芯片互连测试方法、芯片测试系统及自动化测试设备与流程

本技术涉及芯片，尤其涉及一种芯片互连测试方法、芯片测试系统及自动化测试设备。

背景技术：

1、芯粒(chiplet)是将多个芯片互连起来最终成为一个大的芯片。在chiplet芯片中，通常会存在几千到几万个高速的互连口。由于互连口需要传输很高速率的数据，一旦互连口在芯片生产制造过程中引入工艺缺陷，就会导致chiplet芯片功能出现问题，进而影响整个封装后芯片的良率，如果工艺缺陷在芯片的测试过程中未发现，则会导致存在缺陷的芯片流到产品上，导致更大的损失。

2、对互连口进行测试时，为了确保测试的质量，因此，需要按照功能应用的高吞吐率的场景进行测试。目前比较常用的方式是采用内建自测试电路和自动化测试设备(automatic test equipment，ate)进行测试。但是目前的测试方案对互连口的各个通道进行测试时，结果不够准确，使得测试的质量较差。

技术实现思路

1、本技术实施例的目的在于提供一种芯片互连测试方法、芯片测试系统及自动化测试设备，用于解决对互连口进行测试时，结果不够准确的问题。

2、为了解决上述问题，本技术实施例提供了以下技术方案：

3、第一方面，提供了一种芯片互连测试方法，该方法应用于芯片测试系统，其中该芯片测试系统包括第一芯片和第二芯片，且第一芯片与第二芯片通过互连口耦接。其中，互连口上包括了多个通道。进行测试时，可以先通过第一芯片向互连口上的各个通道以及与各个通道物理位置相邻的通道输出第一测试信号。然后，通过第二芯片获取从各个通道及与各个通道相邻的通道接收到的第二测试信号，并输出对应的校验信号。其中，校验信号可以通过对第一测试信号和第二测试信号进行对比后得到。

4、通过上述方式，在进行测试时，第一芯片是向互连口上的各个通道以及与各个通道物理位置相邻的通道输出第一测试信号，第二芯片再基于第一测试信号和第二测试信号输出对应的校验信号，使测试结果可以更好的反映出故障的通道与其相邻的通道之间的关联性，与现有的仅通过多个随机码对单个通道进行测试的方式相比，可以使测试结果更加准确。

5、在一种可能的实现方式中，芯片测试系统还包括自动化测试设备；且上述方法还包括：通过自动化测试设备向第一芯片输出第一信号；第一信号用于指示第一芯片向互连口上的各个通道以及与各个通道物理位置相邻的通道输出第一测试信号。基于此，测试时可以通过自动化测试设备输出的第一信号对第一芯片输出的第一测试信号进行预配置，从而更加灵活的根据测试的需求对各个通道的测试信号进行配置。

6、在一种可能的实现方式中，上述方法还包括：通过自动化测试设备基于校验信号确定互连口存在故障时，根据各个通道的物理位置输出各个通道以及与各个通道物理位置相邻的通道中故障的通道的定位信息。基于此，当互连口存在故障时，能够更为准确的确定故障的通道所在的物理位置，从而可以更为准确的发现工艺缺陷问题。

7、在一种可能的实现方式中，定位信息包括故障的通道在互连口上的坐标、各个通道的半径、相邻两个通道之间的间隔以及各个通道在互连口上的映射关系。基于此，根据故障的通道在互连口上的坐标、各个通道的半径、相邻两个通道之间的间隔以及各个通道在互连口上的映射关系可以更为准确的在互连口上找到故障的通道。

8、在一种可能的实现方式中，上述方法还包括：通过自动化测试设备根据定位信息输出故障的通道在互连口上的分布图。基于此，可以更为直观的看出故障的通道在互连口上对应的位置，在检查时可以更快的找到故障的通道。

9、在一种可能的实现方式中，第一芯片可以根据互连口上各个通道的物理位置对应的排布关系定义的顺序，向各个通道以及与各个通道物理位置相邻的通道输出第一测试信号。通过各个通道的物理位置对应的排布关系定义的顺序进行测试，可以更加有序的对互连口进行测试。

10、在一种可能的实现方式中，上述互连口为多组。其中，第一芯片根据互连口的分组顺序向各个互连口上的各个通道以及与各个通道物理位置相邻的通道输出第一测试信号。通过这种方式，可以更加有序的对多个互连口进行测试。

11、在一种可能的实现方式中，第一测试信号包括两个电平相反的信号。通过两个电平相反的信号，更充分的对各个通道进行测试，防止某些通道传输的信号是固定电平时，测试信号始终与其相同使得测试结果不准确的问题。

12、第二方面，提供了一种芯片测试系统，该芯片测试系统包括第一芯片和第二芯片，且第一芯片与第二芯片通过互连口耦接。其中，第一芯片用于向互连口上的各个通道以及与各个通道物理位置相邻的通道输出第一测试信号；第二芯片用于获取从各个通道及与各个通道相邻的通道接收到的第二测试信号，并输出对应的校验信号。

13、在一种可能的实现方式中，芯片测试系统还包括自动化测试设备。其中，自动化测试设备用于向第一芯片输出第一信号；第一信号用于指示第一芯片向互连口上的各个通道以及与各个通道物理位置相邻的通道输出第一测试信号。

14、在一种可能的实现方式中，自动化测试设备还用于基于校验信号确定互连口存在故障时，根据各个通道的物理位置输出各个通道以及与各个通道物理位置相邻的通道中故障的通道的定位信息。

15、在一种可能的实现方式中，上述的定位信息包括故障的通道在互连口上的坐标、各个通道的半径、相邻两个通道之间的间隔以及各个通道在互连口上的映射关系。

16、在一种可能的实现方式中，上述自动化测试设备还用于根据定位信息输出故障的通道在互连口上的分布图。

17、在一种可能的实现方式中，第一芯片包括第一信号发生器以及与第一信号发生器耦接的第一多路选择器。其中，第一多路选择器用于将各个通道以及与各个通道物理位置相邻的通道与第一信号发生器导通。第一信号发生器用于向互连口上的各个通道以及与各个通道物理位置相邻的通道输出第一测试信号。

18、在一种可能的实现方式中，第二芯片包括第一触发器以及耦接在互连口和第一触发器之间的第二多路选择器。第二多路选择器用于将各个通道以及与各个通道物理位置相邻的通道与第一触发器导通。第一触发器用于基于第二测试信号和第一测试信号输出对应的校验信号。

19、在一种可能的实现方式中，第一芯片还用于根据互连口上各个通道的物理位置对应的排布关系定义的顺序，向各个通道以及与各个通道物理位置相邻的通道输出第一测试信号。

20、在一种可能的实现方式中，上述的互连口为多组。其中，第一芯片还用于根据互连口的分组顺序向各个互连口上的各个通道以及与各个通道物理位置相邻的通道输出第一测试信号。

21、在一种可能的实现方式中，第一测试信号包括两个电平相反的信号。

22、第三方面，提供了一种自动化测试设备；包括处理器和存储器；存储器存储有计算机程序指令，计算机程序指令被处理器执行时实现上述第一方面中的自动化测试设备所执行的方法。

23、第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序指令，计算机程序指令被处理器执行时实现上述第一方面中的自动化测试设备所执行的方法。

24、第五方面，提供了一种计算机程序产品，该计算机程序产品在计算机上运行时，可以实现上述第一方面中的自动化测试设备所执行的方法。

25、其中，第二方面至第五方面所能达到的有益效果可以参照上述第一方面，本技术对此不做赘述。