芯片测试波形显示方法、系统、装置和存储介质与流程

本发明涉及芯片测试领域，特别是涉及芯片测试波形显示方法、系统、装置和存储介质。

背景技术：

1、数字芯片广泛应用在电脑、手机等诸多电子产品之中，而芯片的生产过程包括了设计、制造、封装、测试等多个步骤，芯片的测试目的是检查芯片的性能是否达到设计预期，而数字芯片的性能会受到许多工作参数的影响。pattern测试是芯片测试中的一项重要的功能测试，根据芯片的时序逻辑原理，编写各种功能的测试向量，从而验证芯片的各项功能是否正常。在pattern测试中，测试人员需要对测试错误的原因进行分析，一般采用外部工具逻辑分析仪或示波器，通过飞线的方式把外部工具接到芯片的引脚中，测试相应的波形，通过波形图找到对应的问题点。然而，通常情况下芯片测试专用的测试板是全密封的结构，无法连接外部设备，导致使用此类测试板进行芯片测试时无法显示被测芯片的波形。

技术实现思路

1、本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提供了一种芯片测试波形显示方法，可以直接显示被测芯片的波形，无需额外连接外部设备。

2、第一方面，本发明提供了一种芯片测试波形显示方法，应用于芯片测试系统，所述系统包括上位机和测试机；所述上位机包括测试界面；所述方法包括：

3、获取测试向量集；所述测试向量集包括若干理论向量，每个所述理论向量解析后能够获取对应的理论波形；

4、响应于第一绘制请求，所述上位机从所述获取测试向量集中获取所述第一绘制请求对应的第一理论向量，并根据所述第一理论向量在所述测试界面上绘制第一理论波形；

5、响应于第二绘制请求，所述上位机获取第一测试向量并传输至所述测试机，所述测试机根据所述第一测试向量获得第一测试结果；

6、所述上位机从所述测试向量集中获取所述第二绘制请求对应的第二理论向量，根据所述第一测试结果、所述第一测试向量和所述第二理论向量在所述测试界面上绘制第一测试波形或第二测试波形。

7、在本发明的一些实施例中，所述获取测试向量集的步骤，包括：

8、所述上位机获取及解析第一图形文件，获得所述测试向量集并将所述测试向量集存储至所述测试机的内存中。

9、在本发明的一些实施例中，所述响应于第一绘制请求，所述上位机从所述获取测试向量集中获取所述第一绘制请求对应的第一理论向量，并根据所述第一理论向量在所述测试界面上绘制第一理论波形的步骤，包括：

10、响应于对所述测试界面上的第一按钮的点击操作，所述上位机从所述测试向量集中获取所述第一绘制请求对应的第一理论向量；

11、所述上位机根据预设规则解析所述第一理论向量，绘制所述第一理论波形，并显示在所述测试界面上。

12、在本发明的一些实施例中，所述响应于第二绘制请求，所述上位机获取第一测试向量并传输至所述测试机，所述测试机根据所述第一测试向量获得第一测试结果的步骤，包括：

13、响应于对所述测试界面上的第二按钮的点击操作，所述上位机获取预设的所述第一测试向量并传输至所述测试机；

14、所述测试机编译执行所述第一测试向量获取所述第一测试结果；所述第一测试结果用于表征所述第一测试向量是否执行成功。

15、在本发明的一些实施例中，所述上位机从所述测试向量集中获取所述第二绘制请求对应的第二理论向量，根据所述第一测试结果、所述第一测试向量和所述第二理论向量在所述测试界面上绘制第一测试波形或第二测试波形的步骤，包括：

16、若所述第一测试结果表征所述第一测试向量执行成功，所述测试机释放所述第一测试结果；

17、所述上位机根据预设规则解析所述第二理论向量获得第二理论波形，将所述第二理论波形作为所述第一测试波形绘制在所述测试界面上。

18、在本发明的一些实施例中，所述上位机从所述测试向量集中获取所述第二绘制请求对应的第二理论向量，根据所述第一测试结果、所述第一测试向量和所述第二理论向量在所述测试界面上绘制第一测试波形或第二测试波形的步骤，还包括：

19、若所述第一测试结果表征所述第一测试向量执行失败，所述测试机将所述第一测试结果存储至所述测试机的内存中；

20、所述上位机从所述测试机的内存中获取所述第一测试结果，根据预设规则解析所述第一测试结果获得异常波形，将所述异常波形作为所述第二测试波形绘制在所述测试界面上。

21、在本发明的一些实施例中，所述上位机从所述测试向量集中获取所述第二绘制请求对应的第二理论向量，根据所述第一测试结果、所述第一测试向量和所述第二理论向量在所述测试界面上绘制第一测试波形或第二测试波形的步骤，还包括：

22、所述上位机通过不同的颜色绘制所述第二理论波形和所述异常波形；

23、所述上位机将所述第二理论波形和所述异常波形拼接为同一波形，将拼接后的波形作为第三测试波形显示在所述测试界面上。

24、第二方面，本发明实施例提供了一种芯片测试系统，系统包括上位机和测试机；上位机包括测试界面；系统用于执行权利要求上述方面实施例中的芯片测试波形显示方法。

25、第三方面，本发明实施例提供了一种计算机装置，包括存储器和处理器，存储器用于存储至少一个程序，处理器用于加载至少一个程序以执行上述方面实施例的芯片测试波形显示方法。

26、第四方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，其中存储有处理器可执行的程序，处理器可执行的程序在由处理器执行时用于执行如上述方面实施例的芯片测试波形显示方法。

27、根据本发明的芯片测试波形显示方法，至少具有如下有益效果：本发明提供的芯片测试波形显示方法，通过上位机的测试界面控制芯片测试的测试机将输入进上位机的测试向量集转换为可视的理论波形和实际测试波形，并能够响应测试界面显示需求，将理论波形和实际测试波形显示在测试界面上。在整个测试过程中，无需额外使用外部工具，即使使用全密封结构的测试板，也能够直接在测试过程中显示被测芯片的波形。

技术特征：

1.一种芯片测试波形显示方法，其特征在于，应用于芯片测试系统，所述系统包括上位机和测试机；所述上位机包括测试界面；所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的芯片测试波形显示方法，其特征在于，所述获取测试向量集的步骤，包括：

3.根据权利要求2所述的芯片测试波形显示方法，其特征在于，所述响应于第一绘制请求，所述上位机从所述获取测试向量集中获取所述第一绘制请求对应的第一理论向量，并根据所述第一理论向量在所述测试界面上绘制第一理论波形的步骤，包括：

4.根据权利要求1所述的芯片测试波形显示方法，其特征在于，所述响应于第二绘制请求，所述上位机获取第一测试向量并传输至所述测试机，所述测试机根据所述第一测试向量获得第一测试结果的步骤，包括：

5.根据权利要求4所述的芯片测试波形显示方法，其特征在于，所述上位机从所述测试向量集中获取所述第二绘制请求对应的第二理论向量，根据所述第一测试结果、所述第一测试向量和所述第二理论向量在所述测试界面上绘制第一测试波形或第二测试波形的步骤，包括：

6.根据权利要求5所述的芯片测试波形显示方法，其特征在于，所述上位机从所述测试向量集中获取所述第二绘制请求对应的第二理论向量，根据所述第一测试结果、所述第一测试向量和所述第二理论向量在所述测试界面上绘制第一测试波形或第二测试波形的步骤，还包括：

7.根据权利要求6所述的芯片测试波形显示方法，其特征在于，所述上位机从所述测试向量集中获取所述第二绘制请求对应的第二理论向量，根据所述第一测试结果、所述第一测试向量和所述第二理论向量在所述测试界面上绘制第一测试波形或第二测试波形的步骤，还包括：

8.一种芯片测试系统，其特征在于，所述系统包括上位机和测试机；所述上位机包括测试界面；所述系统用于执行权利要求1-7中任一项所述的芯片测试波形显示方法。

9.一种计算机装置，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器用于存储至少一个程序，所述处理器用于加载所述至少一个程序以执行权利要求1-7中任一项所述的芯片测试波形显示方法。

10.一种计算机可读存储介质，其中存储有处理器可执行的程序，其特征在于，所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于执行如权利要求1-7中任一项所述的芯片测试波形显示方法。

技术总结本发明公开了芯片测试波形显示方法、系统、装置和存储介质，应用于芯片测试系统；该方法包括：获取测试向量集；响应于第一绘制请求，上位机从获取测试向量集中获取对应的第一理论向量，并根据第一理论向量在测试界面上绘制第一理论波形；响应于第二绘制请求，上位机获取第一测试向量并传输至测试机，测试机根据第一测试向量获得第一测试结果；上位机从测试向量集中获取第二绘制请求对应的第二理论向量，根据第一测试结果、第一测试向量和第二理论向量在测试界面上绘制第一测试波形或第二测试波形。本发明提供的芯片测试波形显示方法，在整个测试过程中，无需额外使用外部工具也能够直接在测试过程中显示被测芯片的波形。技术研发人员：李享源受保护的技术使用者：珠海芯业测控有限公司技术研发日：技术公布日：2024/9/9