所述第一存储器单元群组经历的干扰。

3、根据本公开的又一方面,提供一种用于干扰跟踪的设备。所述设备包括:存储器阵列,其包括存储器单元的多个物理块,所述多个物理块的存储器单元的每一物理块包括存储器单元的多个串,其中所述多个串中的第一串对应于特定物理块的可在不同时间擦除的多个擦除块,且其中所述第一串包括:第一存储器单元群组,其耦合到第一存取线群组且对应于所述多个擦除块中的第一擦除块;及第二存储器单元群组,其耦合到第二存取线群组且对应于所述多个擦除块中的第二擦除块;及数个虚设存取线,其将所述第一存取线群组与所述第二存取线群组分离;以及控制器,其耦合到所述存储器阵列且经配置以通过以下步骤来监测由于对所述第二擦除块执行的编程/擦除(p/e)循环而由所述第一擦除块经历的干扰的量:在所述第一擦除块的编程之后针对由所述第二擦除块经历的每一p/e循环,使对应于所述第一擦除块的干扰计数器递增;及响应于所述干扰计数器超过阈值计数而对所述第一擦除块执行某一动作。

技术特征:

1.一种用于干扰跟踪的设备,其包括:

2.根据权利要求1所述的设备,其中所述多个串中的每一串进一步包括位于所述第一存取线群组与所述第二存取线群组之间的第三存取线群组(331-1、331-2、331-3、331-4)。

3.根据权利要求2所述的设备,其中所述第三存取线群组是耦合到不被用来存储用户数据的存储器单元的虚设存取线。

4.根据权利要求1所述的设备,其中所述准则是编程及/或擦除操作的所述数量超过阈值数量。

5.根据权利要求1至4中任一权利要求所述的设备,其中:

6.根据权利要求1至4中任一权利要求所述的设备,其中所述动作包括对所述第一存储器单元群组执行扫描操作,所述扫描操作包括:

7.根据权利要求1至4中任一权利要求所述的设备,其进一步包括用来监测编程/擦除p/e干扰的计数器(793);且其中所述控制器进一步经配置以根据基于以下各项中的一或两者的缩放因数来使所述计数器递增:

8.根据权利要求1至4中任一权利要求所述的设备,其中所述存储器阵列是nand快闪存储器单元的三维3d阵列,其中第一串的所述第一存储器单元群组及所述第二存储器单元群组共享共同沟道区。

9.根据权利要求1至4中任一权利要求所述的设备,其中所述多个串是第一多个串,且其中所述存储器阵列包括第二多个串,其中所述第二多个串的每一串包括:

10.一种用于干扰跟踪的方法,其包括:

11.根据权利要求10所述的方法,其中监测p/e循环的所述数量包含维持p/e循环计数,且其中p/e循环的所述数量满足所述准则对应于对所述第二擦除块执行的所述p/e循环计数超过阈值p/e循环计数。

12.根据权利要求11所述的方法,其中所述方法进一步包括:

13.根据权利要求10至12中任一权利要求所述的方法,其中所述方法进一步包括:

14.一种用于干扰跟踪的设备,其包括:

15.根据权利要求14所述的设备,其中所述控制器经配置以响应于所述干扰计数器超过所述阈值计数而对所述第一擦除块执行扫描操作或对所述第一擦除块执行刷新操作。

16.根据权利要求14至15中任一权利要求所述的设备,其中所述控制器包括干扰跟踪组件(796),所述干扰跟踪组件经配置以在所述第一擦除块的编程之后针对由所述第二擦除块经历的每一p/e循环,使对应于所述第一擦除块的所述干扰计数器递增。

技术总结本公开涉及耦合到同一串的多个擦除块之间的干扰跟踪。一种设备可包括存储器阵列,所述存储器阵列包括存储器单元的多个串。所述多个串中的每一串可包括:第一存储器单元群组,其耦合到第一存取线群组且对应于第一擦除块;及第二存储器单元群组,其耦合到第二存取线群组且对应于第二擦除块。控制器耦合到所述存储器阵列,且经配置以:对所述第一擦除块的所述第一存储器单元群组执行编程操作;监测在所述第一存储器单元群组的所述编程之后对所述第二存储器单元群组执行的编程及/或擦除操作的数量;及响应于对所述第二存储器单元群组执行的编程及/或擦除操作的所述数量满足某一准则而对所述第一擦除块执行某一动作。技术研发人员:合田晃,K·K·姆奇尔拉,S·S·瑞胡那森,L·雷蒙多,辉俊胜,罗贤钢,A·马尔谢,J·黄受保护的技术使用者:美光科技公司技术研发日:技术公布日:2024/5/19

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