一种固态硬盘的长稳测试处理方法及装置与流程

本技术涉及硬盘检测，具体涉及一种固态硬盘的长稳测试处理方法及装置。另外，还涉及一种电子设备及处理器可读存储介质。

背景技术：

1、固态硬盘(solid state disk或solid state drive，ssd)是一种利用闪存芯片作为存储介质的硬盘，相比传统的机械硬盘(hdd)，它具有更高的读写速度、更低的功耗、更轻的重量、更小的体积和更强的抗震性能。近年来，随着科技的进步和市场的需求，ssd已经成为了计算机存储领域的主流产品，广泛应用于个人电脑、服务器、数据中心等领域。然而，由于内部开发以及测试技术不够成熟，对部分较为复杂的实际客户应用场景知之甚少，其中针对数据擦除和可编程次数的测试为贴近客户场景的必要性测试之一，但该类型测试前期未曾进行专项针对性测试。数据擦除和可编程次数(简称pe)，该项数据为检验固态硬盘的盘片处于生命周期阶段的重要指标之一，如该项数据异常或处于某种特殊阶段，固态硬盘随即会产生异常，即固态硬盘会在一个非正常状态下工作，随着该工作状态的释出，盘片很快会表现出异常，进而导致盘片无法正常工作，甚至出现丢盘的现象。因此如何设计一种更为高效的固态硬盘的长稳测试处理方案成为当前亟待解决的问题。

技术实现思路

1、为此，本技术提供一种固态硬盘的长稳测试处理方法及装置，以解决现有技术中存在的固态硬盘的测试处理方案局限性较高，从而导致测试处理效率较差的缺陷。

2、第一方面，本技术提供一种固态硬盘的长稳测试处理方法，包括：

3、调用待测试的原始固态硬盘中预设的参数值设置接口，基于所述参数值设置接口将原始固态硬盘的数据擦除和可编程次数设置为目标值，确定与所述目标值对应的待测试的目标固态硬盘；其中，所述参数值设置接口是预先设置到所述原始固态硬盘中用于对所述原始固态硬盘的数据擦除和可编程次数进行调整的待执行的命令行程序；

4、确定所述目标固态硬盘对应的缓冲区配置参数和读写范围配置参数、测试周期参数以及测试读写命令，并基于所述缓冲区配置参数、所述读写范围配置参数以及所述测试周期参数，并执行所述测试读写命令对所述目标固态硬盘进行循环校验测试处理，获得长稳测试结果。

5、进一步的，所述基于所述缓冲区配置参数、所述读写范围配置参数以及所述测试周期参数，并执行所述测试读写命令对所述目标固态硬盘进行循环校验测试处理，获得长稳测试结果，具体包括：

6、获取下发的与所述缓冲区配置参数中第一缓冲区配置参数对应的目标类型的写命令，执行所述目标类型的写命令，按照所述目标类型的写命令对应的测试方式，将相应的数据写入到所述目标固态硬盘；其中，所述目标类型的写命令为顺序写命令或者随机写命令；

7、获取下发的与所述缓冲区配置参数中第二缓冲区配置参数和所述读写范围配置参数对应的目标类型的读命令，执行所述目标类型的读命令，按照所述目标类型的读命令对应的测试方式和所述测试周期参数对所述目标固态硬盘中写入的数据进行循环读取校验测试，获得相应的测试处理结果；其中，所述目标类型的读命令为顺序读命令或者随机读命令；

8、基于预设的异常测试规则对所述测试处理结果进行异常测试分析，获得长稳测试结果；其中，所述长稳测试结果为所述目标固态硬盘存在异常或所述目标固态硬盘未存在异常。

9、进一步的，在调用待测试的原始固态硬盘中预设的参数值设置接口之前，还包括：获取与所述原始固态硬盘对应的状态监听服务器的日志信息，基于所述状态监听服务器的日志信息，获取所述原始固态硬盘对应的第一状态信息，并基于所述第一状态信息获得所述原始固态硬盘当前对应的数据擦除和可编程次数的第一平均值。

10、进一步的，在基于所述参数值设置接口将原始固态硬盘的数据擦除和可编程次数设置为目标值之后，获得所述原始固态硬盘当前对应的数据擦除和可编程次数的第二平均值；

11、在执行所述测试读写命令对所述目标固态硬盘进行循环校验测试处理之后，还包括：

12、获取与所述原始固态硬盘对应的状态监听服务器的第二日志信息，基于所述状态监听服务器的第二日志信息，获取所述原始固态硬盘对应的第二状态信息，并基于所述第二状态信息获得所述原始固态硬盘当前对应的数据擦除和可编程次数的第三平均值；

13、在获得长稳测试结果之后，基于所述数据擦除和可编程次数的第一平均值、所述数据擦除和可编程次数的第二平均值以及所述数据擦除和可编程次数的第三平均值，确定所述目标固态硬盘的原始值；

14、基于所述目标固态硬盘的原始值，将原始固态硬盘的数据擦除和可编程次数设置为新的目标值，基于所述新的目标值对应的所述目标固态硬盘再次进行循环校验测试处理，获得新的长稳测试结果；其中，所述新的目标值为所述目标固态硬盘对应的边界值、临界值或固定值。

15、进一步的，所述获取与所述原始固态硬盘对应的状态监听服务器的日志信息，基于所述状态监听服务器的日志信息，获取所述原始固态硬盘对应的第一状态信息，具体包括：

16、获取与所述原始固态硬盘对应的第一状态监听服务器的第一日志信息和第二状态监听服务器的第二日志信息，基于所述第一状态监听服务器的第一日志信息和所述第二状态监听服务器的第二日志信息，获取所述原始固态硬盘对应的第一状态信息。

17、进一步的，在获得长稳测试结果之后，还包括：

18、确定所述目标固态硬盘当前对应的实际容量；

19、确定所述目标固态硬盘当前对应的实际写入；

20、获得所述目标固态硬盘当前对应的实际数据擦除和可编程次数；

21、基于所述目标固态硬盘的实际容量、所述目标固态硬盘的实际写入以及所述实际数据擦除和可编程次数，获得所述目标固态硬盘当前对应的预测使用寿命。

22、进一步的，所述确定所述目标固态硬盘当前对应的实际容量，具体包括：

23、获取所述目标固态硬盘当前对应的硬盘容量和使用率，基于所述硬盘容量和所述使用率，获得所述目标固态硬盘当前对应的实际容量；

24、所述确定所述目标固态硬盘当前对应的实际写入，具体包括：

25、获取所述目标固态硬盘当前对应的写入文件大小和写入使用率，基于所述写入文件大小和所述写入使用率，获得所述目标固态硬盘当前对应的实际写入。

26、第二方面，本技术还提供一种固态硬盘的长稳测试处理装置，包括：

27、固态硬盘目标值设置单元，用于调用待测试的原始固态硬盘中预设的参数值设置接口，基于所述参数值设置接口将原始固态硬盘的数据擦除和可编程次数设置为目标值，确定与所述目标值对应的待测试的目标固态硬盘；其中，所述参数值设置接口是预先设置到所述原始固态硬盘中用于对所述原始固态硬盘的数据擦除和可编程次数进行调整的待执行的命令行程序；

28、校验测试处理单元，用于确定所述目标固态硬盘对应的缓冲区配置参数和读写范围配置参数、测试周期参数以及测试读写命令，并基于所述缓冲区配置参数、所述读写范围配置参数以及所述测试周期参数，并执行所述测试读写命令对所述目标固态硬盘进行循环校验测试处理，获得长稳测试结果。

29、进一步的，所述校验测试处理单元，具体用于：

30、获取下发的与所述缓冲区配置参数中第一缓冲区配置参数对应的目标类型的写命令，执行所述目标类型的写命令，按照所述目标类型的写命令对应的测试方式，将相应的数据写入到所述目标固态硬盘；其中，所述目标类型的写命令为顺序写命令或者随机写命令；

31、获取下发的与所述缓冲区配置参数中第二缓冲区配置参数和所述读写范围配置参数对应的目标类型的读命令，执行所述目标类型的读命令，按照所述目标类型的读命令对应的测试方式和所述测试周期参数对所述目标固态硬盘中写入的数据进行循环读取校验测试，获得相应的测试处理结果；其中，所述目标类型的读命令为顺序读命令或者随机读命令；

32、基于预设的异常测试规则对所述测试处理结果进行异常测试分析，获得长稳测试结果；其中，所述长稳测试结果为所述目标固态硬盘存在异常或所述目标固态硬盘未存在异常。

33、进一步的，在调用待测试的原始固态硬盘中预设的参数值设置接口之前，还包括：第一平均值获得单元，用于获取与所述原始固态硬盘对应的状态监听服务器的日志信息，基于所述状态监听服务器的日志信息，获取所述原始固态硬盘对应的第一状态信息，并基于所述第一状态信息获得所述原始固态硬盘当前对应的数据擦除和可编程次数的第一平均值。

34、进一步的，在基于所述参数值设置接口将原始固态硬盘的数据擦除和可编程次数设置为目标值之后，还包括：第二平均值获得二单元，用于获得所述原始固态硬盘当前对应的数据擦除和可编程次数的第二平均值；

35、在执行所述测试读写命令对所述目标固态硬盘进行循环校验测试处理之后，还包括：

36、第三平均值获得单元，用于获取与所述原始固态硬盘对应的状态监听服务器的第二日志信息，基于所述状态监听服务器的第二日志信息，获取所述原始固态硬盘对应的第二状态信息，并基于所述第二状态信息获得所述原始固态硬盘当前对应的数据擦除和可编程次数的第三平均值；

37、原始值确定单元，用于在获得长稳测试结果之后，基于所述数据擦除和可编程次数的第一平均值、所述数据擦除和可编程次数的第二平均值以及所述数据擦除和可编程次数的第三平均值，确定所述目标固态硬盘的原始值；

38、新的长稳测试结果获得单元，用于基于所述目标固态硬盘的原始值，将原始固态硬盘的数据擦除和可编程次数设置为新的目标值，基于所述新的目标值对应的所述目标固态硬盘再次进行循环校验测试处理，获得新的长稳测试结果；其中，所述新的目标值为所述目标固态硬盘对应的边界值、临界值或固定值。

39、进一步的，所述第一平均值获得单元，具体用于：

40、获取与所述原始固态硬盘对应的第一状态监听服务器的第一日志信息和第二状态监听服务器的第二日志信息，基于所述第一状态监听服务器的第一日志信息和所述第二状态监听服务器的第二日志信息，获取所述原始固态硬盘对应的第一状态信息。

41、进一步的，在获得长稳测试结果之后，还包括：

42、预测使用寿命确定单元，用于：

43、确定所述目标固态硬盘当前对应的实际容量；

44、确定所述目标固态硬盘当前对应的实际写入；

45、获得所述目标固态硬盘当前对应的实际数据擦除和可编程次数；

46、基于所述目标固态硬盘的实际容量、所述目标固态硬盘的实际写入以及所述实际数据擦除和可编程次数，获得所述目标固态硬盘当前对应的预测使用寿命。

47、进一步的，所述确定所述目标固态硬盘当前对应的实际容量，具体包括：

48、获取所述目标固态硬盘当前对应的硬盘容量和使用率，基于所述硬盘容量和所述使用率，获得所述目标固态硬盘当前对应的实际容量；

49、所述确定所述目标固态硬盘当前对应的实际写入，具体包括：

50、获取所述目标固态硬盘当前对应的写入文件大小和写入使用率，基于所述写入文件大小和所述写入使用率，获得所述目标固态硬盘当前对应的实际写入。

51、第三方面，本技术还提供一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上任意一项所述的固态硬盘的长稳测试处理方法的步骤。

52、第四方面，本技术还提供一种处理器可读存储介质，所述处理器可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上任意一项所述的固态硬盘的长稳测试处理方法的步骤。

53、本技术提供的固态硬盘的长稳测试处理方法，通过调用待测试的原始固态硬盘中预设的参数值设置接口，基于所述参数值设置接口将原始固态硬盘的数据擦除和可编程次数设置为目标值，确定与所述目标值对应的待测试的目标固态硬盘，确定所述目标固态硬盘对应的缓冲区配置参数和读写范围配置参数、测试周期参数以及测试读写命令，并基于所述缓冲区配置参数、所述读写范围配置参数以及所述测试周期参数，并执行所述测试读写命令对所述目标固态硬盘进行循环校验测试处理，获得长稳测试结果，其能够有效提高固态硬盘的长稳测试处理效率，从而降低固态硬盘出现异常的概率，提升固态硬盘的质量。