分析和报告准确数据使存储芯片中的多个信号同步的技术的制作方法

本公开一般涉及集成电路或半导体芯片的验证测试，并且更具体地涉及用于在验证测试期间同步并行捕获来自被测器件(dut)的信号的方法和系统。

背景技术：

1、电子设备广泛应用于诸如汽车、工业自动化、电信和计算机系统等行业。这些电子设备中的许多包括某种类型的存储器系统，以存储用于系统操作以及用于存储数据(例如用于数据采集、数据记录和无数其他应用)的固件和软件。这些存储器系统可以包括各种不同类型的存储器件中的一个或多个，这些存储器件包括动态随机存取存储器(dram)、静态随机存取存储器(sram)，以及这两种核心类型的存储器件的许多变体，例如同步dram(sdram)、双倍数据速率(ddr)sdram、四倍数据速率(qdr)sram，以及可能适合于特定应用的其他类型的存储器。这些存储器件中的许多存储器件，例如ddr sdram，利用在设备的操作期间与数据信号dq一起传送的数据选通信号(dqs)信号。数据选通信号dqs与数据信号dq的转变适当地对准，以使接收dq信号的设备能够在读取和写入操作期间正确地捕获这些信号。在读取操作期间，ddr sdram在ddr sdrm的数据总线上提供dqs和dq信号，并且耦合到数据总线的另一电子设备(例如处理器)利用dqs信号来捕获dq信号。在写入操作期间，ddrsdram接收正从处理器写入的dqs信号和dq信号，并利用dqs信号来捕获所接收的dq信号。

2、由于需要与数据选通信号dqs一起获取的多个数据信号dq，对诸如ddr sdram之类的存储器件以及利用包括数据选通信号dqs和数据信号的数据总线的其他类型的存储器件和其他类型的集成电路的测试变得复杂。被测试的器件，无论是存储器件还是其他类型的集成电路，在本说明书中都可以称为dut。现有的测试过程通常一次捕获或获取dqs信号以及捕获或获取dq信号中的一个。因此，一次仅获取一对信号，即dqs信号和一个dq信号，这增加了测试和验证dqs信号以及所有dq信号的正确操作所需的时间。例如，当前的ddr sdram可以包括三十二(32)个dq信号。该测试过程可能涉及手动将选定的dq信号连接到测试和测量仪器(如示波器)上的测试端口，从而进一步增加所需的测试时间，并且在形成与每个数据信号dq的新互连时容易出错。dqs信号的变化可能在该信号的生成的不同发生期间出现，并且因此获取当前生成的dqs信号以及dq信号中的一个的这种顺序方法可能由于顺序生成的dqs信号的变化而经历错误。例如，温度、电源电压和其他操作参数的变化可能导致测试期间顺序生成的dqs信号的变化。此外，尽管一些当前技术可以连同dqs信号一次获取多于一个的数据信号dq，但是这些技术是受限的，并且不能实现这些存储器件或其他集成电路的用户所期望的全面验证测试。

3、需要用于验证测试存储器件和其他集成电路的改进技术，以克服传统验证测试技术所经历的至少一些上述缺点。

技术实现思路

技术特征：

1.一种用于在测试和测量系统中测试被测器件(dut)的方法，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述测试信号包括多个数据信号和数据选通信号。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述测试信号包括多个命令地址信号和芯片选择信号。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述dut是双倍数据速率(ddr)存储器。

5.根据权利要求1所述的方法，其中所述多个测试和测量仪器中的每一个包括示波器。

6.根据权利要求1所述的方法，其中通过所述多个测试和测量系统同时获取由所述dut提供的所述多个测试信号还包括为所述多个测试信号中的每一个生成眼图。

7.根据权利要求6所述的方法，其中分析所获取的多个测试信号还包括为所述多个测试信号中的每一个确定所生成的眼图的眼高、眼宽和遮罩。

8.根据权利要求7所述的方法，其中同时显示所述验证测试的结果还包括显示所生成的眼图以及为所述多个测试信号中的每一个确定的眼高、眼宽和遮罩。

9.根据权利要求1所述的方法，其中同时显示所述验证测试的结果还包括针对所述多个测试信号显示所述测试信号波形是已经通过还是未通过所述验证测试的指示。

10.根据权利要求1所述的方法，其中同步所述多个测试和测量仪器包括：

11.根据权利要求10所述的方法，其中将控制信号从所述主测试和测量仪器传送到所述多个扩展测试和测量仪器中的每一个包括：

12.一种测试和测量系统，包括：

13.根据权利要求12所述的测试和测量系统，其中所述dut是双倍数据速率(ddr)存储器。

14.根据权利要求13所述的测试和测量系统，其中所述测试信号包括多个数据信号和数据选通信号。

15.根据权利要求13所述的测试和测量系统，其中所述测试信号包括多个命令地址信号和芯片选择信号。

16.根据权利要求12所述的测试和测量系统，其中所述多个测试和测量仪器中的每一个包括示波器。

17.根据权利要求12所述的测试和测量系统，其中所述自动化引擎被配置为针对所获取的多个测试信号中的每一个生成眼图。

18.根据权利要求17所述的测试和测量系统，其中所述自动化引擎被配置为确定用于所述多个测试信号的所生成的眼图的眼高、眼宽和遮罩。

19.一种测试和测量系统，包括：

20.根据权利要求19所述的测试和测量系统，其中所述主测试和测量仪器被配置为传送控制信号，所述控制信号包括：

技术总结一种测试和测量系统，包括多堆栈测试子系统，该多堆栈测试子系统包括多个测试和测量仪器，每个仪器耦合到被测器件(DUT)以在操作的测试模式期间从DUT接收多个测试信号。一个测试和测量仪器被指定为主仪器，其余被指定为扩展测试和测量仪器。主仪器将控制信号传送到每个扩展仪器以同步测试和测量仪器，从而同时获取由DUT提供的多个测试信号。自动化引擎耦合到多堆栈测试子系统，以从主仪器接收所获取的多个测试信号，并且自动化引擎分析所获取的测试信号，以对多个测试信号中的每一个执行验证测试，并且同时显示对多个测试信号的验证测试的结果。技术研发人员：S·贾瓦尔,C·S·卡帕甘图,M·G·拉克希米巴希,S·曼迪亚姆 克里希纳库马尔受保护的技术使用者：特克特朗尼克公司技术研发日：技术公布日：2024/6/18