存储器测试方法、装置、电子设备及可读存储介质与流程

本发明属于集成电路，特别是涉及一种存储器测试方法、装置、电子设备及可读存储介质。

背景技术：

1、随着集成电路技术的发展，对芯片的安全性要求越来越高，因而对芯片的测试尤为重要，芯片测试包含对芯片中存储器的测试。相关技术中，为了避免在自动测试机(ate机台)上进行测试造成的成本过高的问题，会通过在芯片中集成测试电路的方式来完成对存储器的测试和诊断，测试过程中由测试电路自行生成测试向量，无需外部施加，这一方式称为存储器内建自测试(memory built in self test，mbist)。

2、目前，在进行mbist时，对于芯片中的所有存储器往往采用串行诊断的方式，也就是同时开始诊断以及同时结束诊断，但这种方式效率较差。

技术实现思路

1、本发明提供一种存储器测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，以便解决存储器测试中诊断效率较差的问题。

2、为了解决上述技术问题，本发明是这样实现的：

3、第一方面，本发明提供一种存储器测试方法，所述方法应用于集成有测试电路的芯片，所述测试电路中包含多个测试控制器、测试向量生成器以及比较器，不同测试控制器对应于不同待测试存储器组；其中，各所述测试控制器中包含由测试寄存器构成的第一传输链；所述方法包括：

4、向各所述测试控制器输入测试指令，以使各所述测试控制器控制所述测试向量生成器以及所述比较器，对所述芯片中的多个待测试存储器组进行测试，并在测试出任一待测试存储器组存在待诊断故障的情况下，将所述待测试存储器组作为待诊断组，将所述待诊断组对应的测试控制器确定为待诊断控制器；

5、向所述待诊断控制器输入第一信号，以使所述待诊断控制器在接收到第一信号的情况下，控制所述测试向量生成器以及所述比较器对所述待诊断组执行诊断操作，并通过所述第一传输链中的所述测试寄存器采集所述待诊断组的故障检测信息。

6、第二方面，本发明提供一种存储器测试装置，所述装置应用于集成有测试电路的芯片，所述测试电路中包含多个测试控制器、测试向量生成器以及比较器，不同测试控制器对应于不同待测试存储器组，其中，各所述测试控制器中包含由测试寄存器构成的第一传输链；所述装置可以包括：

7、第一确定模块，用于向各所述测试控制器输入测试指令，以使各所述测试控制器控制所述测试向量生成器以及所述比较器，对所述芯片中的多个待测试存储器组进行测试，并在测试出任一待测试存储器组存在待诊断故障的情况下，将所述待测试存储器组作为待诊断组，将所述待诊断组对应的测试控制器确定为待诊断控制器；

8、第一输入模块，用于向所述待诊断控制器输入第一信号，以使所述待诊断控制器在接收到第一信号的情况下，控制所述测试向量生成器以及所述比较器对所述待诊断组执行诊断操作，并通过所述第一传输链中的所述测试寄存器采集所述待诊断组的故障检测信息。

9、第三方面，本发明提供一种电子设备，包括：处理器、存储器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现上述存储器测试方法。

10、第四方面，本发明提供一种可读存储介质，当所述存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得电子设备能够执行上述存储器测试方法。

11、本发明实施例所提供的存储器测试方法，本发明实施例通过为芯片集成包含多个测试控制器、测试向量生成器以及比较器的测试电路，可以通过测试电路对该芯片上的存储器实现内建自测试，无需通过机台实现，降低测试成本。同时，通过将不同测试控制器对应不同的待测试存储器组，可以使各个待测试存储器组之间的测试诊断相独立，在测试出存在待诊断故障的待测试存储器组时，通过向对应的测试控制器输入第一信号，可以无需对所有的存储器均进行诊断操作，仅使接收到第一信号的测试控制器执行诊断操作，本发明实施例通过设置第一信号可以实现选择性地故障诊断，一定程度上可以提高存储器诊断的效率。同时，通过为测试控制器设置由测试寄存器构成的第一传输链，可以在诊断过程中，通过第一传输链中的测试寄存器采集故障检测信息，便于后续对故障的定位。

技术特征：

1.一种存储器测试方法，其特征在于，所述方法应用于集成有测试电路的芯片，所述测试电路中包含多个测试控制器、测试向量生成器以及比较器，不同测试控制器对应于不同待测试存储器组；其中，各所述测试控制器中包含由测试寄存器构成的第一传输链；所述方法包括：

2.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述测试控制器中还包含由旁路寄存器构成的第二传输链，所述第二传输链与所述第一传输链相并联；所述向所述待诊断控制器输入第一信号之后，所述方法还包括：

3.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述测试寄存器包括故障地址寄存器以及故障位寄存器，所述方法还包括：

4.根据权利要求3所述方法，其特征在于，所述测试寄存器还包括测试模式寄存器，所述测试模式寄存器用于存储当前执行的测试算法；所述方法还包括：

5.根据权利要求3所述方法，其特征在于，所述将所述待确定故障地址以及所述待确定故障位写入至所述第一预设寄存器中之后，所述方法还包括：

6.根据权利要求1至5任一项所述方法，其特征在于，所述方法还包括：

7.一种存储器测试装置，其特征在于，所述装置应用于集成有测试电路的芯片，所述测试电路中包含多个测试控制器、测试向量生成器以及比较器，不同测试控制器对应于不同待测试存储器组，其中，各所述测试控制器中包含由测试寄存器构成的第一传输链；所述装置可以包括：

8.根据权利要求7所述装置，其特征在于，所述测试控制器中还包含由旁路寄存器构成的第二传输链，所述装置还包括：

9.根据权利要求7所述装置，其特征在于，所述测试寄存器包括故障地址寄存器以及故障位寄存器，所述装置还包括：

10.根据权利要求9所述装置，其特征在于，所述测试寄存器还包括测试模式寄存器，所述测试模式寄存器用于存储当前执行的测试算法；所述装置还包括：

11.根据权利要求9所述装置，其特征在于，所述装置还包括：

12.根据权利要求7至11任一项所述装置，其特征在于，所述装置还包括：

13.一种电子设备，其特征在于，包括：

14.一种可读存储介质，其特征在于，当所述存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得电子设备能够执行权利要求1-6中任一项所述的方法。

技术总结本发明实施例提供了一种存储器测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，应用于集成有测试电路的芯片，方法包括：向各测试控制器输入测试指令，以使各测试控制器控制测试向量生成器以及比较器，对芯片中的多个待测试存储器组进行测试，并在测试出任一待测试存储器组存在待诊断故障的情况下，将待测试存储器组作为待诊断组，将待诊断组对应的测试控制器确定为待诊断控制器；向待诊断控制器输入第一信号，以使待诊断控制器在接收到第一信号的情况下，控制测试向量生成器以及比较器对待诊断组执行诊断操作，并通过第一传输链中的测试寄存器采集待诊断组的故障检测信息，提高存储器诊断的效率。技术研发人员：郭佳豪,郝守青,高国重,冯佳杰受保护的技术使用者：龙芯中科技术股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/5/27