锁存电路及熔丝失效检测方法、装置、设备及介质与流程

所属的技术人员能够理解，本公开的各个方面可以实现为系统、方法或程序产品。因此，本公开的各个方面可以具体实现为以下形式，即：完全的硬件实施方式、完全的软件实施方式(包括固件、微代码等)，或硬件和软件方面结合的实施方式，这里可以统称为“电路”、“模块”或“系统”。下面参照图17来描述根据本公开的这种实施方式的电子设备1700。图17显示的电子设备1700仅仅是一个示例，不应对本公开实施例的功能和使用范围带来任何限制。如图17所示，电子设备1700以通用计算设备的形式表现。电子设备1700的组件可以包括但不限于：上述至少一个处理单元1710、上述至少一个存储单元1720、连接不同系统组件(包括存储单元1720和处理单元1710)的总线1730。其中，存储单元存储有程序代码，程序代码可以被处理单元1710执行，使得处理单元1710执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本公开各种示例性实施方式的步骤。存储单元1720可以包括易失性存储单元形式的可读介质，例如随机存取存储单元(ram)17201和/或高速缓存存储单元17202，还可以进一步包括只读存储单元(rom)17203。存储单元1720还可以包括具有一组(至少一个)程序模块17205的程序/实用工具17204，这样的程序模块17205包括但不限于：操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。总线1730可以为表示几类总线结构中的一种或多种，包括存储单元总线或者存储单元控制器、外围总线、图形加速端口、处理单元或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。电子设备1700也可以与一个或多个外部设备1740(例如键盘、指向设备、蓝牙设备等)通信，还可与一个或者多个使得用户能与该电子设备1700交互的设备通信，和/或与使得该电子设备1700能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如路由器、调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(i/o)接口1750进行。并且，电子设备1700还可以通过网络适配器1760与一个或者多个网络(例如局域网(lan)，广域网(wan)和/或公共网络，例如因特网)通信。如图17所示，网络适配器1760通过总线1730与电子设备1700的其它模块通信。应当明白，尽管图中未示出，可以结合电子设备1700使用其它硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、raid系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员易于理解，这里描述的示例实施方式可以通过软件实现，也可以通过软件结合必要的硬件的方式来实现。因此，根据本公开实施方式的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是cd-rom，u盘，移动硬盘等)中或网络上，包括若干指令以使得一台计算设备(可以是个人计算机、服务器、终端装置、或者网络设备等)执行根据本公开实施方式的方法。在本公开的示例性实施例中，还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。该计算机可读存储介质上存储有能够实现本公开上述方法的程序产品。在一些可能的实施方式中，本公开的各个方面还可以实现为一种程序产品的形式，其包括程序代码，当程序产品在终端设备上运行时，程序代码用于使终端设备执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本公开各种示例性实施方式的步骤。本公开中的计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器(ram)、只读存储器(rom)、可擦式可编程只读存储器(eprom或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(cd-rom)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本公开中，计算机可读存储介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了可读程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。可读信号介质还可以是可读存储介质以外的任何可读介质，该可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。在一些示例中，计算机可读存储介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于无线、有线、光缆、rf等等，或者上述的任意合适的组合。在具体实施时，可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本公开操作的程序代码，程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如java、c++等，还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“c”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。在涉及远程计算设备的情形中，远程计算设备可以通过任意种类的网络，包括局域网(lan)或广域网(wan)，连接到用户计算设备，或者，可以连接到外部计算设备(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。本公开实施例提供了一种计算机程序产品或计算机程序，该计算机程序产品或计算机程序包括计算机指令，该计算机指令存储在计算机可读存储介质中。计算机设备的处理器从计算机可读存储介质读取该计算机指令，处理器执行该计算机指令，使得该计算机设备执行本公开任一实施例中的各种可选方式中提供的熔丝失效检测方法。应当注意，尽管在上文详细描述中提及了用于动作执行的设备的若干模块或者单元，但是这种划分并非强制性的。实际上，根据本公开的实施方式，上文描述的两个或更多模块或者单元的特征和功能可以在一个模块或者单元中具体化。反之，上文描述的一个模块或者单元的特征和功能可以进一步划分为由多个模块或者单元来具体化。此外，尽管在附图中以特定顺序描述了本公开中方法的各个步骤，但是，这并非要求或者暗示必须按照该特定顺序来执行这些步骤，或是必须执行全部所示的步骤才能实现期望的结果。附加的或备选的，可以省略某些步骤，将多个步骤合并为一个步骤执行，以及/或者将一个步骤分解为多个步骤执行等。通过以上实施方式的描述，本领域的技术人员易于理解，这里描述的示例实施方式可以通过软件实现，也可以通过软件结合必要的硬件的方式来实现。因此，根据本公开实施方式的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是cd-rom，u盘，移动硬盘等)中或网络上，包括若干指令以使得一台计算设备(可以是个人计算机、服务器、移动终端、或者网络设备等)执行根据本公开实施方式的方法。本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其它实施方案。本公开旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由所附的权利要求指出。

背景技术：

1、在芯片制造过程中，受工艺偏差、电路失配以及芯片生产批次等的影响，生产出的芯片的实际特性与设计仿真过程模拟值可能存在着较大的偏差，影响芯片的输出特性。

2、为了提高芯片输出特性，可以采用对芯片中的熔丝(fuse)进行熔断的方式来进行输出特性的调整。若熔丝发生失效，则可能会熔断的质量，进而影响芯片的性能。

3、因此，如何进行熔丝失效检测成为了亟待解决的问题。

4、需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现思路

1、本公开提供一种锁存电路及熔丝失效检测方法、装置、设备及介质，至少在一定程度上克服相关技术中无法对熔丝失效进行快速检测的问题。

2、本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。

3、根据本公开的一个方面，提供了一种锁存电路，包括：

4、熔丝；

5、第一寄存模块，用于在熔丝处于第一温度环境的情况下，获取并锁存熔丝的第一熔丝数据；以及，在熔丝由第一温度环境变化至第二环境温度的情况下，将第一熔丝数据转移至第二寄存模块，以及获取并锁存熔丝的第二熔丝数据；

6、第二寄存模块，用于在熔丝由第一温度环境变化至第二环境温度的情况下，锁存所接收的第一熔丝数据；

7、信号处理模块，用于从第一寄存模块获取第一熔丝数据，从第二寄存模块获取第二熔丝数据，以及基于第一熔丝数据和第二熔丝数据是否数据相同，生成输出信号，以基于输出信号确定熔丝是否失效。

8、在一个实施例中，输出信号为第一输出信号或第二输出信号，

9、信号处理模块具体用于：

10、在第一熔丝数据和第二熔丝数据相同的情况下，生成表征熔丝未失效的第一输出信号；

11、在第一熔丝数据和第二熔丝数据不同的情况下，生成表征熔丝失效的第二输出信号。

12、在一个实施例中，信号处理模块包括异或门单元，

13、异或门单元用于：

14、在第一熔丝数据和第二熔丝数据相同的情况下，生成低电平信号，以及将低电平信号作为第一输出信号；

15、以及，在第一熔丝数据和第二熔丝数据不相同的情况下，生成高电平信号，以及将高电平信号作为第二输出信号。

16、在一个实施例中，处于第一温度环境的熔丝为基于熔断信号执行熔断工艺后的熔丝。

17、在一个实施例中，芯片测试工艺包括对应于第一温度环境的第一测试工序，以及对应于第二温度环境的第二测试工序，第一测试工序先于第二测试工序；

18、第一寄存模块，具体用于在执行第一测试工序时，获取并锁存第一熔丝数据；以及，在执行第二测试工序时，将第一熔丝数据转移至第二寄存模块，以及获取并锁存第二熔丝数据。

19、在一个实施例中，第一测试工序和第二测试工序由同一测试机台执行。

20、在一个实施例中，在熔丝的熔断工艺对应于低速工作模式的情况下，第一测试工序和第二测试工序属于芯片测试工艺中的低速阵列测试；

21、在熔丝的熔断工艺对应于高速工作模式的情况下，第一测试工序和第二测试工序属于芯片测试工艺中的高速操作测试。

22、在一个实施例中，第一寄存模块的输出端连接锁存电路所属芯片的内部电路，以将熔丝的熔丝信号传输至内部电路。

23、在一个实施例中，第一温度环境为高温环境、低温环境和常温环境中的一者；

24、第二温度环境为高温环境、低温环境和常温环境中的另一者。

25、根据本公开的另一个方面，提供一种基于锁存电路的熔丝失效检测装置，锁存电路上述任一实施例，包括：

26、信号接收模块，用于接收信号处理模块发送的输出信号；

27、失效检测模块，用于基于输出信号，确定熔丝是否失效。

28、在一个实施例中，装置还包括：

29、熔断模块，用于在熔丝失效的情况下，对熔丝重新进行熔断处理。

30、在一个实施例中，熔断模块，具体用于：

31、熔断时长获取单元，用于获取前一次熔断处理的熔断时长；

32、熔断时长处理单元，用于增大熔断时长；

33、熔断单元，用于按照增大后的熔断时长，对熔丝重新进行熔断处理。

34、在一个实施例中，熔丝的熔断时长小于熔丝的常规熔断时长。

35、根据本公开的又一个方面，提供一种基于锁存电路的熔丝失效检测方法，其特征在于，应用于上述任一实施例的锁存电路，包括：

36、第一寄存模块在熔丝处于第一温度环境的情况下，获取并锁存熔丝的第一熔丝数据；

37、在熔丝由第一温度环境变化至第二环境温度的情况下，第一寄存模块将第一熔丝数据转移至第二寄存模块进行锁存，以及获取并锁存熔丝的第二熔丝数据；

38、信号处理模块从第一寄存模块获取第一熔丝数据，从第二寄存模块获取第二熔丝数据；

39、信号处理模块基于第一熔丝数据和第二熔丝数据是否数据相同，生成输出信号，以基于输出信号确定熔丝是否失效。

40、根据本公开的再一个方面，提供一种基于锁存电路的熔丝失效检测方法，其特征在于，应用于上述任一实施例的熔丝失效检测装置，包括：

41、接收信号处理模块发送的输出信号；

42、基于输出信号，确定熔丝是否失效。

43、根据本公开的再一个方面，提供一种电子设备，包括：处理器；以及存储器，用于存储处理器的可执行指令；其中，处理器配置为经由执行可执行指令来执行上述的熔丝失效检测方法。

44、根据本公开的再一个方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述的熔丝失效检测方法。

45、根据本公开的再一个方面，提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述的熔丝失效检测方法。

46、本公开实施例所提供的锁存电路及熔丝失效检测方法、装置、设备及介质，通过第一寄存模块可以获取熔丝在第二温度环境下的第二熔丝数据，通过第一寄存模块可以获取熔丝在第一温度环境下的第一熔丝数据。利用信号处理模块对第一熔丝数据和第二熔丝数据是否相同，即可生成能够表征熔丝是否产生因温度变化导致失效的输出信号，从而基于锁存电路的输出信号即可实现对温度变化导致的熔丝失效进的快速检测。

47、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。