检测电路的制作方法

本申请涉及但不限定于一种检测电路。

背景技术：

1、目前，dram(dynamic random access memory动态随机存取存储器)技术发展迅速，主要应用的有同步动态随机存取存储器(sdram)、第2代双倍数据速率(ddr2)sdram、第3代双倍数据速率(ddr3)sdram、第4代双倍数据速率(ddr4)sdram和第5代双倍数据速率(ddr5)sdram等类型。

2、然而，存储器通常无法实现存储单元的存储功能的故障检测，使得在使用该存储器进行数据存储时，容易出现由于无法存储数据而造成数据丢失的问题。

技术实现思路

1、本申请提供一种检测电路，包括：

2、生成单元，其设有多个输出端，其用于生成随机检测数据，并通过每个输出端输出随机检测数据中一位数据；

3、第一驱动单元，其设有多个第一输入端和多个输出端，其第一输入端一一对应地与生成单元的多个输出端连接，其多个输出端用于与存储阵列连接，其用于传输随机检测数据至存储阵列，存储阵列用于存储随机检测数据；

4、比较单元，其设有多个第一输入端和多个第二输入端，其多个第一输入端一一对应地与生成单元的多个输出端连接，其多个第二输入端用于与存储阵列连接，其用于将从存储阵列读取的第一读取数据和生成单元生成的随机检测数据比较获得第一比较结果。

5、在一实施例中，随机检测数据中有至少两位数据不相同。

6、在一实施例中，生成单元包括：

7、第一模式寄存器，其设有输出端，其用于响应模式寄存器写入指令时存储触发数据；

8、随机生成器，其设有输入端和多个输出端，其输入端与第一模式寄存器的输出端连接，其多个输出端作为生成单元的多个输出端，其用于根据触发数据随机生成随机检测数据。

9、在一实施例中，第一驱动单元还设有：

10、多个第一控制端，其第一控制端在接收到写随机数据指令时控制其各个输出端输出随机检测数据。

11、在一实施例中，第一驱动单元还设有：

12、多个第二输入端和多个第二控制端，每个第二输入端均连接第一数据传输线，每个第二输入端用于同时接收重复检测数据；每个第二控制端均接收到写重复数据指令时控制第一驱动单元的各个输出端输出重复检测数据。

13、在一实施例中，第一驱动单元还设有：

14、多个第三输入端和多个第三控制端，每个第三输入端用于接收待存储数据；每个第三控制端均接收到写数据指令时控制第一驱动单元的各个输出端输出待存储数据。

15、在一实施例中，第一驱动单元包括多个第一驱动子电路；

16、每个第一驱动子电路设有第一输入端、第二输入端、第三输入端和输出端，其第一输入端作为第一驱动单元的一个第一输入端，其第二输入端作为第一驱动单元的一个第二输入端，其第三输入端作为第一驱动单元的一个第三输入端，其输出端作为第一驱动单元的一个输出端。

17、在一实施例中，第一驱动子电路包括：

18、第一可控反相器，其设有控制端、输入端以及输出端，其控制端作为第一驱动子电路的第一控制端，其输入端作为第一驱动子电路的第一输入端，其输出端作为第一驱动子电路的输出端；

19、第二可控反相器，其设有控制端、输入端以及输出端，其控制端作为第一驱动子电路的第二控制端，其输入端作为第一驱动子电路的第二输入端，其输出端与第一可控反相器的输出端连接；

20、第三可控反相器，其设有控制端、输入端以及输出端，其控制端作为第一驱动子电路的第三控制端，其输入端作为第一驱动子电路的第三输入端，其输出端与第一可控反相器的输出端连接。

21、在一实施例中，比较单元包括：

22、第二驱动单元，其设有多个输入端、多个输出端以及多个控制端，其多个输入端作为比较单元的多个第二输入端，多个控制端均接收到读数据指令时传输从存储阵列中读取第一读取数据；

23、比较电路，其设有多个第一输入端和多个第二输入端，其多个第一输入端作为比较单元的多个第一输入端，其多个第二输入端一一对应地与第二驱动单元的输出端连接，用于将从存储阵列读取的第一读取数据和生成单元生成的随机检测数据比较获得第一比较结果。

24、在一实施例中，第二驱动单元包括多个第二驱动子电路；

25、每个第二驱动子电路设有输入端、输出端以及控制端，其输入端作为第二驱动单元的一个输入端，其输出端作为第二驱动单元的一个输出端，其控制端作为第二驱动单元的一个控制端。

26、在一实施例中，第二驱动子电路包括：

27、第四可控反相器，其设有控制端、输入端以及输出端，其控制端作为第二驱动子电路的控制端，其输入端作为第二驱动子电路的输入端，其输出端作为第二驱动子电路的输出端。

28、在一实施例中，比较电路具体用于：

29、将从存储阵列读取的第一读取数据和生成单元生成的随机检测数据进行逐位比较，获得每位的比较结果。

30、在一实施例中，比较单元还包括多个第三输入端，多个第三输入端与第一数据传输线连接，比较单元还用于将从存储阵列读取的第二读取数据和重复检测数据比较，获得第二比较结果。

31、在一实施例中，检测电路还包括：

32、第二模式寄存器，其输入端与比较单元的输出端连接，用于存储第一比较结果和第二比较结果。

33、在一实施例中，存储阵列包括多个第三驱动单元，第一驱动单元的多个输出端一一对应地用于与多个第三驱动单元连接，第二驱动单元的多个输入端一一对应地用于与多个第三驱动单元连接。

34、本申请提供一种检测电路，检测电路包括生成单元、第一驱动单元以及比较单元，生成单元用于生成随机检测数据，第一驱动单元的多个第一输入端一一对应地与生成单元的多个输出端连接，第一驱动单元的多个输出端用于与存储列连接，以实现由第一驱动单元将随机检测数据传输至存储阵列，并由存储阵列进行数据存储，再由比较单元接收从存储阵列读取的数据，并将读取到的第一读取数据和生成单元输出的随机检测数据进行比较，以获得第一比较结果，并根据第一比较结果进行存储阵列的存储功能的故障检测。

技术特征：

1.一种检测电路，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述随机检测数据中有至少两位数据不相同。

3.根据权利要求1或2所述的检测电路，其特征在于，所述生成单元包括：

4.根据权利要求3所述的检测电路，其特征在于，所述第一驱动单元还设有：

5.根据权利要求4所述的检测电路，其特征在于，所述第一驱动单元还设有：

6.根据权利要求5所述的检测电路，其特征在于，所述第一驱动单元还设有：

7.根据权利要求6所述的检测电路，其特征在于，所述第一驱动单元包括多个第一驱动子电路；

8.根据权利要求7所述的检测电路，其特征在于，所述第一驱动子电路包括：

9.根据权利要求1或2所述的检测电路，其特征在于，所述比较单元包括：

10.根据权利要求9所述的检测电路，其特征在于，所述第二驱动单元包括多个第二驱动子电路；

11.根据权利要求10所述的检测电路，其特征在于，所述第二驱动子电路包括：

12.根据权利要求9所述的检测电路，其特征在于，所述比较电路具体用于：

13.根据权利要求5所述的检测电路，其特征在于，所述比较单元还包括多个第三输入端，所述多个第三输入端与第一数据传输线连接，所述比较单元还用于将从所述存储阵列读取的第二读取数据和所述重复检测数据比较，获得第二比较结果。

14.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路还包括：

15.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述存储阵列包括多个第三驱动单元，所述第一驱动单元的多个输出端一一对应地用于与所述多个第三驱动单元连接，第二驱动单元的多个输入端一一对应地用于与所述多个第三驱动单元连接。

技术总结本申请提供一种检测电路，包括：生成单元，其设有多个输出端，其用于生成随机检测数据，并通过每个输出端输出随机检测数据中一位数据；第一驱动单元，其设有多个第一输入端和多个输出端，其第一输入端一一对应地与生成单元的多个输出端连接，其多个输出端用于与存储阵列连接，其用于传输随机检测数据至存储阵列，存储阵列用于存储随机检测数据；比较单元，其设有多个第一输入端和多个第二输入端，其多个第一输入端一一对应地与生成单元的多个输出端连接，其多个第二输入端用于与存储阵列连接，其用于将从存储阵列读取的第一读取数据和生成单元生成的随机检测数据比较获得第一比较结果，通过如此设置，可实现存储阵列的存储功能的故障检测。技术研发人员：高恩鹏受保护的技术使用者：长鑫存储技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/15