测试装置和其测试方法与流程

本发明大体上涉及一种测试装置和其测试方法，且更确切地说，涉及用于测试存储器装置的错误校正和检验(error correction and checking；ecc)计数器的测试方法。

背景技术：

1、在常规技术中，动态随机存取存储器(dynamic random access memory；dram)实施新功能，诸如错误校正和检验(ecc)和错误校正清除(error correction scrub；ecs)。校验这些新功能对于dram制造商和消费者是一种挑战。

2、在dram中，在检测到给出行上的多于一个错误之后，ecc计数器(每行错误计数器)增加给定行上的码字错误的数量。

3、ecc计数器在每一列地址换行时复位。将每一行的码字错误计数与先前码字错误计数进行比较以来决定dram内具有最高错误计数的行地址。在读取行上的所有码字之后，将所计数的错误的数量与来自前一行的错误的数量进行比较。如果前一行错误计数小于当前行错误计数，则将当前较大错误计数保存到先前较高错误计数寄存器，将其相关联的地址保存到先前较高错误计数行/组地址/组群寄存器，且清除当前行错误计数器。如果前一行错误计数大于当前行错误计数，则前一行错误计数和寄存器值保持不变，但是清除当前行错误计数器。

技术实现思路

1、本发明提供一种测试装置和其测试方法，所述测试方法用于测试存储器装置的错误校正和检验(ecc)计数器。

2、测试装置方法包含：使存储器装置的所选存储器行成为受害行；对存储器装置执行多个错误校正清除(ecs)操作；读取多个模式寄存器以获得所记录的受害行的地址；以及将所记录的受害行的地址与所选存储器行的地址进行比较以产生测试结果。

3、测试装置包含控制器。控制器配置以：使存储器装置的所选存储器行成为受害行；对存储器装置执行多个错误校正清除(ecs)操作；读取多个模式寄存器以获得所记录的受害行的地址；以及将所记录的受害行的地址与所选存储器行的地址进行比较以产生测试结果。

4、总体而言，本公开通过由行锤效应使所选存储器行成为受害行来提供测试装置。测试装置进一步对存储器装置执行多个错误校正清除(ecs)操作，且通过将所记录的受害行的地址与所选行的地址进行比较来测试存储器装置的ecc计数器。

5、为了使前述内容更容易理解，如下详细描述伴有附图的若干实施例。

技术特征：

1.一种用于测试存储器装置的错误校正和检验(ecc)计数器的测试方法，包括：

2.根据权利要求1所述的用于测试存储器装置的错误校正和检验计数器的测试方法，其中使所述存储器装置的所述所选存储器行成为所述受害行的步骤包括：

3.根据权利要求2所述的用于测试存储器装置的错误校正和检验计数器的测试方法，其中通过所述乒乓行锤效应使所述存储器装置的所述所选存储器行成为所述受害行的步骤包括：

4.根据权利要求1所述的用于测试存储器装置的错误校正和检验计数器的测试方法，其中对所述存储器装置执行所述多个ecs操作的步骤包括：

5.根据权利要求4所述的用于测试存储器装置的错误校正和检验计数器的测试方法，其中所述n由所述存储器装置的密度来决定。

6.根据权利要求1所述的用于测试存储器装置的错误校正和检验计数器的测试方法，其中读取所述多个模式寄存器以获得所述所记录的受害行的所述地址的步骤包括：

7.根据权利要求6所述的用于测试存储器装置的错误校正和检验计数器的测试方法，其中所述第一模式寄存器、所述第二模式寄存器以及所述第三模式寄存器记录所述所记录的受害行的行地址，所述第三寄存器记录所述所记录的受害行的组群地址和组地址。

8.根据权利要求1所述的用于测试存储器装置的错误校正和检验计数器的测试方法，其中将所述所记录的受害行的所述地址与所述所选存储器行的所述地址进行比较以产生所述测试结果的步骤包括：

9.一种测试装置，耦接到用于测试错误校正和检验(ecc)计数器的存储器装置，所述测试装置包括：

10.根据权利要求9所述的测试装置，其中所述控制器进一步配置以：

11.根据权利要求10所述的测试装置，其中所述控制器进一步配置以：

12.根据权利要求9所述的测试装置，其中所述控制器进一步配置以：

13.根据权利要求12所述的测试装置，其中所述n由所述存储器装置的密度来决定。

14.根据权利要求9所述的测试装置，其中所述控制器进一步配置以：

15.根据权利要求14所述的测试装置，其中所述第一模式寄存器、所述第二模式寄存器以及所述第三模式寄存器记录所述所记录的受害行的行地址，所述第三寄存器记录所述所记录的受害行的组群地址和组地址。

16.根据权利要求9所述的测试装置，其中所述控制器进一步配置以：

技术总结本发明提供一种存储器装置及其存储方法。存储器装置包含：数据阵列、奇偶校验阵列以及错误校正和检验(ECC)电路。ECC电路耦接到数据阵列和奇偶校验阵列。在第一测试模式中，禁用ECC电路的ECC功能，且在第二测试模式中，ECC电路直接存取奇偶校验阵列以通过奇偶校验阵列读取或写入奇偶校验信息。技术研发人员：陈均达受保护的技术使用者：南亚科技股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/3/4