一种内存测试主板及其测试方法与流程

本发明属于内存测试，具体涉及一种内存测试主板及其测试方法。

背景技术：

1、内存芯片上通常设置有一ten(test enable，测试使能)引脚，当对ten引脚接入高电平时，可使内存芯片进入ct模式(connectivity test mode，连接性测试模式)。当内存芯片处于ct模式时，可对内存芯片与soc(system on chip，系统级芯片)上内存控制器(memory controller)之间的电连接连续性进行测试。

2、目前，内存芯片生产厂商在内存芯片出厂前，通常会使用ate(auto testequipment，自动测试设备)测试仪通过ten引脚使内存芯片进入ct模式，以对内存芯片进行电连接开短路测试(continuity testing，用于确认在内存芯片进行测试时所有的信号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接，并且没有信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路)，该测试仅可以对内存芯片内部的电连接连续性进行测试。

3、对于ddr(double data rate，双倍数据速率)内存芯片，普遍需要将多颗内存芯片与pcb(printed circuit board，印刷电路板)组合成如内存条等被测件，再将该被测件插接到主板上使用。但是，在使用现有技术过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：

4、目前的主板上均没有针对内存芯片的ten引脚设置控制电路等相关的结构，因此在进行被测件的测试过程中，在主板对被测件进行测试时，无法通过ten引脚使被测件进入ct模式，进而无法在被测件出厂后，实现对内存芯片与主控单元上内存控制器之间的电连接连续性等测试。

技术实现思路

1、本发明旨在至少在一定程度上解决上述技术问题，本发明提供了一种内存测试主板及其测试方法。

2、为了实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

3、第一方面，本发明提供了一种内存测试主板，包括依次电连接的主控单元、控制电路和固定位，所述固定位用于连接被测件，所述固定位上设置有与所述被测件上的ten引脚对应连接的测试触点。

4、在一个可能的设计中，所述固定位采用内存插槽，对应地，所述被测件采用内存条，所述被测件上的任一ten引脚与所述固定位上的测试触点连接。

5、在一个可能的设计中，所述固定位采用芯片插座，对应地，所述被测件采用内存芯片，所述内存芯片上的ten引脚与所述固定位上的测试触点连接。

6、在一个可能的设计中，所述固定位采用udimm内存插槽、sodimm内存插槽、rdimm内存插槽或lrdimm内存插槽；对应地，所述被测件采用udimm内存条、sodimm内存条、rdimm内存条或lrdimm内存条，所述udimm内存条、所述sodimm内存条、所述rdimm内存条或所述lrdimm内存条上的ten引脚与所述固定位上的测试触点对应连接。

7、在一个可能的设计中，所述固定位采用udimm内存插槽，对应地，所述被测件采用udimm内存条，所述udimm内存条共有18个rfu引脚，分别为2、3、7、70、75、76、81、143、144、149、152、213、214、219、220、225、226、288号引脚；选用所述udimm内存插槽中，与所述udimm内存条的144号rfu引脚连接的触点作为测试触点。

8、在一个可能的设计中，所述固定位采用sodimm内存插槽，对应地，所述被测件采用sodimm内存条，所述sodimm内存条共有3个rfu引脚，分别为5、128、143号引脚；选用所述sodimm内存插槽中，与所述sodimm内存条的5号rfu引脚连接的触点作为测试触点。

9、在一个可能的设计中，所述固定位采用rdimm内存插槽，对应地，所述被测件采用rdimm内存条，所述rdimm内存条共有7个rfu引脚，分别为2、144、149、150、220、231、232号引脚；选用所述rdimm内存插槽中，与所述rdimm内存条的144号rfu引脚连接的触点作为测试触点。

10、在一个可能的设计中，所述固定位采用lrdimm内存插槽，对应地，所述被测件采用lrdimm内存条，所述lrdimm内存条共有7个rfu引脚，分别为2、144、149、150、220、231、232号引脚；选用所述lrdimm内存插槽中，与所述lrdimm内存条的144号rfu引脚连接的触点作为测试触点。

11、第二方面，本发明提供了一种如上述任一项所述的内存测试主板的测试方法，包括：

12、所述主控单元生成测试指令，并通过所述控制电路将所述被测件中内存芯片的ten引脚置高位，以使内存芯片进入测试模式；

13、所述主控单元根据预设数据表向被测件中内存芯片输入指定输入数据，并读取内存芯片的输出数据；

14、所述主控单元根据预设内存测试标准计算所述指定输入数据对应的预期输出值，并根据所述预期输出值与所述输出数据对内存芯片进行分析，得到内存芯片的测试结果。

15、在一个可能的设计中，所述测试指令包括开短路测试指令，测试模式包括ct模式；对应地，所述主控单元生成开短路测试指令后，通过控制电路将所述被测件中内存芯片的ten引脚置高位，以使内存芯片进入ct模式。

16、本发明通过将被测件的ten引脚引出，可使得内存测试主板依次通过控制电路和固定位实现对被测件的测试控制，进而在被测件出厂后也可对被测件进行开短路测试等内存测试，有助于在主板级全面进行被测件的测试工作。具体地，本发明中，固定位可与被测件连接，进而可便于在将被测件安装在固定位上时，使得主控单元依次通过控制电路和固定位与被测件的连接，主控单元可驱动被测件进入如ct模式等测试模式，进而实现对被测件的开短路测试等测试功能，由此在被测件出厂后，也可实现内存测试主板对被测件的自主测试功能，利于内存条及内存芯片等被测件的应用端用户有效把控被测件的质量，具备推广应用的价值。

技术特征：

1.一种内存测试主板，其特征在于：包括依次电连接的主控单元、控制电路和固定位，所述固定位用于连接被测件，所述固定位上设置有与所述被测件上的ten引脚对应连接的测试触点。

2.根据权利要求1所述的一种内存测试主板，其特征在于：所述固定位采用内存插槽，对应地，所述被测件采用内存条，所述被测件上的任一ten引脚与所述固定位上的测试触点连接。

3.根据权利要求1所述的一种内存测试主板，其特征在于：所述固定位采用芯片插座，对应地，所述被测件采用内存芯片，所述被测件上的ten引脚与所述固定位上的测试触点连接。

4.根据权利要求1所述的一种内存测试主板，其特征在于：所述固定位采用udimm内存插槽、sodimm内存插槽、rdimm内存插槽或lrdimm内存插槽；对应地，所述被测件采用udimm内存条、sodimm内存条、rdimm内存条或lrdimm内存条，所述udimm内存条、所述sodimm内存条、所述rdimm内存条或所述lrdimm内存条上的ten引脚与所述固定位上的测试触点对应连接。

5.根据权利要求1所述的一种内存测试主板，其特征在于：所述固定位采用udimm内存插槽，对应地，所述被测件采用udimm内存条，所述udimm内存条共有18个rfu引脚，分别为2、3、7、70、75、76、81、143、144、149、152、213、214、219、220、225、226、288号引脚；选用所述udimm内存插槽中，与所述udimm内存条的144号rfu引脚连接的触点作为测试触点。

6.根据权利要求1所述的一种内存测试主板，其特征在于：所述固定位采用sodimm内存插槽，对应地，所述被测件采用sodimm内存条，所述sodimm内存条共有3个rfu引脚，分别为5、128、143号引脚；选用所述sodimm内存插槽中，与所述sodimm内存条的5号rfu引脚连接的触点作为测试触点。

7.根据权利要求1所述的一种内存测试主板，其特征在于：所述固定位采用rdimm内存插槽，对应地，所述被测件采用rdimm内存条，所述rdimm内存条共有7个rfu引脚，分别为2、144、149、150、220、231、232号引脚；选用所述rdimm内存插槽中，与所述rdimm内存条的144号rfu引脚连接的触点作为测试触点。

8.根据权利要求1所述的一种内存测试主板，其特征在于：所述固定位采用lrdimm内存插槽，对应地，所述被测件采用lrdimm内存条，所述lrdimm内存条共有7个rfu引脚，分别为2、144、149、150、220、231、232号引脚；选用所述lrdimm内存插槽中，与所述lrdimm内存条的144号rfu引脚连接的触点作为测试触点。

9.一种如权利要求1至8任一项所述的内存测试主板的测试方法，其特征在于：包括：

10.根据权利要求9所述的内存测试主板的测试方法，其特征在于：所述测试指令包括开短路测试指令，测试模式包括ct模式；对应地，所述主控单元生成开短路测试指令后，通过控制电路将所述被测件中内存芯片的ten引脚置高位，以使内存芯片进入ct模式。

技术总结本发明属于内存测试技术领域，其目的在于提供一种内存测试主板及其测试方法。本发明中的内存测试主板包括依次电连接的主控单元、控制电路和固定位，所述固定位用于连接被测件，所述固定位上设置有与所述被测件上的TEN引脚对应连接的测试触点。本发明通过将被测件的TEN引脚引出，可使得内存测试主板依次通过控制电路和固定位实现对被测件的测试控制，进而在被测件出厂后也可对被测件进行开短路测试等内存测试，有助于在主板级全面进行被测件的测试工作。技术研发人员：张黎明,蔡书文受保护的技术使用者：皇虎测试科技（深圳）有限公司技术研发日：技术公布日：2024/5/19