芯片测试方法、装置、系统和计算机可读存储介质与流程

本申请涉及芯片测试，特别是涉及一种芯片测试方法、装置、系统和计算机可读存储介质。

背景技术：

1、通常，为了记录产品的标识信息、制造信息以及其他的重要数据，很多芯片中都集成了各种类型的非易失性存储器。但由于生产制造过程中很多的不确定性，在芯片测试中往往需要对芯片中的存储器件进行测试，筛出故障存储器件保证芯片质量。

2、传统技术中，对带有存储器的芯片进行成品(ft)测试时，主要是采用两道ft测试的方案，第一道ft测试时在芯片的一次性可编程(one time programmable，otp)存储区域写入测试数据，同时将测试数据备份存储到本地计算机上，然后进行烘烤，烘烤完以后进入到第二道ft测试，将otp中的数据读出，并与之前备份在本地计算机上的数据一一进行比对，从而判断otp中存储的数据是否有丢失来筛选出不良芯片。

3、然而，传统的方法，存在占用计算机设备内存量较大的问题。

技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种芯片测试方法、装置、系统和计算机可读存储介质，可以减少对芯片进行测试时占用计算机设备内存量较大的问题。

2、第一方面，本申请实施例提供了一种芯片测试方法，包括：

3、在对待测芯片进行烘烤处理之后，获取所述待测芯片中存储的测试数据和第一循环冗余crc校验码；所述第一crc校验码为在所述待测芯片烘烤之前根据原始测试数据获取到的crc校验码；

4、根据所述存储的测试数据获取第二crc校验码；

5、根据所述第一crc校验码和所述第二crc校验码，确定所述待测芯片的测试结果。

6、第二方面，本申请实施例提供了一种芯片测试装置，，包括：

7、第一获取模块，用于在对待测芯片进行烘烤处理之后，获取所述待测芯片中存储的测试数据和第一循环冗余crc校验码；所述第一crc校验码为在所述待测芯片烘烤之前根据原始测试数据获取到的crc校验码；

8、第二获取模块，用于根据所述存储的测试数据获取第二crc校验码；

9、测试模块，用于根据所述第一crc校验码和所述第二crc校验码，确定所述待测芯片的测试结果。

10、第三方面，本申请实施例提供了一种芯片测试系统，包括计算机设备和测试仪，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器中储存有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，控制所述测试仪驱动待测芯片逻辑电路或捕获待测芯片输出信号执行如第一方面所述的芯片测试方法的步骤。

11、第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。

12、第五方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。

13、上述芯片测试方法、装置、系统和计算机可读存储介质，在对待测芯片进行烘烤处理之后，通过获取待测芯片中存储的测试数据、在待测芯片烘烤之前根据原始测试数据获取到的第一crc校验码以及存储的测试数据的第二crc校验码，能够根据第一crc校验码和第二crc校验码，确定待测芯片的测试结果，相比传统技术而言，该方法无需在计算机设备中备份大量的测试数据，减少了占用的计算机设备的内存量；另外，相对于测试数据来说crc校验码占用的存储空间也较小，这样将待测芯片烘烤之前根据原始测试数据获取到的第一crc校验码存储在待测芯片中也不会占用存储芯片较多的存储空间，对待测芯片的计算机内存配置也无需做特定要求，就能够实现对待测芯片进行测试，能够较为简单的实现对待测芯片的测试。

技术特征：

1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一crc校验码和所述第二crc校验码，确定所述待测芯片的测试结果，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述比较结果，确定所述测试结果，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述将所述第一crc校验码烧录至所述待测芯片的存储器中，包括：

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，根据所述crc校验码算法，在所述存储器中确定出目标存储空间，包括：

8.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：

9.一种芯片测试系统，包括计算机设备和测试仪，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器中储存有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被所述处理器执行时，控制所述测试仪驱动待测芯片逻辑电路或捕获待测芯片输出信号执行如权利要求1至7中任一项所述的芯片测试方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。

11.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。

技术总结本申请涉及一种芯片测试方法、装置、系统和计算机可读存储介质。所述方法包括：在对待测芯片进行烘烤处理之后，获取待测芯片中存储的测试数据和第一循环冗余CRC校验码；第一CRC校验码为在待测芯片烘烤之前根据原始测试数据获取到的CRC校验码；根据存储的测试数据获取第二CRC校验码；根据第一CRC校验码和第二CRC校验码，确定待测芯片的测试结果。采用本方法能够减少对芯片进行测试时占用计算机设备的内存量。技术研发人员：孙梅芳,许耀娟,霍芳受保护的技术使用者：哲库科技（上海）有限公司技术研发日：技术公布日：2024/6/2