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芯片存储器的调节方法、装置、设备及存储介质与流程

  • 国知局
  • 2024-08-08 17:04:56

本发明涉及芯片存储器,特别涉及一种芯片存储器的调节方法、装置、设备及存储介质。

背景技术:

1、随着集成电路技术的快速发展,芯片存储器作为计算机系统中的关键组件,其性能和可靠性直接影响到整个系统的稳定性和效率。芯片存储器在长期使用过程中可能会出现各种故障,如读写错误、数据丢失和漏电流等问题。这些故障不仅会导致数据的丢失,还会严重影响系统的整体性能。因此,如何有效地检测、分析和调整芯片存储器的性能,成为了当前技术领域中的一个重要课题。

技术实现思路

1、本发明的主要目的为提供一种芯片存储器的调节方法、装置、设备及存储介质,解决了如何有效地检测、分析和调整芯片存储器的性能的技术问题。

2、为实现上述目的,本发明提供了一种芯片存储器的调节方法,所述芯片存储器与测试设备进行连接,包括以下步骤:

3、通过芯片存储器获取存储监测数据,并对所述存储监测数据进行内容提取,得到存储内容;

4、获取存储监测数据对应的原版数据,通过预设的内容扫描算法,基于所述原版数据对所述存储内容进行内容检测对比,得到检测结果;

5、通过预设的数学转换模型将所述检测结果转化为检测面积,若所述检测面积不在预先设定的面积范围内,则基于所述检测结果对所述存储监测数据进行标注,得到标注数据;

6、基于所述标注数据对所述芯片存储器进行性能分析,得到分析结果;

7、基于所述分析结果得到芯片存储器的故障因子,将所述故障因子输入预设的参数算法内进行计算,得到芯片存储器的调节参数。

8、作为本发明进一步的方案,对所述存储监测数据进行内容提取,得到存储内容,包括:

9、通过valgrind对所述存储监测数据进行检测,以检测所述存储监测数据是否泄漏,得检测数据;

10、若所述检测数据没有泄露,则将所述检测数据转化为检测数据包;

11、对所述检测数据包进行解析,得到解析检测数据;

12、对所述解析检测数据进行数据增强,得到增强数据;

13、将所述增强数据输入预设的神经网络内进行内容提取,得到存储内容。

14、作为本发明进一步的方案,通过预设的内容扫描算法,基于所述原版数据对所述存储内容进行内容检测对比,得到检测结果,包括:

15、对所述原版数据注入错误,得到原版错误数据;

16、基于所述原版错误数据对所述存储内容进行检测对比,若所述原版错误数据与所述存储内容不一致,则得到第一检测结果;

17、基于所述原版数据对所述存储内容进行数据一致性检查,若所述原版数据与存储内容不一致,则对所述存储内容进行错误识别,得到第二检测结果;并将所述第一检测结果与所述第二检测结果进行组合,得到检测结果,其中,所述错误识别包括单比特错误识别、多位错误识别、连续错误识别。

18、作为本发明进一步的方案,所述检测结果包括错误数量、误码率、响应时间,通过预设的数学转换模型将所述检测结果转化为检测面积,若所述检测面积不在预先设定的面积范围内,则基于所述检测结果对所述存储监测数据进行标注,得到标注数据,包括:

19、通过预设的数据转化模型对所述检测结果进行数值转化,得到转化数值;

20、对所述转化数值进行二维空间映射,得到检测面积;

21、预先设定一个面积范围,若所述检测面积不在预先设定的面积范围内,则基于所述检测结果对所述存储监测数据进行定位,得到定位检测数据;

22、对所述定位检测数据进行故障等级分类,得到分类结果;其中,所述分类结果包括潜在故障的定位检测数据、中等故障的定位检测数据、严重故障的定位检测数据;

23、对所述潜在故障的定位检测数据进行深度分析,得到深度分析数据;

24、若所述深度分析数据是中等故障的定位检测数据或者严重故障的定位检测数据,则对所述潜在故障的定位检测数据进行隔离标注,得到隔离标注数据,并对所述中等故障的定位检测数据和严重故障的定位检测数据分别进行标记符号标注,得到对应的符号标记数据;

25、将对应的符号标记数据以及隔离标注数据作为标注数据。

26、作为本发明进一步的方案,对所述潜在故障的定位检测数据进行隔离标注,得到隔离标注数据,包括:

27、将所述潜在故障的定位检测数据输入长短记忆算法内进行分析,得到潜在分析结果;其中,所述分析结果包括所述潜在故障的定位检测数据是否随时间变化以及所述潜在故障的定位检测数据是否发生故障;

28、若所述潜在故障的定位检测数据随时间变化时,则标识出潜在故障的定位检测数据发生的特定时间点或时间段;

29、在特定时间点或时间段对所述潜在故障的定位检测数据进行关联性分析,

30、得到关联性分析结果;基于所述关联性分析结果对所述潜在故障的定位检测数据进行注释和标注,得到注释数据;其中,关联性分析结果包括电压波动、温度变化以及读写操作频繁度增加;

31、若所述潜在故障的定位检测数据突然发生故障,则对突然发生故障对应的潜在故障的定位检测数据进行突发标记,得到突发标记数据;

32、将所述注释数据以及突发标记数据进行组合,得到组合标记数据;

33、对所述组合标记数据进行逻辑隔离,得到隔离标注数据。

34、作为本发明进一步的方案,基于所述标注数据对所述芯片存储器进行性能分析,得到分析结果,包括:

35、对所述标注数据进行错误特征提取,得到标注特征;其中,所述标注特征包括标注数据的错误类型、标注特征的错误频率以及标注特征的位置分布;

36、对所述标注特征进行分析,以确定所述标注数据是否存在特定的错误模式或故障趋势;

37、若存在,则基于所述错误模式或故障趋势对所述芯片存储器进行性能评估,以得到存储器的整体性能衰退情况;其中,所述性能衰退情况包括读写速度、访问延迟、数据吞吐量;

38、获取芯片存储器的当前空间、当前带宽、以及当前效率;

39、基于所述芯片存储器的当前空间、当前带宽、当前效率以及所述整体性能衰退情况得到所述芯片存储器的分析结果;其中,所述分析结果包括平均无故障时间、数据保持能力、错误纠正能力。

40、作为本发明进一步的方案,基于所述分析结果得到芯片存储器的故障因子,将所述故障因子输入预设的参数算法内进行计算,得到芯片存储器的调节参数,包括:

41、基于所述分析结果,提取芯片存储器的各种故障因子,并将对应的故障因子进行分类,得到分类故障因子;

42、采用渐进式非线性策略,将所述分类故障因子与预设的参数算法内的调节参数进行映射匹配,得到各个所述分类故障因子与可调节参数之间的映射关系;

43、采用高斯-牛顿法,基于所述映射关系对所述调节参数进行计算,得到计算参数;

44、对所述计算参数进行权衡优化,得到芯片存储器的调节参数。

45、本发明还提供了一种芯片存储器的调节装置,所述芯片存储器与测试设备进行连接,包括:

46、提取模块,用于通过芯片存储器获取存储监测数据,并对所述存储监测数据进行内容提取,得到存储内容;

47、对比模块,用于获取存储监测数据对应的原版数据,通过预设的内容扫描算法,基于所述原版数据对所述存储内容进行内容检测对比,得到检测结果;

48、标注模块,用于通过预设的数学转换模型将所述检测结果转化为检测面积,若所述检测面积不在预先设定的面积值内,则基于所述检测结果对所述存储监测数据进行标注,得到标注数据;

49、分析模块,用于基于所述标注数据对所述芯片存储器进行性能分析,得到分析结果;

50、调节模块,用于基于所述分析结果得到芯片存储器的故障因子,将所述故障因子输入预设的参数算法内进行计算,得到芯片存储器的调节参数。

51、本发明还提供一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器中存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一项所述方法的步骤。

52、本发明还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一项所述的方法的步骤。

53、本发明提供的芯片存储器的调节方法、装置、设备及存储介质,包括以下步骤:通过芯片存储器获取存储监测数据,并对所述存储监测数据进行内容提取,得到存储内容;获取存储监测数据对应的原版数据,通过预设的内容扫描算法,基于所述原版数据对所述存储内容进行内容检测对比,得到检测结果;通过预设的数学转换模型将所述检测结果转化为检测面积,若所述检测面积不在预先设定的面积范围内,则基于所述检测结果对所述存储监测数据进行标注,得到标注数据;基于所述标注数据对所述芯片存储器进行性能分析,得到分析结果;基于所述分析结果得到芯片存储器的故障因子,将所述故障因子输入预设的参数算法内进行计算,得到芯片存储器的调节参数;通过上述的技术方案,解决了如何有效地检测、分析和调整芯片存储器的性能的技术问题,提升了调整过程的效率和效果,能够快速适应不同的故障模式和性能需求。

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