用于对集成电路的每个引脚编程多个参数的装置和方法与流程

本发明的实施例涉及电子设备，更具体地，涉及集成电路的编程参数。

背景技术：

1、集成电路(ic)可以包括用于对ic进行编程的一个或多个引脚。例如，ic可以包括与总线相关的引脚，该总线用于使用微处理器或电可擦除可编程只读存储器(eeprom)对ic的状态进行顺序编程。或者，引脚可以选择性地连接到高电源电压或低电源电压，以二进制配置ic。在其他实施方式中，引脚可用于使用模拟技术对ic进行编程，例如通过使用电阻器分压器和/或电阻器组(r组)配置。

2、传统的ic编程方案可能具有相对较大的开销和/或费用。例如，传统的ic编程方案可以占用相对大的电路面积，具有相对高的复杂度，和/或使用相对大量的引脚进行编程。

技术实现思路

1、本文公开了用于对ic的每个引脚编程多个参数的装置和方法。在某些实施例中，使用外部部件结合ic的内部检测电路来设置ic的系统操作参数。内部检测电路允许用ic的一个引脚对多个参数进行编程，从而减小封装尺寸、板面积和/或芯片复杂性。

2、在一个方面，电路板包括一个或多个无源部件和集成电路(ic)。ic包括连接到一个或多个无源部件的感测输入引脚、被配置为存储ic的一个或多个参数的存储器、以及被配置为将一个或多个参数编程到存储器中的电压和阻抗感测电路。电压和阻抗感测电路包括可控电流源和电压测量电路，可控电流源被配置为控制感测输入引脚的电流，电压测量电路被配置为生成指示感测输入引脚的电压的测量信号。

3、在另一个方面，ic包括被配置为连接到ic外部的一个或多个无源部件的感测输入引脚、被配置为存储ic的一个或多个参数的存储器、以及被配置为将一个或多个参数编程到存储器中的电压和阻抗感测电路。电压和阻抗感测电路包括可控电流源和电压测量电路，可控电流源被配置为控制感测输入引脚的电流，电压测量电路被配置为生成指示感测输入引脚的电压的测量信号。

4、在另一个方面，提供了一种对ic进行编程的方法。该方法包括使用ic的可控电流源来控制ic的感测输入引脚的电流，该感测输入引脚连接到ic外部的一个或多个无源部件。该方法还包括使用ic的电压测量电路生成指示感测输入引脚的电压的测量信号，以及基于感测输入引脚的电压将ic的一个或多个参数编程到ic的存储器中。

技术特征：

1.一种电路板，包括：

2.根据权利要求1所述的电路板，其中所述电压测量电路被配置为当所述可控电流源的电流被关断时测量所述感测输入引脚的初始电压。

3.根据权利要求2所述的电路板，其中所述可控电流源被配置为在所述电压测量电路测量所述初始电压之后激活所述电流。

4.根据权利要求3所述的电路板，其中所述电压和阻抗感测电路被配置为基于所述初始电压和所述电压测量电路的输入范围来控制来自所述可控电流源的电流的方向。

5.根据权利要求3所述的电路板，其中所述电压测量电路被配置为当所述可控电流源被激活时捕获所述感测输入引脚的多个电压测量。

6.根据权利要求1所述的电路板，其中所述一个或多个无源部件包括连接到所述感测输入引脚的第一电阻器，其中所述电压和阻抗感测电路被配置为基于检测所述一个或多个无源部件的电阻将所述一个或多个参数中的参数编程到所述存储器中。

7.根据权利要求1所述的电路板，其中所述一个或多个无源部件还包括第一电阻器和第二电阻器，所述第一电阻器和所述第二电阻器被连接以形成电阻器分压器，其中所述电压和阻抗感测电路还被配置为基于由所述电阻器分压器设置的模拟输入电压将所述一个或多个参数中的参数编程到所述存储器中。

8.根据权利要求1所述的电路板，其中所述一个或多个无源部件还包括连接到所述感测输入引脚的电阻器和电容器，其中所述电压和阻抗感测电路还被配置为基于检测到的一个或多个无源部件的电阻器-电容器(rc)时间常数将所述一个或多个参数中的参数编程到所述存储器中。

9.根据权利要求1所述的电路板，其中所述可控电流源包括上电流源和下电流源，所述上电流源被配置为将所述电流提供到所述感测输入引脚上，所述下电流源被设置为从所述感测输入引脚吸收所述电流。

10.根据权利要求1所述的电路板，其中所述电流的大小和方向都是可控的。

11.根据权利要求1所述的电路板，其中所述电压测量电路包括模数转换器(adc)，所述模数转换器(adc)被配置为将所述测量信号输出为数字信号。

12.根据权利要求1所述的电路板，其中所述集成电路还包括斜率检测器，所述斜率检测器被配置为响应于所述电流处理所述测量信号以检测所述感测输入引脚的电压的斜率，所述电压和阻抗感测电路还被配置为基于所述斜率将所述一个或多个参数编程到所述存储器中。

13.根据权利要求12所述的电路板，其中所述斜率检测器被配置为接收指示用于检测所述感测输入引脚的电压的斜率的时基的时钟信号。

14.一种集成电路(ic)，包括：

15.根据权利要求14所述的ic，还包括斜率检测器，所述斜率检测器被配置为响应于所述电流处理所述测量信号以检测所述感测输入引脚的电压的斜率，所述电压和阻抗感测电路还被配置为基于所述斜率将所述一个或多个参数编程到所述存储器中。

16.根据权利要求14所述的ic，其中所述电压和阻抗感测电路被配置以基于检测到所述感测输入引脚处的电阻而将所述一个或多个参数中的参数编程到所述存储器中。

17.根据权利要求14所述的ic，其中所述电压和阻抗感测电路还被配置以基于所述感测输入引脚的模拟输入电压将所述一个或多个参数中的参数编程到所述存储器中。

18.根据权利要求14所述的ic，其中所述电压和阻抗感测电路还被配置以基于在所述感测输入引脚处检测到的电阻器-电容器(rc)时间常数将所述一个或多个参数中的参数编程到所述存储器中。

19.一种对集成电路(ic)进行编程的方法，所述方法包括：

20.根据权利要求19所述的方法，还包括使用接收所述测量信号的斜率检测器来检测所述感测输入引脚的电压响应于所述电流的斜率，并且基于所述斜率来编程所述一个或多个参数。

技术总结本文公开了用于对IC的每个引脚编程多个参数的装置和方法。在某些实施例中，使用外部部件结合IC的内部检测电路来设置IC的系统操作参数。内部检测电路允许用IC的一个引脚对多个参数进行编程，从而减小封装尺寸、板面积和/或芯片复杂性。例如，本文的教导允许检测每个引脚的三个或多个唯一参数或状态，从而显著减少了零件引脚数量和板面积。技术研发人员：A·普雷斯蒂,G·J·曼洛弗,D·胡曼受保护的技术使用者：美国亚德诺半导体公司技术研发日：技术公布日：2024/5/27